method by measuring pointとは 意味・読み方・使い方

To provide an osmotic pressure measuring method by a freezing point depressing method for accurately measuring the osmotic pressure of a sample liquid with good reproducibility by a simple structure reduced in energy consumption, and an osmotic pressure measuring instrument.例文帳に追加

簡易且つエネルギー消費の少ない構造で、再現性良く正確に試料液の浸透圧を測定できる氷点降下法による浸透圧測定方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a calibration device and a straight form measuring device which can rapidly, accurately and simply realize a zero point calibration of an angle two point method probe by maintaining a robustness to an environment of the angle two point method.例文帳に追加

角度２点法プローブのゼロ点校正を角度２点法の環境に対するロバスト性を維持しながら、迅速に、精度よく、かつ簡便に実現できる校正装置及び真直形状測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elastic modulus measuring method capable of precisely measuring bending elastic modulus by reducing the error of a measuring system in the measurement of the bending elastic modulus due to a three-point bending method.例文帳に追加

三点曲げ法による曲げ弾性率の測定において、測定系の誤差を小さくし精度よく曲げ弾性率の測定を行うことが可能な弾性率測定方法を提供する。 - 特許庁

In the method of inputting data using the marker, the measuring instrument 60 uses the marker 25 as a passive element that indicates measuring point and standard point or inputs the data by using its marker 25.例文帳に追加

本発明の実施形態によれば、測定器６０は、測定ポイントと基準ポイントを示す受動要素としてマーカ２５を使用し、またそのマーカ２５を使用してデータを入力する。 - 特許庁

A corrosion measuring method includes placing a metal plate having a point where the thickness is changed step by step or continuously in a measurement environment, and measuring a retraction length at the predetermined point on the metal plate after the lapse of a predetermined time.例文帳に追加

本発明の腐食測定方法は、厚みが段階的または連続的に変化する個所を有する金属板を測定環境中に置き、所定時間経過後、前記金属板の所定個所の後退長さを測定することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a three-dimensional-point group synthesis method capable of automatically synthesizing three-dimensional-point groups obtained by measuring a measuring object in plural directions.例文帳に追加

複数方向から計測対象物を計測して取得した３次元点群を自動的に合成することの可能な３次元点群の合成方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING CHANGE POINT OF SIGNAL OUTPUTTED BY SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TIME MEASURING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスが出力する信号の変化点検出方法、半導体デバイス試験方法、半導体デバイス試験装置、時間測定装置 - 特許庁

According to this measurement method of the measuring object 3 by using laser reflected light, laser light irradiated to the measuring object 3 is cross light having a focal point 9 between a laser light projector 1 and the measuring object 3.例文帳に追加

レーザ反射光による被計測物３の計測方法であって、被計測物３に照射するレーザ光をレーザ投光機１と被計測物３との間に焦点９を有するクロス光としたことを特徴とする。 - 特許庁