probe distanceとは 意味・読み方・使い方

To provide a distance measuring device for measuring a distance between the tip of a probe and a workpiece surface from a positional relationship between a secondary image of the probe generated on the workpiece surface and the tip of the probe.例文帳に追加

ワーク表面に発生したプローブの二次像とプローブの先端部との位置関係から、プローブの先端部とワーク表面との距離を測定する距離測定装置を提供する。 - 特許庁

In the inspection method, before the plane is measured, the distance between the probe and the surface of the specimen is detected, and the height position of the probe is calibrated in such a way that the distance becomes a set distance.例文帳に追加

この超音波映像検査方法では、平面測定の前に、プローブと被検体の表面との間の距離を検出し、この距離が設定距離になるようにプローブの高さ位置を較正する。 - 特許庁

A proximity sensor 4 for measuring the distance between the probe 2 and the sample plate 8 is provided on the side of the probe 2.例文帳に追加

プローブ２の側方にプローブ２とサンプルプレート８の距離を測定する近接センサー４を備えている。 - 特許庁

To provide a test card equipped with a probe mounting tool capable of adjusting the relative position distance between a probe and a measurement waiting element.例文帳に追加

プローブと測定待ち素子との相対的位置距離を調整することを可能とする、プローブ載置具を備えたテストカードを提供する。 - 特許庁

At that time, the focusing type ultrasonic probe 11 is moved in the axial direction of the holder 12 by a probe moving part, to adjust the focal distance.例文帳に追加

その際には、探触子可動部により集束型超音波探触子１１をホルダー１２の軸方向に移動させて焦点距離を調節する。 - 特許庁

In this case, the collision height specifying means 215 calculates the distance between the height of the sample surface and the height of the probe in the mesh range of the probe.例文帳に追加

この場合、衝突高さ特定手段２１５は、探針のメッシュ範囲において試料表面の高さと探針の高さとの距離を算出する。 - 特許庁

The closer a contact terminal is located to the center of the probe substrate, the greater is the distance between an imaginary surface parallel to the probe substrate and the needlepoint of that contact terminal.例文帳に追加

プローブ基板と平行の仮想面から針先までの距離寸法は、プローブ基板の中心の側に位置する接触子ほど大きい。 - 特許庁

To provide an optical fiber probe device controlling a distance between a sample and an optical fiber probe taking in a light signal propagating through the sample.例文帳に追加

試料の中を伝搬する光信号を取り込む光ファイバプローブと試料との距離を制御する光ファイバプローブ装置を提供する。 - 特許庁