slit image methodとは 意味・読み方・使い方

A vertical slit light 12 is radiated to a measuring object 5, the image of the reflected slit light from the surface A of the measuring object 5 is taken by a vertical TV camera 10, and the slit light is measured by light cut method.例文帳に追加

測定対象物５に縦スリット光１２を照射し、測定対象物５のＡ面の反射スリット光の画像を縦ＴＶカメラ１０で撮影し、光切断法でスリット光を計測する。 - 特許庁

The method further comprises the steps of calculating the height of the object from the relationship between the slit light reflected image of each image and the slit light reflected reference image formed on the reference surface to be measured, and processing the three-dimensional image to recognize the height side of the object.例文帳に追加

各画像におけるスリット光反射像とスリット光が測定基準面上につくるスリット光反射基準像との関係から物体の高さが算出され、物体の高さ寸法を認識する３次元画像処理が行なわれる。 - 特許庁

The method also comprises the steps of combining the image contents of a pixel row obtained by imaging a central part of the slit light reflected reference image of each image to form the two-dimensional image of the object, and two-dimensional image processing the two-dimensional image to recognize the two-dimensional image of the object.例文帳に追加

各画像におけるスリット光反射基準像の中央部分を撮像した画素列の撮像内容を合成して物体の２次元画像が作成され、該２次元画像を処理して物体の２次元形状を認識する２次元画像処理が行なわれる - 特許庁

To provide a method for measuring the absolute shape of an object by utilizing high accuracy, robustness and high speed which are advantages of a multi-slit image encode method.例文帳に追加

マルチスリットイメージエンコード法の利点である高精度、ロバスト性、高速性を生かして、かつ対象の絶対形状を測定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image reader capable of adjusting the relative positional relation between a read means and a slit by an easy and simple adjustment method.例文帳に追加

読取手段とスリットとの相対的な位置関係を容易で、簡易な調整方法で調整することができる画像読取装置を得ること。 - 特許庁

COLOR CORRECTION METHOD AND APPARATUS FOR QUANTIFYING SYMPTOM OF CATARACT BASED ON COLOR IMAGE DATA OF EYE SUFFERING CATARACT TO BE EXAMINED AS ACQUIRED FROM SLIT LAMP MICROSCOPE例文帳に追加

細隙灯顕微鏡から取得された白内障被検眼のカラー画像データに基づき、白内障の症状を定量化するための色補正方法および装置 - 特許庁

To provide an aberration evaluating method for compensating influence of comparatively large warpage and distortion of a thin film in a slit substrate and highly precisely evaluating wavefront aberration of an optical system to be inspected by a space image measuring method.例文帳に追加

スリット基板の薄膜の比較的大きな撓みや歪の影響を補償して、空間像計測法により被検光学系の波面収差を高精度に評価することのできる収差評価方法。 - 特許庁

The image forming apparatus 13 calculates the slit width after the error due to a relative movement of the imaging device 12 and the slit 22, is corrected by the phase difference method based on the slit width calculated when moved relatively from a predetermined relative position and the slit width when moved relatively from a relative position different by a predetermined distance from the predetermined relative position in parallel to the relative movement.例文帳に追加

画像処理装置１３は、撮像装置１２とスリット部２２との相対移動に係る誤差を、所定相対位置から相対移動させた際に算出したスリット幅と、所定相対位置から相対移動と平行な方向に所定距離だけ異なる相対位置から相対移動させた際に算出したスリット幅とに基づき、位相差法により、相対移動に係る誤差を補正した後のスリット幅を算出する。 - 特許庁