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主な意味ストレスマイグレーション

機械工学英和和英辞典での「stress migration」の意味

stress-migration



「stress migration」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 69



例文

To provide a semiconductor device wherein stress migration is reduced.例文帳に追加

ストレスマイグレーションを低減した半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming Al wiring film which can inhibit the development of stress migration and electro-migration.例文帳に追加

ストレスマイグレーションやエレクトロマイグレーションの発生を抑制することができるAl配線膜の成膜方法を提供すること。 - 特許庁

To suppress stress-migration and electro-migration in Cu wiring to sufficiently improve the electrical reliability.例文帳に追加

Cu配線におけるストレスマイグレーション及びエレクトロマイグレーション等を抑制して電気的信頼性の十分な向上を得る。 - 特許庁

To suppress a stress migration in a multilayer wiring structure having a Cu wiring pattern.例文帳に追加

Cu配線パターンを有する多層配線構造においてストレスマイグレーションを抑制する。 - 特許庁

例文

EVALUATION PATTERN, SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING THE SAME, AND METHOD OF EVALUATING STRESS MIGRATION例文帳に追加

評価パターン及び該パターンを備える半導体装置並びにストレスマイグレーションの評価方法 - 特許庁

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JST科学技術用語日英対訳辞書での「stress migration」の意味

日英・英日専門用語辞書での「stress migration」の意味

「stress migration」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 69



例文

To increase the life of copper wiring, enhance adherence and improve stress migration resistance.例文帳に追加

銅配線の寿命を増大させ、同時に、密着性を高め、ストレスマイグレーション耐性を向上させる。 - 特許庁

Consequently, migration at the time of film deposition is promoted, and a film having small internal stress is formed.例文帳に追加

その結果、成膜時のマイグレーションが促進されて、内部応力の小さな膜が形成される。 - 特許庁

To suppress generation of a void caused by peeling and stress migration on source and drain electrodes.例文帳に追加

ソース・ドレイン電極に、剥離やストレスマイグレーションによるボイドが発生するのを抑制する。 - 特許庁

To easily reduce failure arising from stress migration.例文帳に追加

ストレスマイグレーションにより発生する不良を容易に減少させることを図ること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which stress migration resistance is improved as compared with a prior art.例文帳に追加

従来よりもストレスマイグレーション耐性が向上された半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor element and a manufacturing method thereof, for preventing stress migration caused by thermal stress.例文帳に追加

熱応力によるストレスマイグレーションを防止することができる半導体素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having an aluminum interconnect layer in which electron migration resistance and stress migration resistance can be enhanced.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション耐性やストレスマイグレーション耐性の向上を図れるアルミニウム配線層を有する半導体装置を提供することにある。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor device, along with its method, equipped with a damascence wiring of excellent stress-migration resistance and electro-migration resistance.例文帳に追加

優れたストレスマイグレーション耐性及びエレクトロマイグレーション耐性を有するダマシン配線を備えた半導体装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

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