「測微法」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

発光体の微弱発光領域を光学装置によって観測するための方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR OBSERVING WEAK LUMINESCENCE AREA OF ILLUMINANT USING OPTICAL DEVICE - 特許庁

媒体中の低屈折率微小球体の径及び分布等の測定方法と装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DIAMETER, DISTRIBUTION OR THE LIKE OF LOW REFRACTIVE INDEX MINUTE SPHERE IN MEDIUM - 特許庁

磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法例文帳に追加

MAGNETIC-RESONANCE-TYPE EXCHANGE INTERACTION FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF EXCHANGE INTERACTION FORCE USING IT - 特許庁

微小構造ナビゲーション技術における表面の予測パルス照明方法例文帳に追加

METHOD FOR LIGHTING PREDICTION PULSE TO SURFACE IN MICRO- TEXTURE NAVIGATION TECHNOLOGY - 特許庁

微量で短時間に特異的に料を測定できる希少糖の特異的定量法の提供。例文帳に追加

To provide a specific assay for a premium sugar capable of measuring specifically a quantity in a short time, using a micro-amount thereof. - 特許庁

本発明の微生物数測定方法は、試料をフィルター部で濾過して微生物を捕捉するとともに、試料中の液成分を分離し、捕捉した微生物を所定の測定溶媒に再懸濁させ、この再懸濁した測定溶媒中の微生物を誘電泳動によって電極上に集め、このときのインピーダンス変化を測定して微生物数を算出することを特徴とする例文帳に追加

This method for counting microorganisms is characterized by comprising the steps of filtering a sample through a filter unit to catch the microorganisms in the sample, concurrently separating the liquid component in the sample, suspending thus caught microorganisms again in a specified measuring solvent, collecting the microorganisms in the resultant suspension by dielectrophoresis, and measuring the impedance change at this time to calculate the objective microorganismal count. - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法例文帳に追加

TEST PIECE CARRIER FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, OBSERVATION AND CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHODS USING THE SAME, AND TEST PIECE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like. - 特許庁

測定対象物に対して投光側で照射位置を制御するようにし、受光側では反射光の有無のみを判断して微小変位量を精度高く測定するようにした微小変位の測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method of measuring micro displacement for measuring the micro displacement highly precisely by controlling the position of irradiation on the emitting side for an object of measurement and determining only the presence/absence of the reflected light on the light receiving side. - 特許庁

アンダーシュートによる測定誤差のない微粒子測定装置、および小さな粒径のものを感度よく測定する微粒子の分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device for measuring fine particles without any measurement error due to undershooting, and a method for analyzing the fine particles for sensitively measuring those with a small particle diameter. - 特許庁

発熱源と温度検出素子を使用して正確に流体の流量を測定することができ、微少量や極微少流量の流量も正確に測定することができる流量測定方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for measuring the quantity of flow capable of accurately measuring the quantity of flow of a fluid through the use of an exothermic source and temperature detecting elements and also accurately measuring a very small quantity and an extremely small quantity of flow. - 特許庁

次いで、本実施の形態の製造方法では、計測工程Ｓ１で得られた計測結果、すなわちマイクロフライアイレンズ５の各微小光学面の面形状に関する計測データを２階微分して照度ムラ関数を求める（Ｓ２）。例文帳に追加

Then,, measurement results acquired in a measuring process S1, namely, the data measured on the surface shape of each fine optical surface of the micro fly-eye lens 5, are subjected to second differentiation, to determine an illuminance irregularity function (S2). - 特許庁

ウェハを切断せずに半導体デバイスの微細パターンの３次元形状を測定できる微細パターンの３次元形状測定システム及び３次元形状測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a system and a method that can measure the three- dimensional shape of a fine pattern in a semiconductor device without cutting wafer. - 特許庁

ラマン分光測定法により、被測定物内部の水分量を簡便にかつ正確に測定する方法、及び顕微分光測定法に用いることができるコンタクト剤を提供する。例文帳に追加

To provide a method for measuring a liquid water content simply and correctly in a measured object based on a Raman spectrometry method and a contact agent usable for a micro-spectrophotometrical method. - 特許庁

被測定物にダメージを与えず、正確に被測定物のパターンの微細寸法を測定することができる寸法測定方法とその装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a dimension measuring method capable of accurately measuring a minute dimension of a pattern of an object to be measured, without damaging the measured object, and its instrument. - 特許庁

測定対象物に光を照射し、その反射光を受光して遅延時間や距離を測定するに際し、より一層、測定誤差を微小にする測量装置及び測量方法を提供する。例文帳に追加

To provide a survey system and a survey method capable of making a measuring error very low, when irradiating a measuring object with light and for receiving reflected light thereof to measure a delay time and a distance. - 特許庁

測定画面内の二次元歪みに応じて、寸法測定値を校正して、画面内の測定箇所による測定値の変動をなくし、ＸＹステージ機構による微調整を不要とし、測定時間の短縮を図ることを目的とする。例文帳に追加

To shorten a measuring time with calibrating a dimension measured value responding to two-dimensional distortion in a measured screen, without fluctuations of the value owing to a measuring position in the screen and without slight adjustment by a XY stage mechanism. - 特許庁

測定対象が微小粒子であっても良好な位置信号調整信号を得ることができ、測定対象の試料（微小粒子）の位置を精度良く検出し、試料から発せられる蛍光や散乱光などを効率よく測定ことが可能な光学的測定装置及び光学的測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide an optical measuring device and an optical measuring method capable of acquiring an excellent position signal adjusting signal even if a measuring object is a fine particle, detecting accurately the position of a measuring object sample (fine particle), and measuring efficiently fluorescence, scattered light or the like emitted from the sample. - 特許庁

顕微鏡の被写界深度を大幅に超えた立体形状を持つ被測定物を、被測定物や顕微鏡等を移動させることなく、短時間で効率的に、高精度な形状測定を行うことができる形状測定装置および形状測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a shape measurement apparatus and a shape measurement method capable of performing the efficient and high-accuracy shape measurement of a measurement object in a short time, which has a three-dimensional shape greatly exceeding a depth of a field of a microscope without moving the measurement object or the microscope. - 特許庁

微小粒子濃度分布の予測方法、解析装置、微小粒子濃度分布の予測プログラム、建築物の設計方法、および建築物を建築する方法例文帳に追加

PREDICTION METHOD FOR FINE PARTICLE DENSITY DISTRIBUTION, ANALYSIS DEVICE, PREDICTION PROGRAM FOR FINE PARTICLE DENSITY DISTRIBUTION, DESIGN METHOD FOR BUILDING AND METHOD FOR CONSTRUCTING BUILDING - 特許庁

エネルギースペクトル測定装置，電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法例文帳に追加

ENERGY SPECTRUM MEASURING DEVICE, ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE HAVING THIS DEVICE AND ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD - 特許庁

標準試料を使用することなく正確に測定可能な走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of accurate measurement without using any standard samples, and to provide a measurement method using the scanning electron microscope. - 特許庁

一層高い有用性及び測定精度を有する原子間力顕微鏡及びその測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an atomic force microscope having high usability and high measuring precision, and a method therefor. - 特許庁

ナノメートルスケールの計測標準試料およびナノメートルスケールの計測標準試料を用いた走査型顕微鏡の校正方法例文帳に追加

MEASUREMENT STANDARD SPECIMEN OF NANOMETER SCALE AND METHOD OF CALIBRATING SCANNING TYPE MICROSCOPE USING THE MEASUREMENT STANDARD SPECIMEN OF NANO METER SCALE - 特許庁

微小領域において格子定数の６つのパラメータ全てを測定できる収束電子回折測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a convergence electron diffraction measuring method capable of measuring all of six parameters of lattice constants in a microregion. - 特許庁

短時間にスペクトル測定を行うことができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical microscope and a spectrum measurement method for measuring a spectrum in a short time. - 特許庁

これにより、簡単な測定方法で、ＬＳＩ上の高速かつ微弱で範囲の広い電圧波形を高精度に測定することができる。例文帳に追加

Thus, the high speed, feeble, and wide range voltage waveform on the LSI can be highly accurately measured by a simple measuring method. - 特許庁

、顕微赤外測定に供する錠剤試料中の測定部位を容易に且つ正確に特定する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of easily and accurately determining a measurement part in a tablet specimen used for microscopic infrared measurement. - 特許庁

測定に要する時間が短いうえに、測定精度が高く、高価な装置を必要としない、細菌等の微生物検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a detecting method of a microorganism such as bacteria that requires only short measuring time, has high measuring accuracy, and does not require an expensive device. - 特許庁

Ｓ／Ｎ比をよくするとともに、微量な測定対象物でも時間分解蛍光偏光解消法による測定を可能にする。例文帳に追加

To improve the S/N ratio and to achieve a measurement by a time-resolved fluorescence depolarization method even for a minute amount of measurement target. - 特許庁

ＳＣＭ測定及びＳＳＲＭ測定に適用できる走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of preparing sample for a scanning probe microscope applicable to SCM (Scanning Capacitance Microscope) measurement and SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscope) measurement. - 特許庁

蛍光免疫法により、微生物、化学物質などを高感度かつ迅速、簡便に測定し測定値の確実性を図る。例文帳に追加

To maintain the authenticity of measurement values by rapidly and easily measuring microbes, chemical substances, or the like with high sensitivity by a fluorescence immunity method. - 特許庁

形状測定データの補正方法、形状測定データの補正プログラム、および走査型プローブ顕微鏡例文帳に追加

METHOD FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, PROGRAM FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE - 特許庁

測定毎の変動係数が小さく、より信頼性の高い真核微生物の活性測定法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for measuring activity of eukaryotic microorganism, which method causes small variation index of each measurement and has higher reliability. - 特許庁

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。例文帳に追加

To provide a length-measuring method of a scanning electron microscope wherein no error in measuring length takes place from the configuration of a sample or film kind, etc. - 特許庁

測定対象微生物をより高感度かつ迅速に、高い信頼性を持って測定する方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for measuring an objective microbe speedily with a higher sensitivity and a high reliability. - 特許庁

高い分解能の測定を行うことができる光学顕微鏡、及び分光測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical microscope capable of carrying out measurement with high resolution, and a spectral measurement method. - 特許庁

血液測定方法では、被験者から測定した容積脈波を２回微分し、加速度脈波を得る。例文帳に追加

In this method for measurement of blood pressure, an acceleration pulse wave is obtained by twice differentiating a volume pulse wave measured on the subject. - 特許庁

微細な被測温部を正確に測温可能であり、製造性にも優れた熱電対の製造方法等を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a thermocouple capable of accurately measuring a temperature of a fine target member, and having an excellent manufacturability. - 特許庁

微細な周期的構造について高精度かつ高スループットでの形状計測を実現するための基板計測方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a substrate measuring method capable of measuring a shape of a fine periodic structure highly accurately with high throughput. - 特許庁

微小な内部歪に対する検出精度を向上させた透光体の内部歪の測定方法及び測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide an internal strain measuring method of a light permeable member enhanced in the detection precision of fine internal strain, and also to provide an internal strain measuring instrument therefor. - 特許庁

前記平均表面電位分布の測定としては原子間力顕微鏡像による測定法が挙げられる。例文帳に追加

As the measurement of the average surface potential distribution, a measuring method of an atomic force microscope image can be enumerated. - 特許庁

ヒト皮膚と創傷被覆材との間の微小空間の環境を模擬的に測定する装置およびその測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and method for mimicly measuring the environment of a minute space between the human skin and wound covering material, and to provide its measuring method. - 特許庁

フローサイトメトリーを用いた物質の測定方法及びフローサイトメトリーにおける測定用微粒子例文帳に追加

MEASURING METHOD OF SUBSTANCE USING FLOW-SITEMETRY AND FINE PARTICLES FOR MEASUREMENT IN FLOW-SITEMETRY - 特許庁

微量の大気中汚染物質をも的確に測定することができる大気中汚染物質の非接触測定方法及びその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a non-contact measurement method and a non-contact measuring apparatus for accurately measuring even a micro contaminant in the atmosphere. - 特許庁