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"parameter method"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10件
CONTROL DEVICE, DEVICE FOR ADJUSTMENT OF CONTROL PARAMETER, METHOD FOR ADJUSTMENT OF CONTROL PARAMETER, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
制御装置、制御パラメータの調整装置、制御パラメータの調整方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
LITHOGRAPHIC APPARATUS, METHOD OF DETERMINING MODEL PARAMETER, METHOD OF MANUFACTURING DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURED THEREBY例文帳に追加
リソグラフィ装置、モデルパラメータを決定する方法、デバイス製造方法、およびそれによって製造したデバイス - 特許庁
CONTROL MODULE AND CONTROL SYSTEM ACTING ON TEST ATMOSPHERE PARAMETER, METHOD FOR CONTROLLING MICROSCOPE APPARATUS AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
試験環境パラメータに作用する制御モジュールおよび制御システム、顕微鏡装置を制御する方法、および、コンピュータ・プログラム - 特許庁
Furthermore, when the positioning terminal 2 positions a point at which electric waves are received, the positioning is carried out by using an area correction parameter method.例文帳に追加
また、測位端末２が電波の受信地点の位置を測位する際、面補正パラメータ方式によって測位する。 - 特許庁
METHOD OF CALCULATING PARAMETER, METHOD OF MONITORING CONDITION, PARAMETER CALCULATOR, DEVICE AND SYSTEM FOR MONITORING CONDITION, COMPUTER PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
パラメータ計算方法、状態監視方法、パラメータ計算装置、状態監視装置、状態監視システム、コンピュータプログラム、及び記録媒体 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS, COMPUTER, IMAGE FORMING SYSTEM, METHOD OF CHANGING TONER CONCENTRATION ADJUSTMENT PARAMETER, METHOD OF TRANSMITTING TONER CONCENTRATION ADJUSTMENT PARAMETER, AND PROGRAM例文帳に追加
画像形成装置、計算機、画像形成システム、トナー濃度調整パラメータ変更方法、トナー濃度調整パラメータ送信方法、及びプログラム - 特許庁
METHOD OF ESTIMATING TUBE PARAMETER, METHOD OF EVALUATING CONDITION OF TUBE MATERIAL, METHOD OF INSPECTING TUBE, AND DEVICE FOR ESTIMATING TUBE PARAMETER USED THEREFOR例文帳に追加
管パラメーター推定方法、管材質の状態評価方法及び管の検査方法並びにこれらに用いられる管パラメーター推定装置 - 特許庁
To provide an X-ray fluorescence analyzer capable of quantifying all of compositions, heights and occupancy rates about island structures existing in a dotted fashion on a substrate, by using an FP (fundamental parameter) method.例文帳に追加
ＦＰ法で基板上に点在する島状構造物について組成、高さおよび占有率をすべて定量できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁
To allow an accurate overlap correction using an overlap correcting coefficient independent from analyzer sensitivity and a sample composition in an FP(fundamental parameter) method or the like.例文帳に追加
ＦＰ法等において、装置感度や試料の組成に依存しない重なり補正係数を用い、正確な重なり補正のできる蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。 - 特許庁
The degree is analyzed by simultaneous use of the rocking curve method by XRD and a fluorescent X-ray fundamental parameter method.例文帳に追加
ＸＲＤによるロッキングカーブと蛍光Ｘ線ファンダメンタル・パラメータ法の併用により、結晶性の基板または層上に製膜された、格子定数のミスマッチによる結晶歪みを有する組成比未知の結晶性固溶体薄膜の結晶歪み度合いを分析する。 - 特許庁
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