キャリア寿命の英語

本発明は、キャリア寿命をより精度よく測定し得る半導体キャリア寿命測定装置および該方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor carrier lifetime measuring apparatus and a method therefor, by which a lifetime of carriers can be measured with good precision. - 特許庁

これにより、被処理基板５１とシリコン窒化膜５３との界面におけるキャリアの寿命が長寿命化する。例文帳に追加

Thus, the service life of the carrier on an interface between the substrate 51 and the silicon nitride film 53. - 特許庁

半導体ウェハの荷電キャリア寿命測定方法及び測定装置例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING ELECTRICAL CHARGE CARRIER LIFETIME OF SEMICONDUCTOR WAFER AND ITS MEASUREMENT APPARATUS - 特許庁

高性能シリコンパワーデバイスにおける不均一少数キャリア寿命分布例文帳に追加

NON-UNIFORM MINORITY CARRIER LIFETIME DISTRIBUTION IN HIGH PERFORMANCE SILICON POWER DEVICE - 特許庁

トナー寿命を算出し、トナー寿命やキャリア寿命によって生じ得る画質の問題を予測したり、又は診断することによって画質を保証するためにキャリア寿命を算出するための改良方法を提供する。例文帳に追加

To provide an improved method of calculating the life of toner, predicting the problem on image quality due to the lives of toner and carrier and estimating the life of the carrier to guarantee the image quality by diagnosis. - 特許庁

円盤状基板の製造に用いられるキャリアの長寿命化を図る。例文帳に追加

To extend a life of a carrier used for manufacturing a disk shaped substrate. - 特許庁

特に、キャリア寿命の長い領域６ａの任意の一点からキャリア寿命の短い領域６ｂに達するまでの最長距離を、ｎドリフト層６の厚さ以下とする。例文帳に追加

Particularly, the maximum distance reaching the region 6b from an arbitrary point in the region 6a is set to a value equal to or smaller than the thickness of the layer 6. - 特許庁

芯材抵抗の電圧依存性が低く、磁性キャリアの交換寿命が長いキャリア芯材を提供する。例文帳に追加

To provide a carrier core material in which the voltage dependence of core material resistance is low, and the service life until replacement of magnetic carrier is long. - 特許庁