phase-contrast microscope methodとは 意味・読み方・使い方

PHASE PLATE FOR PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用位相板及びその製造方法並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁

SPECIMEN CONTAINER, METHOD FOR ADJUSTING PHASE CONTRAST MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

被検体容器、位相差顕微鏡の調整方法およびプログラム - 特許庁

PHASE SHIFT METHOD AND DEVICE FOR REALIZING PHASE DIFFERENCE OBSERVATION OR MODULATION CONTRAST OBSERVATION IN MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置 - 特許庁

In particular, a dispersion staining method in which asbestos crystals are visually searched by using a phase-contrast microscope, can be assisted by this method.例文帳に追加

特に、アスベスト結晶を位相差顕微鏡によって目視観察により探索する分散染色法を補助することもできる。 - 特許庁

To provide a phase information detection method and a phase information detector, capable of acquiring easily phase information of a phase object in real time, without using an expensive phase-contrast microscope.例文帳に追加

高価な位相差顕微鏡を用いることなく、より簡便に、しかもリアルタイムに位相物体の位相情報を取得し得る位相情報検出方法及び位相情報検出装置を提供する。 - 特許庁

To continuously shift a phase while using a microscope without using many different modulators in a phase shift method and device for realizing phase difference observation or modulation contrast observation in the microscope.例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置において、多数の異なる変調器を使用せずに、顕微鏡の使用中に連続的な位相シフトを可能にさせる。 - 特許庁

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁