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日英・英日専門用語辞書での「test timing」の意味

test timing


「test timing」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 340



例文

TIMING GENERATOR AND TEST APPARATUS例文帳に追加

タイミング発生器、及び試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE, TEST TIMING INFORMATION GENERATING DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

試験装置、試験タイミング情報生成装置および試験方法 - 特許庁

TIMING CALIBRATION METHOD FOR IC TEST DEVICE AND IC TEST DEVICE USING THIS TIMING CALIBRATION METHOD例文帳に追加

IC試験装置のタイミング校正方法及びこのタイミング校正方法を用いたIC試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND TEST METHOD OF OPERATION TIMING OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの動作タイミングのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

Good timing. I'll get you to test drive the new model.例文帳に追加

ちょうどいいね。新型の試乗してってもらうね。 - Tatoeba例文

Good timing. I'll get you to test drive the new model.発音を聞く 例文帳に追加

ちょうどいいね。新型の試乗してってもらうね。 - Tanaka Corpus

例文

SEMICONDUCTOR CIRCUIT AC TIMING TEST DEVICE, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体回路ACタイミングテスト装置及びその方法 - 特許庁

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「test timing」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 340



例文

TIMING SIGNAL GENERATING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のタイミング信号発生回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT INSERTING DEVICE AND TIMING IMPROVING DEVICE例文帳に追加

テスト回路挿入装置及びタイミング改善装置 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING TDR TIMING OF IC TEST APPARATUS例文帳に追加

IC試験装置のTDRタイミング校正方法 - 特許庁

TIMING GENERATOR AND TEST APPARATUS例文帳に追加

タイミング発生装置、及び試験装置 - 特許庁

A test timing determination part 1c determines generation timing of event for operation test during test object operation based on timing of detected operation change, and stores determined generation timing of event in a test timing information storage part 1d.例文帳に追加

試験タイミング決定部1cは、検出された動作変化のタイミングに基づいて、試験対象動作中の動作試験のためのイベントの発生タイミングを決定し、決定したイベントの発生タイミングを試験タイミング情報記憶部1dに格納する。 - 特許庁

TIMING GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

タイミング発生回路、半導体試験装置および半導体試験方法ならびに半導体デバイス - 特許庁

The timing test and the bit level test are allowed to be carried out in parallel.例文帳に追加

タイミング試験及びビット・レベル試験は、並行して行うこともできる。 - 特許庁

例文

CONTROL TIMING TEST SYSTEM FOR ENCODER, AND CONTROL TIMING TESTING METHOD OF THE ENCODER例文帳に追加

エンコーダ装置の制御タイミング試験システム及びエンコーダ装置の制御タイミング試験方法 - 特許庁

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