「測微法」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

比較的簡便な構成で、有機溶剤中の微量の水分を効率よくかつ高い測定精度で連続的に測定することが可能な有機溶剤中のインライン微量水分測定装置および測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an in-line apparatus and a method for measurement of a minute amount of moisture in an organic solvent, which has a simple constitution, and can efficiently and continuously measure a minute amount of moisture in an organic solvent. - 特許庁

微細な粒子を含有する高濃度微粒子含有液において高精度な粒径に関する測定（粒径、その凝集状態等の測定）を可能にする動的光散乱測定及びその測定方法を提供する。例文帳に追加

To achieve dynamic light-scattering measurement for realizing measurement (measurement of a grain size, its aggregate state, or the like) relating to a highly precise grain size in a solution containing high-concentration fine particle containing minute particles, and also to provide a method of measuring dynamic light scattering. - 特許庁

本発明は、被測定基材の物性値を変えることなしに、かつ、非接触で微小変位を測定可能とする基材、この基材の微小変位測定方法および測定装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a base material, which enables a minute displacement to be contactlessly measured without varying any physical property of a base material to be measured, and to provide a method and apparatus for measuring the minute displacement of the base material. - 特許庁

これまで測定が不可能とされた粒径が5um以下の微粒子の付着力の測定という問題を解決し、容易に微粒子の付着力の測定ができる粒子付着力測定装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and method for measuring a particle adhesion, which can solve the problem that measuring the adhesion of a fine particle whose particle size is 5 μm or less can not be performed by conventional methods, and can measure the adhesion of the fine particle easily. - 特許庁

ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡例文帳に追加

ABERRATION MEASURING METHOD USING RONCHIGRAM AND ABERRATION CORRECTION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いた回路パターンの寸法計測装置およびその方法例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DIMENSION OF CIRCUIT PATTERN BY USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡法および臨界寸法測定機器のための電子ビーム線量制御例文帳に追加

ELECTRON BEAM DOSE CONTROL FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT EQUIPMENT - 特許庁

電位差計測法において微量サンプルで精度が高い分析手法を提供する。例文帳に追加

To provide a highly accurate analysis method with a minute amount of a sample in a potential difference measurement method. - 特許庁

電磁波の周波数の測定方法および微生物等の殺滅除去方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING FREQUENCY OF ELECTROMAGNETIC WAVE AND METHOD FOR KILLING AND ELIMINATING MICROBE OR THE LIKE - 特許庁

微細なパターン加工寸法を高精度に測定することができるモニタ方法を提供する。例文帳に追加

To provide a monitoring method capable of measuring a fine patterning size with high accuracy. - 特許庁

簡易ＢＯＤ測定方法、有機性廃水の処理方法、及びこれらに用いる乾燥固定化微生物例文帳に追加

SIMPLE BOD MEASURING METHOD, ORGANIC WASTEWATER TREATMENT METHOD AND DRY IMMOBILIZED MICROORGANISMS USED IN THESE METHODS - 特許庁

磁気記録媒体の磁化パターン形成方法及び微小間隙の測定方法例文帳に追加

MAGNETIZED PATTERN FORMING METHOD FOR MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND FINE GAP MEASURING METHOD - 特許庁

微細針状二酸化チタン群生成方法及び板表面の実質的反応面積測定方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING FINELY ACICULAR TITANIUM DIOXIDE GROUP AND METHOD FOR MEASURING ACTUAL REACTION AREA ON SURFACE OF SHEET - 特許庁

局所格子歪測定方法とそれを利用した微小な装置の製造方法例文帳に追加

LOCAL LATTICE STRAIN MEASURING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING MICRO-DEVICE USING THE SAME - 特許庁

原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法例文帳に追加

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM - 特許庁

微生物の分解活性を測定するための試薬、この試薬を用いた微生物の標識方法、分解活性の測定方法、及び分解活性の測定用キット、並びにこの試薬の製造方法例文帳に追加

REAGENT FOR MEASURING DECOMPOSITION ACTIVITY OF MICROORGANISM, METHOD FOR LABELING MICROORGANISM USING THE REAGENT, METHOD FOR MEASURING DECOMPOSITION ACTIVITY, KIT FOR MEASURING DECOMPOSITION ACTIVITY, AND METHOD FOR PRODUCING THE REAGENT - 特許庁

走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法例文帳に追加

SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD - 特許庁

着色微粒子の形状測定方法と着色微粒子分散体、それを用いた水性インク及び画像形成方法例文帳に追加

SHAPE MEASURING METHOD FOR COLORED PARTICULATE, COLORED PARTICULATE DISPERSED BODY, AND AQUEOUS INK AND IMAGE FORMING METHOD USING THE SAME - 特許庁

走査電子顕微鏡の自動検出シーケンスファイル作成方法及び走査電子顕微鏡の自動測長シーケンス方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING AUTOMATIC SEQUENCE FILE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF AUTOMATIC MEASURING SEQUENCE - 特許庁

電子顕微鏡装置およびそのシステム並びに電子顕微鏡装置およびそのシステムを用いた寸法計測方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE, ITS SYSTEM, AND DIMENSION MEASURING METHOD USING THEM - 特許庁

プローブ顕微鏡を用いた、迅速且つ精度のよい微小寸法を計測する方法の改良技術を提供する。例文帳に追加

To provide an improved technology for measuring small dimensions quickly and accurately by using a probe microscope. - 特許庁

透過法を用いた顕微赤外分光測定装置および透過法による赤外吸収スペクトル測定方法例文帳に追加

INFRARED MICROSPECTROMETRY DEVICE USING TRANSMISSION METHOD, AND INFRARED ABSORPTION SPECTRUM MEASURING METHOD BY TRANSMISSION METHOD - 特許庁

堆積したガラス微粒子にレーザー光線を照射し、ガラス微粒子が発生する超音波により振動するガラス微粒子堆積体表面の変位を計測し、計測された表面変位からガラス微粒子堆積層の嵩密度を求めることを特徴とするガラス微粒子堆積体の製造方法。例文帳に追加

In the method of manufacturing the glass fine particle deposition, the bulk density of the glass fine particle deposition is determined by surface displacement measured by irradiating the deposited glass fine particle with laser beam, detecting the displacement of the surface of the glass fine particle deposition vibrated by ultrasonic wave generated by the glass fine particle. - 特許庁

微細な測定物の大きさの測定に適用することができて、作業者による測定値のばらつきが発生せず、測定精度が高い測長装置及び測長方法を提供する。例文帳に追加

To provide a length measurement device and length measurement method of high measurement accuracy that are applicable for measuring the size of a fine measuring object and do not cause fluctuation of the measured values by a worker. - 特許庁

可視光の波長より小さなサブミクロン微粒子のブラウン運動を可視化して、個々の粒子の位置および移動量を測定し、粒径及び粘性係数を計測できる暗視野式微粒子計測装置および暗視野式微粒子計測方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a dark-field particle measurement method and a device for it, capable of visualizing the Brownian movement of submicron particles which are smaller than the wavelength of visible light for measuring the position and movement amount of each particle for measurement of the particle size and the coefficient of viscosity. - 特許庁

微生物を検出する方法において、微生物を迅速に、正確に、検出し、検体中の微生物の個数を計測する生物計測装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an apparatus for measuring a number of microorganisms in a specimen, by rapidly and accurately detecting the microorganism, in a method for detecting the microorganism. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で得られる画像から微細パターンの側壁角度を精度良く測定することができる微細パターン測定方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a fine pattern measuring method which accurately measures a sidewall angle of a fine pattern from an image obtained by a scanning electron microscope. - 特許庁

ノイズが少なく、微小トルクの測定を行うことができる転がり軸受装置のトルク測定方法、転がり軸受装置のトルク測定装置、転がり軸受のトルク測定方法および転がり軸受のトルク測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and device of measuring a torque of a ball bearing device, and a method and device of measuring a torque of a ball bearing, performing measuring of a small torque with little noise. - 特許庁

画像式測定方法であっても、動的測定や１ｍｍ以下の微小変位を離れた位置からの完全非接触測定を可能とし、測定精度の推定を可能にする構造物変位量測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a structure displacement measuring method capable of a dynamic measurement as well as a completely contactless measurement of a minute displacement equal to or less than 1 mm from a distant position even for an image type measuring method and capable of estimating a measurement accuracy. - 特許庁

共焦点型レーザー顕微鏡における合焦点位置決定方法および測定対象物の表面の高さ測定方法例文帳に追加

METHOD FOR POSITIONING FOCUSING POINT IN CONFOCAL LASER MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING HEIGHT OF SURFACE OF OBJECT TO BE MEASURED - 特許庁

共焦点型レーザー顕微鏡における合焦点位置判定方法および測定対象物の表面の高さ測定方法例文帳に追加

METHOD FOR POSITIONING FOCUSING POINT IN CONFOCAL LASER MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING HEIGHT OF SURFACE OF OBJECT TO BE MEASURED - 特許庁

より微細な基準寸法を有する測長用標準部材およびその作製方法を含む電子ビーム測長技術を提供する。例文帳に追加

To provide a standard member for length measurement having a finer standard dimension and an electron beam length measuring technology including its manufacturing method. - 特許庁

簡便な方法で大量の光近接効果補正パターンを効率よく測定することができる微細パターン測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fine pattern measuring method which can efficiently measure a large number of light proximity effect correction patterns by an easy method. - 特許庁

固体材料中の粒子の粒径を定量的に測定することができる、顕微ラマン分光法による測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a measuring method using a microscopic Raman spectroscopy, capable of quantitatively measuring a particle size of a particle in a solid material. - 特許庁

ビーム径寸法に由来する測長誤差を低減が可能な試料の測長方法、及び走査顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a length measuring method for a sample in which a length measurement error due to a beam diameter size can be reduced and to provide a scanning microscope. - 特許庁

光電子増倍管を用いて光子計数法で微弱光の強度を正確に測定する光測定方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a light measuring method and device for accurately measuring the intensity of feeble light by photon counting method by use of a photomultiplier. - 特許庁

超音波顕微鏡を使用した音速測定方法、その音速測定装置、画像診断方法およびその画像診断装置例文帳に追加

SONIC SPEED MEASURING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE - 特許庁

磁気円二色性測定方法、磁気円二色性光電子放出顕微鏡、及び磁気円二色性光電子放出顕微鏡システム例文帳に追加

MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD, MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE, AND MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE SYSTEM - 特許庁

微粒子個々の磁化率及び微粒子個々に含まれる磁性物質を測定することのできる、磁気泳動方法及び磁気泳動装置を提供する。例文帳に追加

To provide a magnetophoresis device and a magnetophoresis device for measuring magnetic susceptibility of each particulate and magnetic substance included in each particulate. - 特許庁

ノンコンタクト走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバーの発振振幅測定方法および走査プローブ顕微鏡例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING OSCILLATION AMPLITUDE OF CANTILEVER IN NONCONTACT SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES - 特許庁

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法例文帳に追加

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT - 特許庁

高い定量精度を有する走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法、および、その走査型プローブ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a measurement method that uses a scanning probe microscope having high quantitative precision, and to provide the scanning probe microscope. - 特許庁

ガス成分を排除して微粒子成分のみの分析を良好に行うことができるガス中の微粒子成分計測装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for measuring a particulate component in a gas which eliminate a gas component and finely analyze the particulate component only. - 特許庁

ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法例文帳に追加

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF MICROSIGNAL SUPPERPOSED ON TUNNEL CURRENT USING IT - 特許庁