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terahertz wave generationとは 意味・読み方・使い方
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「terahertz wave generation」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATION SOURCE AND TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATION DEVICE例文帳に追加
テラヘルツ電磁波発生源、テラヘルツ電磁波発生装置 - 特許庁
TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATION/DETECTION DEVICE例文帳に追加
テラヘルツ電磁波発生・検出装置 - 特許庁
TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE RADIATION ELEMENT AND TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATION METHOD例文帳に追加
テラヘルツ電磁波放射素子およびテラヘルツ電磁波発生方法 - 特許庁
TERAHERTZ WAVE GENERATION ELEMENT, TERAHERTZ WAVE DETECTION ELEMENT, AND TERAHERTZ TIME DOMAIN SPECTRAL INSTRUMENT例文帳に追加
テラヘルツ波発生素子、テラヘルツ波検出素子、及びテラヘルツ時間領域分光装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATION例文帳に追加
テラヘルツ電磁波発生装置及び方法 - 特許庁
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「terahertz wave generation」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
By the same configuration and the opposite process, the terahertz wave generation element is used as a terahertz wave detection element for detecting a terahertz wave.例文帳に追加
同じ構成で逆過程によりテラヘルツ波を検出するテラヘルツ波検出素子として用いられる。 - 特許庁
WAFER ADAPTABLE TO TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE, DEVICE FOR DETECTING GENERATION OF TERAHERTZ WAVE , AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
テラヘルツ電磁波対応ウェハ、テラヘルツ発生検出デバイス及びそれらの製造方法 - 特許庁
The terahertz wave generation part 21 generates and outputs the pulse terahertz wave by inputting pumping light.例文帳に追加
テラヘルツ波発生部21は、ポンプ光を入力することでパルステラヘルツ波を発生し出力する。 - 特許庁
WAFER ADAPTABLE TO TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE, DEVICE FOR DETECTING TERAHERTZ GENERATION, AND METHOD OF MANUFACTURING THEM例文帳に追加
テラヘルツ電磁波対応ウェハ、テラヘルツ発生検出デバイス及びそれらの製造方法 - 特許庁
The first terahertz wave generation source 20 receives a pulse light L5 (wavelength:780 nm) to generate the terahertz wave T1, and the second terahertz wave generation source 30 receives a pulse light L2 (wavelength:1.56 μm) to generate the terahertz wave T2.例文帳に追加
第1テラヘルツ波発生源20は、パルス光L5(波長:780nm)を受けてテラヘルツ波T1を発生し、第2テラヘルツ波発生源30は、パルス光L2(波長:1.56μm)を受けてテラヘルツ波T2を発生する。 - 特許庁
The thickness of the entire terahertz wave generation part 21B is uniform.例文帳に追加
テラヘルツ波発生部21Bの全体は厚みが一様である。 - 特許庁
TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATION METHOD AND SPECTROSCOPY/IMAGING MEASURING DEVICE例文帳に追加
テラヘルツ電磁波発生方法及び分光・イメージング測定装置 - 特許庁
This device is equipped with a terahertz wave generation device 12 for generating the terahertz wave 2, a terahertz wave irradiation device 14 for irradiating the inspection object 1 with the terahertz wave, and a scattering intensity detection device 20 for cutting a straight-advancing component 3 of the terahertz wave transmitted through the inspection object and detecting the intensity of a scattered component 4.例文帳に追加
テラヘルツ波2を発生するテラヘルツ波発生装置12と、テラヘルツ波を被検査物1に照射するテラヘルツ波照射装置14と、被検査物を透過したテラヘルツ波の直進成分3をカットし散乱成分4の強度を検出する散乱強度検出装置20とを備える。 - 特許庁
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