「試験部」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

部品試験装置および試験方法例文帳に追加

PARTS TESTING DEVICE AND PARTS TESTING METHOD - 特許庁

試験用電子部品搬送媒体、電子部品試験装置および試験方法例文帳に追加

CONVEYANCE MEDIUM FOR ELECTRONIC COMPONENT TO BE TESTED, ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE, AND METHOD OF TESTING - 特許庁

試験の筆記部分例文帳に追加

the written part of the exam  - 日本語WordNet

試験の一部免除例文帳に追加

Partial Exemption from Examination  - 日本法令外国語訳データベースシステム

電子部品試験用治具例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING TOOL - 特許庁

部材強度試験装置例文帳に追加

APPARATUS FOR TESTING STRENGTH OF MEMBER - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC PART TESTER - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TEST APPARATUS - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC PARTS TEST DEVICE - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC PART TESTING DEVICE - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

試験用建具保持部材例文帳に追加

FITTING HOLDING MEMBER FOR TEST - 特許庁

電子部品の試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTER - 特許庁

制御部の試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR CONTROL PART - 特許庁

電子部品試験台例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TEST STAND - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE - 特許庁

電子部品の試験方法例文帳に追加

TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

TEST DEVICE FOR ELECTRONIC PARTS - 特許庁

電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS - 特許庁

探傷試験装置、探傷試験方法及び探傷試験用シート部材例文帳に追加

FLAW DETECTION TESTER, FLAW DETECTION TESTING METHOD AND SHEET MEMBER FOR FLAW DETECTION TEST - 特許庁

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。例文帳に追加

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20. - 特許庁

被試験メモリの試験を被試験メモリの容量よりも少ない内部メモリで試験する。例文帳に追加

To perform a memory test using an internal memory with smaller capacity than that of a memory under test. - 特許庁

電子部品試験方法及び電子部品試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS - 特許庁

電子部品試験装置および電子部品試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD - 特許庁

内部バス試験装置及び内部バス試験方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTERNAL BUS - 特許庁

電子部品試験装置および電子部品の試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS AND ITS TESTING METHOD - 特許庁

電子部品の試験方法および電子部品試験装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS - 特許庁

電子部品試験装置および電子部品の試験方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

電子部品の試験装置用部品及び試験方法例文帳に追加

COMPONENT FOR TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND TEST METHOD - 特許庁

電子部品試験装置および電子部品の試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC PART TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART - 特許庁

水圧試験という,水圧を受ける部品の耐久試験例文帳に追加

a durability test of components receiving water pressure, called {hydraulic test}  - EDR日英対訳辞書

文部省教員検定試験という,検定試験例文帳に追加

a license examination called a teacher's license examination of the Ministry of Education  - EDR日英対訳辞書

外部試験補助装置および半導体装置の試験方法例文帳に追加

EXTERNAL TEST AUXILIARY DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体部品の試験方法および試験装置例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR COMPONENT - 特許庁

電子部品の試験方法および試験装置例文帳に追加

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

排気系部材の加熱試験装置及び加熱試験方法例文帳に追加

HEATING TEST DEVICE OF EXHAUST SYSTEM MEMBER AND HEATING TEST METHOD THEREOF - 特許庁

履帯部品の摩耗試験方法および摩耗試験装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ABRASION TEST OF CRAWLER COMPONENT - 特許庁

電子部品基板の試験装置および試験方法例文帳に追加

TEST DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE - 特許庁

電子部品基板の試験装置および試験方法例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE AND TESTING METHOD THEREFOR - 特許庁

棒鋼部材の引抜抵抗試験装置およびその試験方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING BAR STEEL MEMBER FOR WITHDRAWING RESISTANCE - 特許庁

半導体部品の試験方法及び試験装置例文帳に追加

TESTING METHOD AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT - 特許庁

電子部品の試験方法及び試験装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁

電子部品の温度試験方法及び温度試験装置例文帳に追加

TEMPERATURE TEST METHOD AND TEMPERATURE TEST DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT - 特許庁