試験領域の英語

リペアブロックをエリア領域毎に有する被試験メモリの試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device which can shorten a testing time of a memory to be tested having a repair block for each area domain. - 特許庁

製造が容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a time domain reflection factor meter-testing device that is easy to manufacture, is inexpensive, and can test a matching impedance test point. - 特許庁

少なくとも20の実質的に同一の試験領域を含む表面であり、各試験領域には包括的アンカー分子のアレイが含まれる。例文帳に追加

A surface comprising at least 20 substantially identical test regions, wherein each of the test regions comprises an array of generic anchor molecules is provided. - 特許庁

マッチモード機能を利用した複数ＤＵＴの同時測定において、試験済のアドレス領域を重複試験しないで効率的なデバイス試験方法を実現する半導体試験装置の試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test method for a semiconductor test device realizing an efficient device test method without testing doubly an address region already tested, in simultaneous measurement of plural DUT(device to be tested) utilizing a matched mode function. - 特許庁

本発明のコンビネーションは試験領域複数を有する表面を含む。例文帳に追加

A combination includes a surface having a plurality of test regions. - 特許庁

転写領域均一性マップを用いた印刷装置の試験転写ニップ例文帳に追加

TESTING TRANSFER NIP OF PRINTING DEVICE USING TRANSFER FIELD UNIFORMITY MAP - 特許庁

埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EMBEDDED-TYPE TIME DOMAIN REFLECTIVITY - 特許庁

本発明の組合せには、多数の試験領域、少なくとも2つ、そして、好ましい実施態様では、少なくとも20の実質的に同一の試験領域を含む表面であり、各試験領域には包括的アンカー分子のアレイが含まれる。例文帳に追加

A combination comprises a surface, which comprises a plurality of test regions, at least two of which, and in a preferred embodiment, at least twenty of which, are substantially identical, wherein each of the test regions comprises an array of generic anchor molecules. - 特許庁