Quantitative Analysesとは 意味・読み方・使い方

To provide a chromatography analytical method and chromatography analytical kit capable of high-sensitivity analyses and enhancement of quantitative performance by controlling sensing variations.例文帳に追加

高感度な分析が可能で、センシングのバラツキを抑制して定量性も向上することが可能なクロマト分析法及びクロマト分析キットを提供する。 - 特許庁

To allow for polymorphism quantitative analyses of a product mixed with a diluent or excipient and a product contained in a plastic container etc.例文帳に追加

希釈剤あるいは賦形剤と混合された製品やプラスチック容器などに包装された製品における多形の定量定性分析を可能とする。 - 特許庁

To provide an analyzing method capable of accurately and rapidly performing qualitative and quantitative analyses of micro additives added to a resin composition.例文帳に追加

樹脂組成物中に微量に添加される添加物の定性・定量分析を高精度で、しかも、迅速に行うことができる分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a preparative procedure of samples for quantitative analyses of hexavalent chromium capable of determining quantity correctly only hexavalent chromium contained in cathode active material for lithium secondary batteries.例文帳に追加

リチウム２次電池用正極活物質に含まれる６価クロムのみを正確に定量することが可能な、６価クロムの定量分析用試料の調製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescent X-ray analysis method which performs high-sensitivity qualitative analyses and high-accuracy quantitative analysis of elements contained in a solid sample, only by carrying out simple pretreatments.例文帳に追加

簡単な前処理だけで固体試料に含まれる元素の高感度な定性分析又は高精度な定量分析を可能とする蛍光Ｘ線分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method for carrying out qualitative and quantitative analyses of Cu included in a silicon epitaxial wafer at high sensitivity; and a manufacturing method capable of providing a silicon epitaxial wafer having an excellent GOI characteristic.例文帳に追加

シリコンエピタキシャルウェーハに含まれるＣｕの定性、定量分析を高感度に行うための評価方法、及び、優れたＧＯＩ特性をもつシリコンエピタキシャルウェーハを得ることができる製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In a third step, the solidified product 8 is removed from the sample base 2, and qualitative and quantitative analyses of the PCB are carried out for the residuary liquid matter 9 on the sample base 2 as an object to be analyzed by using a time-of-flight secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

本発明の第三工程では、試料台２から上記固形化物８を取り除き、試料台２上の液体残渣物９を対象として飛行時間型二次イオン質量分析法によりＰＣＢの定性分析および定量分析を行う。 - 特許庁

To provide a probe coupling substrate and its manufacturing method, capable of easily analyzing probes, as well as minimizing loss in sampling inspection, to enable quick and inexpensively detection and quantitative analysis of a target matter, when using various surface analyses, and to provide a method for quantitatively analyzing the target matter in a specimen quickly and inexpensively.例文帳に追加

各種表面分析法を用いた場合に、プローブの分析を問題なく行なえ、抜き取り検査でのロスが最小限であり、標的物質の検出や定量を迅速かつ安価に行なえるプローブ結合基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁