structure examinationとは 意味・読み方・使い方

Cases and problems regarding improvements and applications of the reviews and examination structure are mentioned.発音を聞く 例文帳に追加

審査体制の整備及び運用に係る指摘事例及び問題点を記載。 - 金融庁

To provide a two-way type automatic ticket examination machine at low cost by utilizing the structure of a conventional one-way type automatic ticket examination machine.例文帳に追加

従来の一方向型の自動改札機の構造を利用して、低コストに双方向型自動改札機を実現する。 - 特許庁

This heating structure this heat radiation structure, this electric examination method and this apparatus are obtained by using the heat transfer sheet.例文帳に追加

本発明の加熱構造、放熱構造、電気的検査方法、装置は前記伝熱性シートを用いたものである。 - 特許庁

To provide a bidirectional automatic ticket examination machine at the low cost by simplifying the internal structure.例文帳に追加

内部構造を簡素化し、低コストに双方向型自動改札機を実現する。 - 特許庁

To provide a multilayer wiring structure examination system examining quality of the structure of multilayer wiring including the quality of manufacture.例文帳に追加

製造の可否も含めて多層配線の構造の適否を検討することができる多層配線構造検討システムを得ること。 - 特許庁

examination of the inner structure of opaque objects using X rays or other penetrating radiation発音を聞く 例文帳に追加

X線その他の貫通性の放射物を用いて不透明な物の内部構造を検査すること - 日本語WordNet

To provide a structure examination system, capable of performing examination without drawings, determination of degradation damage by an examiner, and accurate examination by a mechanical input of its position information, and to provide a position measuring apparatus used for the structure examination system and capable of easily handling position information and reducing work load.例文帳に追加

図面がなくとも調査でき、劣化損傷の判定を調査員が行い、その位置情報を機械的に入力することで、精度良く調査できる構造物調査システムおよび位置情報を取り扱いが容易で作業負担を軽減できる構造物調査システムに用いる位置測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of reducing systematic measuring errors during the examination of an object, particularly a semiconductor structure.例文帳に追加

対象物、特に半導体構造の検査時の系統的測定誤差を低減する方法の提供。 - 特許庁