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fault testとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 故障試験
「fault test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 199件
DIGITAL CONTROL SOFTWARE FAULT SIMULATION TEST DEVICE例文帳に追加
ディジタル制御ソフト故障模擬テスト装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR FAULT TEST AND RECORDING MEDIUM WHERE FAULT TESTING METHOD IS RECORDED例文帳に追加
障害試験装置及び障害試験方法及び障害試験方法を記録した記録媒体 - 特許庁
To relieve not only initial fault caused in a test but one part of accidental fault and abrasion fault caused in a user.例文帳に追加
検査において発生する初期故障だけでなく、ユーザにおいて発生する偶発故障や磨耗故障の一部を救済することを目的とする。 - 特許庁
To provide a delay fault detection circuit that can reliably detect a delay fault in a test circuit adopting a scan test method.例文帳に追加
スキャンテスト方式を採用するテスト回路において、遅延性故障を確実に検出することができる遅延性故障検出回路を提供する。 - 特許庁
To provide a scan flip-flop capable of applying two patterns for delay fault test during delay fault test.例文帳に追加
遅延故障試験時に遅延故障試験用の２パタンを印加可能とするスキャンフリップフロップを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an information terminal test apparatus and an information terminal test system whereby a fault status of an information terminal can be obtained before a person is dispatched to a fault site.例文帳に追加
故障現場へ行く前に情報端末の故障状態を把握できる、情報端末試験装置及び情報端末試験システムを提供する。 - 特許庁
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「fault test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 199件
DELAY FAULT TEST QUALITY CALCULATING DEVICE AND METHOD, AND DELAY FAULT TEST PATTERN GENERATING DEVICE例文帳に追加
遅延故障テスト品質算出装置、遅延故障テスト品質算出方法、及び遅延故障テストパターン発生装置 - 特許庁
TEST METHOD FOR DETECTING LOCALITY FAULT ON SEMICONDUCTOR WAFER AND TEST SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加
半導体ウエハ上の局所性不良を検出するテスト方法及びこれを用いるテストシステム - 特許庁
When receiving an error frame, a fault monitor section A11 makes a test request to a test control section A12.例文帳に追加
障害監視部Ａ１１はエラーフレームを受信すると、試験制御部Ａ１２に試験要求を行う。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND DELAY FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体集積回路装置及びその遅延故障テスト方法 - 特許庁
SELF-DIAGNOSTIC LOGICAL CIRCUIT AND DYNAMIC FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加
自己診断型論理回路及びその動的故障テスト方法 - 特許庁
SOFTWARE FAULT MANAGEMENT DEVICE, TEST MANAGEMENT DEVICE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加
ソフトウェアの障害管理装置、テスト管理装置、ならびにそれらのプログラム - 特許庁
When any fault takes place, the host cannot normally receive the test data.例文帳に追加
障害が起こっているとホストは、試験用データを正常に受信できない。 - 特許庁
OPTICAL MEDIA CONVERTER DEVICE AND FAULT ISOLATION TEST METHOD例文帳に追加
光メディアコンバータ装置および障害切り分け試験方法。 - 特許庁
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