fault testとは 意味・読み方・使い方

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND DELAY FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその遅延故障テスト方法 - 特許庁

SELF-DIAGNOSTIC LOGICAL CIRCUIT AND DYNAMIC FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

自己診断型論理回路及びその動的故障テスト方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR FAULT TEST AND RECORDING MEDIUM WHERE FAULT TESTING METHOD IS RECORDED例文帳に追加

障害試験装置及び障害試験方法及び障害試験方法を記録した記録媒体 - 特許庁

TEST METHOD FOR DETECTING LOCALITY FAULT ON SEMICONDUCTOR WAFER AND TEST SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

半導体ウエハ上の局所性不良を検出するテスト方法及びこれを用いるテストシステム - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

SOFTWARE FAULT MANAGEMENT DEVICE, TEST MANAGEMENT DEVICE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ソフトウェアの障害管理装置、テスト管理装置、ならびにそれらのプログラム - 特許庁

When receiving an error frame, a fault monitor section A11 makes a test request to a test control section A12.例文帳に追加

障害監視部Ａ１１はエラーフレームを受信すると、試験制御部Ａ１２に試験要求を行う。 - 特許庁

MEDIA CONVERTER HAVING TEST MANGER, AND FAULT DETECTION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

テストマネージャ付きメディアコンバータ、障害検出システムおよび障害検出方法 - 特許庁