配向分布関数の英語

これによって，配向密度分布関数ρを決定でき，配向度を定量的に評価できる。例文帳に追加

As a result, the orientation density distribution function ρ can be determined, and the degree of orientation can be quantitatively evaluated. - 特許庁

一方，薄膜の配向密度分布関数ρを考慮して理論ロッキングカーブを計算する。例文帳に追加

While, a theoretical rocking curve is computed considering an orientation density distribution function ρ of the thin film. - 特許庁

回折面法線分布関数Ｐ（φ）として，配向密度分布関数を周期化し，かつ，重ね合わせたものを用いることにより，この回折面法線密度分布関数Ｐに基づいて理論的な回折Ｘ線強度分布を計算すると，そのロッキングカーブは，現実の回折現象を良く反映したものになる。例文帳に追加

When a theoretical diffraction X-ray intensity distribution is calculated based on a diffraction surface normal distribution function P by using overlapped orientation density distribution functions to which periodicity is given as the diffraction surface normal distribution function P(ϕ), its rocking curve reflects excellently an actual diffraction phenomenon. - 特許庁

一方，配向密度分布関数ρに基づいて理論的な回折Ｘ線強度を計算し，理論ロッキングカーブが測定ロッキングカーブに最も近づくように配向密度分布関数の特性パラメータを求める。例文帳に追加

In the mean time, theoretical diffraction X ray intensity is calculated based on the orientation density distribution function ρ, and the characteristic parameter of the orientation density distribution function is obtained so that the theoretical rocking curve approaches the measurement rocking curve most. - 特許庁

多結晶試料１２の表面の法線方向のまわりに軸対称となる配向密度分布関数ρを仮定する。例文帳に追加

An axisymmetric orientation density distribution function ρ is assumed around a normal direction to the surface of a polycrystalline material 12. - 特許庁

配向密度分布関数に適切な周期性をもたせて，かつ，回折面の対称性を考慮することで，傾斜角度φが大きいところでも，多結晶材料の配向性の定量評価の信頼性を高める。例文帳に追加

To heighten reliability of quantitative evaluation of orientation of a polycrystal material even having a large tilt angle ϕ, in consideration of symmetry of a diffraction surface with an orientation density distribution function having proper periodicity. - 特許庁

既知の膜厚の標準試料についてあらかじめ求めておいたスケール因子を用いて，配向密度分布関数ρの特性パラメータと，薄膜の膜厚ｔとを変化させて，理論ロッキングカーブが測定ロッキングカーブに最も合致するように，パラメータフィッティングを実施し，これによって膜厚ｔを決定する。例文帳に追加

Using a scale factor found beforehand concerning a standard substance of an already-known film thickness, parameter fitting is performed so that the theoretical rocking curve may coincide most with a measured rocking curve, by changing the characteristic parameters of the distribution function ρ and the thickness (t) of the thin film, and consequently the film thickness (t) is determined. - 特許庁