例文 (999件) |
測微法の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1478件
走査型プローブ顕微鏡の測定方法例文帳に追加
MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE - 特許庁
ハニカム構造体および微粒子付着量測定方法例文帳に追加
HONEYCOMB STRUCTURE AND PARTICULATE STICKING QUANTITY MEASURING METHOD - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡と計測方法例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD - 特許庁
散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法例文帳に追加
SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡の測定方法および装置例文帳に追加
MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE - 特許庁
走査型静電容量顕微鏡による測定方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING BY SCANNING ELECTROSTATIC CAPACITY MICROSCOPE - 特許庁
物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡例文帳に追加
MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT - 特許庁
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁
帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡例文帳に追加
CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE - 特許庁
微小蛍光粒子を用いた電気浸透流計測法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING ELECTROENDOSMOSIS FLOW USING VERY SMALL FLUORESCENT PARTICLE - 特許庁
顕微赤外測定に供する錠剤試料の作成方法例文帳に追加
PREPARATION METHOD OF TABLET SPECIMEN USED FOR MICROSCOPIC INFRARED MEASUREMENT - 特許庁
光学顕微鏡、及び分光測定方法例文帳に追加
OPTICAL MICROSCOPE AND SPECTRAL MEASUREMENT METHOD - 特許庁
物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡例文帳に追加
MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法例文帳に追加
POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
外部磁場掃引磁気力顕微鏡および計測方法例文帳に追加
EXTERNAL MAGNETIC FIELD SWEEP MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD - 特許庁
プローブ顕微鏡及びそれを用いた測定方法例文帳に追加
PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁
力計測方法及び走査型力顕微鏡例文帳に追加
FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE - 特許庁
走査型プロ—ブ顕微鏡の測定方法例文帳に追加
MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
流体中の微粒子粒径測定方法および装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING PARTICLE SIZE OF FINE PARTICULATE IN FLUID - 特許庁
走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING THE SAME - 特許庁
顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置例文帳に追加
MICROSCOPE IMAGING DEVICE AND DIMENSION MEASURING INSTRUMENT - 特許庁
微細孔角度計測方法およびその装置例文帳に追加
MINUTE HOLE ANGLE MEASURING METHOD AND ITS INSTRUMENT - 特許庁
フィルム中の微細粒子数測定方法及びその装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING NUMBER OF PARTICULATES IN FILM - 特許庁
微弱光スペクトルの測定方法及びその装置例文帳に追加
METHOD OF MEASURING FEEBLE LIGHT SPECTRUM, AND INSTRUMENT THEREFOR - 特許庁
走査型プロ−ブ顕微鏡及びその測定方法例文帳に追加
SCANNING PROBE MIROSCOPE AND MEASURING METHOD THEREOF - 特許庁
電気物性の測定方法および顕微鏡装置例文帳に追加
ELECTRIC PROPERTY MEASURING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE - 特許庁
微小力測定装置及び生体分子観察方法例文帳に追加
MICROFORCE MEASURING INSTRUMENT AND BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD - 特許庁
微生物の殺菌処理効果測定方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING STERILIZATION EFFECT ON MICROORGANISM - 特許庁
微小硬度計及びこれを用いた硬度測定方法例文帳に追加
MICRO HARDNESS METER, AND HARDNESS MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁
微小流量の測定及び分配の方法と装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT AND DISTRIBUTION OF VERY SMALL FLOW RATE - 特許庁
微生物の迅速測定方法及び捕捉装置例文帳に追加
METHOD FOR QUICKLY DETERMINING MICROORGANISM AND CAPTURING SYSTEM - 特許庁
顕微分光測定シミュレーション法例文帳に追加
MICROSCOPIC SPECTROSCOPIC MEASUREMENT SIMULATION METHOD - 特許庁
低コヒーレンス干渉法を用いた微小高さ測定装置例文帳に追加
MICRO-HEIGHT MEASURING DEVICE USING LOW COHERENCE INTERFEROMETRY - 特許庁
微細パターン線幅測定方法およびそのシステム例文帳に追加
MEASURING METHOD OF FINE PATTERN LINE WIDTH AND ITS SYSTEM - 特許庁
気体中微量物質の濃度測定方法例文帳に追加
CONCENTRATION MEASURING METHOD OF TRACE AMOUNT OF MATERIAL IN GAS - 特許庁
ハニカム構造体の微粒子堆積量測定方法例文帳に追加
FINE PARTICLE DEPOSIT AMOUNT MEASUREMENT METHOD OF HONEYCOMB STRUCTURE - 特許庁
微粒子測定方法およびその装置例文帳に追加
PARTICLE MEASURING METHOD AND ITS DEVICE - 特許庁
微粒子の付着力測定方法および装置例文帳に追加
METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING ADHESION FORCE OF FINE PARTICULATE - 特許庁
微少領域の摩擦力および摩擦係数測定方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING FRICTIONAL FORCE AND FRICTION COEFFICIENT IN MINUTE AREA - 特許庁
微小流路内速度分布計測装置及び方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING VELOCITY DISTRIBUTION IN MICROPASSAGE - 特許庁
微生物測定における検量線作成方法例文帳に追加
METHOD FOR FORMING CALIBRATION CURVE IN MICROORGANISM MEASUREMENT - 特許庁
電子顕微鏡による測定条件決定方法例文帳に追加
METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
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