electron spectroscopy analysisとは 意味・読み方・使い方

In this material, there is only a peak derived from carbon-carbon bonding within 280 to 300 eV in an element analysis by an ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis).例文帳に追加

ＥＳＣＡによる元素分析で２８０〜３００ｅＶの間に炭素−炭素結合に由来するピークのみが存在する負極用炭素質材料。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

A sample is pulverized, and resulting pulverized powder 1 is used for analysis in a state that the powder 1 is embedded into a conductive material 2, in a energy spectral analysis method of a charged particle where energy of the charged particle is dispersed into its spectral components in an Auger electron spectroscopy or an X-ray electron spectroscopy to be measured.例文帳に追加

オージェ電子分光法又はＸ線電子分光法の如く荷電粒子をエネルギー分光し、測定する荷電粒子エネルギー分光分析方法において、試料を粉砕し、この試料粉砕物１を導電性物質２に埋め込んだ状態で分析に供することを特徴とする、荷電粒子エネルギー分光分析方法。 - 特許庁

The polysulfone-based microfiltration membrane containing polyvinylpyrrolidone has an abundance ratio of a nitrogen atom to a carbon atom (N/C) of 0.056 or higher measured by the ESCA (electron spectroscopy for chemical analysis) method in the surface.例文帳に追加

ＥＳＣＡ法で測定したポリビニルピロリドンを含有するポリスルホン系精密ろ過膜表面の窒素原子と炭素原子の存在比Ｎ／Ｃが０．０５６以上であるポリスルホン系精密ろ過膜。 - 特許庁

When a conductive foreign substance removal probe is used, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

導電性の異物除去探針の場合にはオージェ電子分光法または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁

When the substance is gathered on a conductive pattern by a foreign substance removal probe, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

異物除去探針で導電性のパターン上に集めた場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁

A toner image is formed using a low-temperature fixable toner having a softening point of 90-120°C in such a way as to adjust the coefficient of dynamic friction of the toner image to 0.1-0.3 and the occupying areas of carbon and oxygen by ESCA (electron spectroscopy for chemical analysis) surface analysis to 70-90% and 6-12%, respectively.例文帳に追加

軟化点が９０℃〜１２０℃の範囲の低温定着対応したトナーを用いてトナー画像を形成し、該トナー画像の動摩擦係数を０．１〜０．３、ＥＳＣＡ表面分析による炭素の占有面積を７０％〜９０％、酸素の占有面積を６％〜１２％以下とする画像形成方法。 - 特許庁