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N filmとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 N被膜
「N film」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 2576件
{(GM)n(MG)n}m...(I) and {(MM)n (2 M)(GM)n})m...(II) (where, m and n denote natural number and the film thicknesses of respective G and respective M are assumed to be equal).例文帳に追加
{(GM)^n(MG)^n}^m ・・・(I) {(MG)^n(2M)(GM)^n}^m ・・・(II) (但し、m、nは自然数を表し、各G、各Mの膜厚は等しいものとする) - 特許庁
n-TYPE ZnS SEMICONDUCTOR THIN FILM例文帳に追加
n型ZnS半導体薄膜 - 特許庁
An insulating film N+1 is thereafter formed on the insulating film N.例文帳に追加
その後、絶縁膜Nの上に絶縁膜N+1を形成する。 - 特許庁
N-TYPE INORGANIC SEMICONDUCTOR, N-TYPE INORGANIC SEMICONDUCTOR THIN FILM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
n型無機半導体、n型無機半導体薄膜及びその製造方法 - 特許庁
To improve the corrosion abrasion property of a Cr-N based ion plating coating film.例文帳に追加
Cr-N系イオンプレーティング皮膜の腐食摩耗特性を改良する。 - 特許庁
The SiO2 film 20 is removed and the n-InGaP etching barrier layer 17 on a groove bottom face is etched.例文帳に追加
SiO_2膜20を除去し、溝底面のn-InGaPエッチング阻止層17をエッチングする。 - 特許庁
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「N film」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 2576件
The resist film, silicon nitride film N and sacrifice film G are removed (Fig.7(h)).例文帳に追加
レジスト膜、シリコン窒化膜N及び犠牲膜Gを除去する(図7(h))。 - 特許庁
The film thickness of the organic compound layer satisfies a relationship of the following equation (1): d_1<d_2< ..., <d_n, wherein d_1 denotes the film thickness of a first organic compound layer, d_2 denotes the film thickness of a second organic compound layer, and d_n denotes the film thickness of an n-th organic compound layer.例文帳に追加
d_1<d_2<・・・<d_n (1)(式(1)において、d_1は、第1有機化合物層の膜厚を表す。d_2は、第2有機化合物層の膜厚を表す。d_nは、第n有機化合物層の膜厚を表す。) - 特許庁
Both the (Ga, Mn)N thin film 11 and the (Ga, Mn)_2O_3 thin film 12 are a p-type semiconductor exhibiting ferromagnetism.例文帳に追加
(Ga, Mn)N薄膜11と(Ga, Mn)_2O_3薄膜12は共にp型半導体であって強磁性を示す。 - 特許庁
The Si/N ratio of the gate silicon nitride film 16 is set higher than the Si/N ratio of the interlayer silicon nitride film 26.例文帳に追加
ゲート窒化シリコン膜16のSi/N比を層間窒化シリコン膜26のSi/N比より高くする。 - 特許庁
n-CHANNEL THIN-FILM TRANSISTOR, METHOD OF MANUFACTURING THE n-CHANNEL THIN-FILM TRANSISTOR, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加
nチャネル型薄膜トランジスタ、nチャネル型薄膜トランジスタの製造方法および表示装置 - 特許庁
Each superconducting wire rod layer is formed by winding around a thin-film wire rod 120 at a winding radius of R_(n)(m) and a winding pitch of P_(n)(m).例文帳に追加
各超電導線材層は、薄膜線材120を巻き付け半径R_(n)(m)、巻き付けピッチP_(n)(m)で巻回することで形成されている。 - 特許庁
FORMING METHOD OF ORGANIC ZINC OXIDE FILM, N-TYPE CONDUCTIVE FILM AND P-TYPE CONDUCTIVE FILM USING THE FILM例文帳に追加
有機酸化亜鉛膜、ならびにそれを用いたn型導電膜およびp型導電膜の形成方法 - 特許庁
B-N BASED FILM, AMMONIUM BORATE FILM AND SLIDING MEMBER例文帳に追加
B−N系皮膜、ホウ酸アンモニウム皮膜及び摺動部材 - 特許庁
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