delay faultとは 意味・読み方・使い方

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

To provide a scan flip-flop capable of applying two patterns for delay fault test during delay fault test.例文帳に追加

遅延故障試験時に遅延故障試験用の２パタンを印加可能とするスキャンフリップフロップを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a delay fault simulation method capable of evaluating the quality of a delay fault test sequence with a higher precision.例文帳に追加

遅延故障検査系列の品質をより高精度に評価することのできる遅延故障シミュレーション方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND DELAY FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその遅延故障テスト方法 - 特許庁

To surely detect a delay fault of a circuit provided with a storage element.例文帳に追加

記憶素子を備える回路の遅延故障を確実に検出する。 - 特許庁

A fault detection rate calculating circuit 8 calculates the fault detection rate of the test pattern from the results of unit-delay simulation and full-delay fault simulation and outputs it to an output file.例文帳に追加

故障検出率計算回路８は、ユニット遅延シミュレーションおよびフル遅延故障シミュレーションの結果によりテストパタンの故障検出率を計算して出力ファイルに出力する。 - 特許庁

To reduce a time for testing delay fault of a memory peripheral circuit.例文帳に追加

メモリ周辺回路に対する遅延故障テストの時間を削減すること。 - 特許庁

To provide a delay fault detection circuit that can reliably detect a delay fault in a test circuit adopting a scan test method.例文帳に追加

スキャンテスト方式を採用するテスト回路において、遅延性故障を確実に検出することができる遅延性故障検出回路を提供する。 - 特許庁