| 例文 (8件) |
収束電子回折法の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
収束電子回折法例文帳に追加
収束電子回折による結晶格子定数測定法例文帳に追加
MEASURING METHOD FOR CRYSTAL LATTICE CONSTANT BY CONVERGENCE ELECTRON DIFFRACTION - 特許庁
収束電子線回折を用いた材料の構造分析方法例文帳に追加
METHOD FOR ANALYZING STRUCTURE OF MATERIAL USING CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION - 特許庁
収束電子回折を用いた、物性の新規な測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a novel method for measuring physical property by using a convergent beam electron diffraction. - 特許庁
収束電子回折法による局所領域の格子歪み測定方法及びその測定装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR LATTICE DISTORTION MEASUREMENT IN LOCAL REGION IN CONVERGENT ELECTRON DIFFRACTION METHOD - 特許庁
収束電子回折法による結晶軸比測定方法及び結晶軸比測定装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CRYSTAL AXIS RATIO BY CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION METHOD - 特許庁
微小領域において格子定数の６つのパラメータ全てを測定できる収束電子回折測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a convergence electron diffraction measuring method capable of measuring all of six parameters of lattice constants in a microregion. - 特許庁
試料に電子線を収束させて照射し、ディスク状の回折図形を得る収束電子回折法において、透過ディスク内に現れたHOLZラインの交点間の距離から、結晶の格子定数６つ（a、b、c、α、β、γ）全てを10nm以下の微小領域から測定することを可能にする。例文帳に追加
In this convergence electron diffraction method for acquiring a disc-shaped diffraction figure, by making electron beams converge and irradiate to a sample, all of six (a, b, c, α, β, γ) lattice constants of a crystal can be measured from the microregion smaller than 10 nm, from the distance between the intersection points of HOLZ line appearing in a transmission disc. - 特許庁
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