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過渡プロセスの英語
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英訳・英語 transient processes
「過渡プロセス」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 7件
過渡事象記録サーバ20は、時刻品質判定付きプロセスデータ受信処理部205を備える。例文帳に追加
A transient phenomenon recording server 20 includes a time-quality determined process data reception processing part 205. - 特許庁
時刻同期が保障されている正常なプロセスデータのみを収集し、表示できる過渡事象記録装置及びその記録方法を提供する。例文帳に追加
To provide a transient phenomenon recording device and recording method, which collect and display only normal process data guaranteed with time synchronization. - 特許庁
別の実施態様によれば、熱サイクルは、基体10及び緻密化されためっき16を少なくとも無電解ニッケルめっきの融解温度に加熱する過渡的液相焼結プロセスを含む。例文帳に追加
According to another embodiment, the thermal cycle includes a transient liquid phase sintering process wherein the substrate 10 and the densified plating 16 are heated at least to the melting temperature of the electroless nickel plating. - 特許庁
プロセス圧縮機プラントのシミュレーションモデルによる圧縮機過渡運転状態のシミュレーションと弁容量係数サイジング公式の組み合わせにより、高精度なアンチサージ弁サイジングが可能となる装置を提供する。例文帳に追加
To provide an apparatus capable of highly accurate anti-surge valve sizing by the combination of the simulation of a compressor transient operation state by the simulation model of a process compressor plant and a valve capacity coefficient sizing formula. - 特許庁
このプロセスフローは、浮遊ボディ効果を緩和するように直接ボディ・タイ・コンタクト222を提供するが、臨界的なアライメント要求ならびにレイアウトの臨界的な寸法制御なしで、非直接ボディ・タイ・コンタクトに共通のヒステリシスおよび過渡アップセット効果をも除去する。例文帳に追加
This process flow provides a direct body tie contact 222 to mitigate floating body effects but also eliminates hysteresis and transient upset effects common in non-direct body tie contact configurations, without the critical alignment requirements and critical dimension control of the layout. - 特許庁
評価点作成手段16により、表示手段14に表示されたプロセス信号のトレンドグラフに対する評価点が指定されたときは、評価手段15は評価点作成手段16により指定された評価点に対して過渡現象の評価を行い評価結果を出力する。例文帳に追加
When an evaluation point generating means 16 specifies an evaluation point in a trend graph of a process signal displayed by a display means 14, an evaluating means 15 evaluates a transient phenomenon as to the evaluation point specified by the evaluation point generating means 16 and outputs the evaluation result. - 特許庁
さらに従来方式では難しかった微小領域を測定するための高分解能プローブのアレイ化についても半導体プロセスを用いることで、本装置では容易に実現することができ、一次元アレイ化によって測定の高速化、過渡的な磁界分布測定等、より詳しい解析を行うことを可能とした。例文帳に追加
Moreover, arraying of high-resolution probes for measuring a minute area, which is difficult in a conventional system, is easily performed by using a semiconductor process, and more detailed analysis, such as accelerating of measurement, and measurement of transient magnetic-field distribution, becomes available with one-dimensional arraying. - 特許庁
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transient processes
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