「そうさでんしけんびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

位相差電子顕微鏡例文帳に追加

PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡用観察装置例文帳に追加

OBSERVING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡の走査回路例文帳に追加

SCANNING CIRCUIT FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡装置および電子顕微鏡観察方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND OBSERVATION METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電界放射型走査電子顕微鏡例文帳に追加

FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡装置例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE - 特許庁

電子顕微鏡の遠隔操作装置例文帳に追加

REMOTE OPERATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査形電子顕微鏡装置例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS - 特許庁

電子顕微鏡と遠隔操作装置例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE AND REMOTE CONTROL DEVICE - 特許庁

電子顕微鏡遠隔操作装置例文帳に追加

REMOTE OPERATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡遠隔操作装置例文帳に追加

REMOTE OPERATING SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡と遠隔操作装置例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE AND REMOTE OPERATION SYSTEM THEREOF - 特許庁

走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM AXIS ADJUSTING METHOD THEREFOR - 特許庁

電子顕微鏡用試料作製装置例文帳に追加

SAMPLE PRODUCING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

差動排気走査形電子顕微鏡例文帳に追加

DIFFERENTIAL PUMPING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

断面観察用走査電子顕微鏡例文帳に追加

CROSS-SECTION OBSERVATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡等の反射電子検出装置例文帳に追加

REFLECTION ELECTRON DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡の試料ホルダ例文帳に追加

SAMPLE HOLDER OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査干渉電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

スピン偏極走査電子顕微鏡例文帳に追加

SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用撮像装置例文帳に追加

IMAGING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡像観察装置例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION DEVICE - 特許庁

走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡における像観察方法および走査電子顕微鏡例文帳に追加

IMAGE OBSERVATION METHOD IN SCANNING MICROSCOPE AND THE SCANNING MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡の調整方法、及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ALIGNMENT METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR - 特許庁

低真空走査電子顕微鏡例文帳に追加

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査荷電粒子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE - 特許庁

走査型透過電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査形荷電粒子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING CHARGED-PARTICLE BEAM MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用撮影装置例文帳に追加

IMAGE PICK-UP DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡、及び走査型電子顕微鏡のフォーカス制御方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING FOCUS THEREOF - 特許庁

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME - 特許庁

走査Ｘ線電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING X-RAY ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING PROBE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡操作システム例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE OPERATING SYSTEM - 特許庁

分析走査電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE FOR ANALYSIS - 特許庁

小型の走査型電子顕微鏡例文帳に追加

DOWNSIZED SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡遠隔操作システム例文帳に追加

REMOTE OPERATING SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡像の歪み校正例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND DISTORTION CALIBRATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE - 特許庁

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁