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analyzing patternとは 意味・読み方・使い方
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「analyzing pattern」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 206件
PATTERN ANALYZING METHOD UTILIZING FOURIER TRANSFORMATION例文帳に追加
フーリエ変換を用いた縞解析方法 - 特許庁
DEFECTIVE PATTERN ANALYZING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体記憶素子の不良パターン解析方法 - 特許庁
INTERFERENCE PATTERN ANALYSIS METHOD, INTERFERENCE PATTERN ANALYZING PROGRAM AND RECORD MEDIUM例文帳に追加
干渉縞解析方法、干渉縞解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁
VIDEO MOTION PATTERN ANALYZING DEVICE, AND METHOD AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加
映像動きパターン解析装置、その方法及びプログラム - 特許庁
TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁
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「analyzing pattern」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 206件
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING DIFFRACTION PATTERN例文帳に追加
回折パターンの解析方法、及び回折パターンの解析装置 - 特許庁
PROGRAM PATTERN ANALYZING DEVICE, PATTERN APPEARANCE STATUS INFORMATION PRODUCTION METHOD, PATTERN INFORMATION GENERATION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
プログラムパターン分析装置、パターン出現状況情報生産方法、パターン情報生成装置、およびプログラム - 特許庁
PROGRAM PATTERN ANALYZING DEVICE, PATTERN APPEARANCE STATUS INFORMATION PRODUCTION METHOD, PATTERN INFORMATION CREATION DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加
プログラムパターン分析装置、パターン出現状況情報生産方法、パターン情報生成装置、およびプログラム - 特許庁
METHOD OF ANALYZING ERRORS OF EXPOSED POSITION, PATTERN FOR ANALYZING ERRORS OF EXPOSED POSITION, EXPOSURE MASK, AND EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
露光位置精度解析方法、露光位置精度解析用パターン、露光マスク、および露光装置 - 特許庁
APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT例文帳に追加
表面欠陥の分布形態解析装置、方法、及びプログラム - 特許庁
The detection of a communication mode is achieved by analyzing a start pattern from the communication frame pattern.例文帳に追加
通信モードの検出は、通信フレームパターンのうちのスタートパターンを分析することによって達成される。 - 特許庁
SUGAR CHAIN FRAGMENTATION PATTERN ANALYZER AND ANALYZING METHOD例文帳に追加
糖鎖断片化パターン解析装置および糖鎖断片化パターン解析方法 - 特許庁
TEST PATTERN PRODUCING DEVICE, SIMULATION RESULT ANALYZING DEVICE AND LSI SIMULATING SYSTEM例文帳に追加
テストパターン発生装置、シミュレーション結果解析装置およびLSIシミュレーションシステム - 特許庁
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