「"マトリックス元素"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

アルカリ金属やアルカリ土類金属を始めとする微量の不純物の分析を可能とするとともに、アルカリ金属とマトリックス元素である鉛・ジルコニウム・チタン・けい素との分離方法を提供することにより、アルカリ金属を感度よく測定することを目的とする。例文帳に追加

To measure alkaline metals with high sensivity by providing a separation method, by which the analyses of trace amounts of impurities including the alkaline metals and alkaline earth metals can be made and, at the same time, the alkaline metals can be separated from lead, zirconium, titanium, and silicon which are used as matrix elements. - 特許庁

即ち、球状半導体を分析する場合と全く同じ条件で平坦なウエハを測定し、両者の主要構成元素（マトリックス元素）の二次イオン強度がほぼ同じになるポイントで焦点が合ったと判断することで精度よく不純物プロファイルを測定する。例文帳に追加

More specifically, a flat wafer is measured under entirely the same conditions as a case for analyzing the spherical semiconductor, and it is determined that focusing is reached at a point in which the secondary ion intensity of both the main components (matrix elements) becomes nearly identical, thus precisely measuring the impurity profile. - 特許庁

積層された金属膜中での被測定金属元素の二次イオン質量分析法を行う際に、マトリックス元素の二次イオン強度の不安定性を低減し、被測定金属元素の拡散量に対する測定精度を向上させる定量分析用試料の作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for preparing a sample for quantitative analysis capable of reducing instability in the intensity of the secondary ions of a matrix element and improving measurement accuracy to the amount of diffusion of a metallic element to be measured when performing secondary ion mass spectrometry on the metallic element to be measured in stacked metal films. - 特許庁

半導体ウエハの予備測定を行い、次に、予備測定と同じ測定条件で球状半導体１１の測定を行い、球状半導体の測定時には主要構成元素（マトリックス元素）から得られる二次イオン強度が予備測定時の二次イオン強度と同じになる位置に球状半導体を配置する。例文帳に追加

A semiconductor wafer is measured preliminarily, then the spherical semiconductor 11 is measured under the same measurement conditions as the preliminary measurement, and the spherical semiconductor is arranged at a position in which secondary ion intensity obtained from a main component (matrix element) becomes the same as secondary ion intensity in preliminary measurement. - 特許庁