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test pattern generatorとは 意味・読み方・使い方
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「test pattern generator」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 92件
TEST PATTERN GENERATOR例文帳に追加
テストパターン生成装置 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR例文帳に追加
テストパターン発生装置 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加
テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加
半導体試験装置の試験パターン発生装置 - 特許庁
A test pattern generator 24 reads a test pattern out of a test pattern storage 25 and prints out the pattern by using an output device.例文帳に追加
テストパターン発生装置24がテストパターン記憶装置25からパターンを読み出し、出力装置に印刷する。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁
PATTERN GENERATOR AND PATTERN GENERATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TEST例文帳に追加
半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法 - 特許庁
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「test pattern generator」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 92件
A test pattern generator 12 impresses test patterns repeatedly to the DUT 1.例文帳に追加
テストパタン発生部12はテストパタンを繰り返しDUT1に印加する。 - 特許庁
The test aid device comprises a test pattern memory memorizing a plurality of test pattern data corresponding to a plurality of test items, and a test pattern signal generator which writes test pattern data selected from among a plurality of the test pattern data.例文帳に追加
テスト補助装置は、複数のテスト項目に対応した複数のテストパターンデータを記憶するテストパターンメモリと、複数のテストパターンデータの中から選択されたテストパターンデータを書き込テストパターン信号発生器を有する。 - 特許庁
JITTER APPLICATION CIRCUIT, PATTERN GENERATOR, TEST APPARATUS, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
ジッタ印加回路、パターン発生器、試験装置、および、電子デバイス - 特許庁
A pattern generator 20 generates a functional test pattern comprising steps of logical data.例文帳に追加
パターンジェネレータ20は論理データの各ステップからなる機能テストパターンを発生する。 - 特許庁
SIGNAL GENERATOR, TEST PATTERN, AND EVALUATION METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加
信号発生装置、テストパターン及び映像機器の評価方法 - 特許庁
SPEED MONITORING DEVICE, PATTERN GENERATOR, AND SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS例文帳に追加
速度監視装置、パターン発生装置、及び半導体試験装置 - 特許庁
TEST PATTERN, SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING VIDEO DEVICE例文帳に追加
テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法 - 特許庁
Operations for reading out the selected test pattern data from the test pattern memory, and writing it into the test pattern signal generator are controlled by a control unit.例文帳に追加
選択されたテストパターンデータをテストパターンメモリから読み出す動作と、それをテストパターン信号発生器に書き込む動作は、制御部によって制御される。 - 特許庁
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