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「測微法」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 測微法に関連した英語例文

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測微法の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1478



例文

走査型プローブ顕鏡の定方例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE - 特許庁

ハニカム構造体および粒子付着量定方例文帳に追加

HONEYCOMB STRUCTURE AND PARTICULATE STICKING QUANTITY MEASURING METHOD - 特許庁

走査型プローブ顕鏡と計例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD - 特許庁

散乱型近接場顕鏡およびその定方例文帳に追加

SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁

例文

走査型プローブ顕鏡の定方および装置例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE - 特許庁


例文

走査型静電容量顕鏡による定方例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE - 特許庁

金属中の量ヘリウム定方例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING TRACE QUANTITY OF HELIUM IN METAL - 特許庁

物性値の定方および走査形プローブ顕例文帳に追加

MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ顕鏡及びそれを用いた計例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT - 特許庁

例文

走査プローブ顕鏡およびこれを用いた定方例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁

例文

帯電電位定方、及び荷電粒子顕例文帳に追加

CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE - 特許庁

小蛍光粒子を用いた電気浸透流計例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING ELECTROENDOSMOSIS FLOW USING VERY SMALL FLUORESCENT PARTICLE - 特許庁

赤外定に供する錠剤試料の作成方例文帳に追加

PREPARATION METHOD OF TABLET SPECIMEN USED FOR MICROSCOPIC INFRARED MEASUREMENT - 特許庁

光学顕鏡、及び分光定方例文帳に追加

OPTICAL MICROSCOPE AND SPECTRAL MEASUREMENT METHOD - 特許庁

物性値の定方および走査型プローブ顕例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ顕鏡の定位置の位置決め方例文帳に追加

POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

外部磁場掃引磁気力顕鏡および計例文帳に追加

EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD - 特許庁

プローブ顕鏡及びそれを用いた定方例文帳に追加

PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁

力計及び走査型力顕例文帳に追加

FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プロ—ブ顕鏡の定方例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

流体中の粒子粒径定方および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING PARTICLE SIZE OF FINE PARTICULATE IN FLUID - 特許庁

走査探針顕鏡及びそれを利用した定方例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING THE SAME - 特許庁

生物の汚染物質分解能力定方例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING CONTAMINANT-DEGRADING ABILITY OF MICROORGANISM - 特許庁

鏡撮像装置及び寸定装置例文帳に追加

MICROSCOPE IMAGING DEVICE AND DIMENSION MEASURING INSTRUMENT - 特許庁

光学顕鏡及びスペクトル定方例文帳に追加

OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SPECTRUM - 特許庁

細孔角度計およびその装置例文帳に追加

MINUTE HOLE ANGLE MEASURING METHOD AND ITS INSTRUMENT - 特許庁

濁度および粒子の定方と装置例文帳に追加

METHOD AND EQUIPMENT FOR MEASURING TURBIDITY AND MICROPARTICLE - 特許庁

フィルム中の細粒子数定方及びその装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING NUMBER OF PARTICULATES IN FILM - 特許庁

弱光スペクトルの定方及びその装置例文帳に追加

METHOD OF MEASURING FEEBLE LIGHT SPECTRUM, AND INSTRUMENT THEREFOR - 特許庁

走査型プロ−ブ顕鏡及びその定方例文帳に追加

SCANNING PROBE MIROSCOPE AND MEASURING METHOD THEREOF - 特許庁

電気物性の定方および顕鏡装置例文帳に追加

ELECTRIC PROPERTY MEASURING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE - 特許庁

小力定装置及び生体分子観察方例文帳に追加

MICROFORCE MEASURING INSTRUMENT AND BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD - 特許庁

生物の殺菌処理効果定方例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING STERILIZATION EFFECT ON MICROORGANISM - 特許庁

共焦点走査型顕鏡を用いた寸定装置例文帳に追加

DIMENSION-MEASURING DEVICE USING CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE - 特許庁

小硬度計及びこれを用いた硬度定方例文帳に追加

MICRO HARDNESS METER, AND HARDNESS MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁

少質量定用センサーの包装方例文帳に追加

PACKING METHOD OF MICRO MASS MEASURING SENSOR - 特許庁

小流量の定及び分配の方と装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT AND DISTRIBUTION OF VERY SMALL FLOW RATE - 特許庁

生物の迅速定方及び捕捉装置例文帳に追加

METHOD FOR QUICKLY DETERMINING MICROORGANISM AND CAPTURING SYSTEM - 特許庁

分光定シミュレーション例文帳に追加

MICROSCOPIC SPECTROSCOPIC MEASUREMENT SIMULATION METHOD - 特許庁

低コヒーレンス干渉を用いた小高さ定装置例文帳に追加

MICRO-HEIGHT MEASURING DEVICE USING LOW COHERENCE INTERFEROMETRY - 特許庁

細パターン線幅定方およびそのシステム例文帳に追加

MEASURING METHOD OF FINE PATTERN LINE WIDTH AND ITS SYSTEM - 特許庁

気体中量物質の濃度定方例文帳に追加

CONCENTRATION MEASURING METHOD OF TRACE AMOUNT OF MATERIAL IN GAS - 特許庁

ハニカム構造体の粒子堆積量定方例文帳に追加

FINE PARTICLE DEPOSIT AMOUNT MEASUREMENT METHOD OF HONEYCOMB STRUCTURE - 特許庁

粒子定方およびその装置例文帳に追加

PARTICLE MEASURING METHOD AND ITS DEVICE - 特許庁

少質量定用センサー素子の製造方例文帳に追加

METHOD OF MANUFACTURING SENSOR ELEMENT FOR MEASURING MINUTE MASS - 特許庁

粒子の付着力定方および装置例文帳に追加

METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING ADHESION FORCE OF FINE PARTICULATE - 特許庁

少領域の摩擦力および摩擦係数定方例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING FRICTIONAL FORCE AND FRICTION COEFFICIENT IN MINUTE AREA - 特許庁

小流路内速度分布計装置及び方例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING VELOCITY DISTRIBUTION IN MICROPASSAGE - 特許庁

生物定における検量線作成方例文帳に追加

METHOD FOR FORMING CALIBRATION CURVE IN MICROORGANISM MEASUREMENT - 特許庁

例文

電子顕鏡による定条件決定方例文帳に追加

METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

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