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in-circuit testingとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 インサーキット試験
「in-circuit testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 460件
HIGH-VOLTAGE GROUND FAULT RELAY TESTING CIRCUIT WITH BUILT-IN GROUND FAULT TESTING CIRCUIT例文帳に追加
地絡試験回路内蔵高圧地絡継電器試験回路 - 特許庁
TESTING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TESTING CIRCUIT BUILT IN, AND TESTING METHOD例文帳に追加
テスト回路、そのテスト回路を内蔵した半導体集積回路装置、及びそのテスト方法 - 特許庁
To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加
カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁
COMPARATOR CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置におけるコンパレータ回路 - 特許庁
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「in-circuit testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 460件
BURN-IN TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のバーンイン試験装置 - 特許庁
BURN-IN TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATION CIRCUIT, AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体集積回路のバーインテスト回路およびその方法 - 特許庁
BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のバーンイン試験方法 - 特許庁
TEMPERATURE CORRECTING CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置における温度補正回路 - 特許庁
METHOD OF TESTING LVDS RECEIVER WITH BUILT-IN INTEGRATED CIRCUIT, TESTING CIRCUIT THEREOF AND TESTER THEREOF例文帳に追加
ＬＶＤＳレシーバ内蔵集積回路のテスト方法、その検査回路およびそのテスト装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING BUILT-IN ANALOGUE CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路および内蔵アナログ回路テスト方法 - 特許庁
To shorten total testing time, in the testing of a circuit to be tested.例文帳に追加
被試験回路をテストする場合の総合的なテスト時間を短縮する。 - 特許庁
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