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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 測微法に関連した英語例文

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測微法の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1478



例文

小粒子固相上に固定化された物質の例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING SUBSTANCE FIXED ON MINUTE PARTICLE SOLID PHASE - 特許庁

陽電子消滅によるフリーラジカル超細結合定数例文帳に追加

METHOD FOR DETERMINING SUPERFINE COUPLING CONSTANT OF FREE RADICAL BY POSITRON ANNIHILATION - 特許庁

散乱媒質中量成分濃度の無侵襲およびその装置例文帳に追加

NONINVASIVE MEASUREMENT METHOD FOR TRACE COMPONENT DENSITY IN SCATTERED MEDIUM, AND APPARATUS THEREFOR - 特許庁

乾性沈着する水銀等量金属の捕集装置および定方例文帳に追加

APPARATUS FOR COLLECTING TRACE OF DRY-DEPOSITING METAL SUCH AS MERCURY AND MEASURING METHOD - 特許庁

例文

鏡的イメージングにより核酸の物理的特性を定する方例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTIC OF NUCLEIC ACID BY MICROSCOPIC IMAGING - 特許庁


例文

ガス中の量成分の計を簡易にしかも感度良く計することができるガス中の量元素成分濃度を計する量成分計装置及び方を提供する。例文帳に追加

To provide an instrument and a method for measuring concentration of a microingredient in gas, capable of measuring easily and sensitively the micro amount of component in the gas. - 特許庁

多数の試料の量元素定を可能にし、かつ時間短縮して精度よく定できるようにしたPIXEによる量元素定方及び量元素定装置を提供するものである。例文帳に追加

To provide a trace of element measuring method and a trace of element measuring instrument by a PIXE, capable of measuring trace of elements in a large number of samples, and allowing precise measurement while shortening a time therefor. - 特許庁

走査プローブ顕鏡を用いた試料定における定条件設定方例文帳に追加

MEASURING CONDITION SETTING METHOD IN MEASUREMENT OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

定液に含まれる生物とその担体の濃度を定する方である。例文帳に追加

The method for measuring the concentration of the microorganism or its carrier included in a liquid to be measured is provided. - 特許庁

例文

レジストパターン定方、走査電子顕鏡型長装置及び半導体装置例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING RESIST PATTERN, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DIMENSION MEASURING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

例文

精度の高い定を行うことができる走査型電子顕鏡を用いた長方を提供する。例文帳に追加

To provide a length measuring method using a scanning electron microscope capable of highly accurate measurement. - 特許庁

長機能を備えた走査形電子顕鏡およびそれを使用した長方例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTANCE MEASUREMENT FUNCTION AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁

蛍光顕鏡及び蛍光寿命の定方、並びに蛍光寿命の定用プログラム例文帳に追加

FLUORESCENCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF FLUORESCENT LIFETIME, AND MEASURING PROGRAM OF FLUORESCENT LIFETIME - 特許庁

細パターンの計、計装置および半導体デバイスの製造管理システム例文帳に追加

FINE PATTERN MEASURING METHOD, MEASURING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING MANAGEMENT SYSTEM - 特許庁

細透孔を有する金属薄板の透過率定装置および透過率定方例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING TRANSMITTIVITY OF METAL THIN PLATE HAVING FINE THROUGH-HOLE - 特許庁

SPMの物理特性定方定プログラム及び走査型プローブ顕鏡装置例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS - 特許庁

定時間を短縮することができる光学顕鏡、及びスペクトル定方を提供する。例文帳に追加

To provide an optical microscope capable of shortening a measurement time, and to provide a spectrum measuring method. - 特許庁

ディスプレイ顕鏡画像を用いたパターン定方及び定システム例文帳に追加

METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING PATTERN WITH USE OF DISPLAY MICROSCOPE IMAGE - 特許庁

共焦点像計システム、共焦点顕鏡、及び共焦点像計例文帳に追加

CONFOCAL IMAGE MEASURING SYSTEM, CONFOCAL MICROSCOPE, AND CONFOCAL IMAGE MEASURING METHOD - 特許庁

樹脂から放出される量ホルムアルデヒドの定方及び定装置例文帳に追加

METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING MINUTE AMOUNT OF FORMALDEHYDE RELEASED FROM RESIN - 特許庁

飛翔している小粒子の形状、飛翔速度、飛翔方向の計、およびその計装置例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING SHAPE, FLYING SPEED AND FLYING DIRECTION OF FLYING FINE PARTICLE, AND APPARATUS FOR MEASURING THEM - 特許庁

表面状態計、表面状態計装置、顕鏡、情報処理装置例文帳に追加

SURFACE STATE MEASURING METHOD AND DEVICE, MICROSCOPE, AND INFORMATION PROCESSOR - 特許庁

小粒子を正確に定及び分取可能な光学的定方等を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical measurement method which enables the measurement and dispensation of fine particles correctly. - 特許庁

走査型形状定装置、原子間力顕鏡及びそれを用いた表面形状定方例文帳に追加

SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁

統計的干渉計の円滑な実施を可能にする小変位計装置を提供する。例文帳に追加

To provide a minute displacement measuring apparatus enabling smooth performance of statistical interferometry. - 特許庁

面形状定装置、面形状定方、および顕鏡対物光学系例文帳に追加

SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE, SURFACE SHAPE MEASURING METHOD, AND MICROSCOPIC OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM - 特許庁

免疫学的小粒子の凝集反応を用いる検体の定方および定用キット例文帳に追加

METHOD AND KIT FOR MEASURING SPECIMEN USING AGGLUTINATION REACTION OF IMMUNOLOGICAL MICRO PARTICLE - 特許庁

薄膜コート粉体のコート層膜厚定方および膜厚定装置例文帳に追加

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE FOR COAT LAYER OF THIN-FILM COATED FINE POWDER, AND THE FILM THICKNESS MEASURING DEVICE - 特許庁

細なパターンを正確に定することができる形状定方及びその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and device for measuring a form which can measure a fine pattern accurately. - 特許庁

光学顕鏡、位相差顕鏡、分干渉顕鏡または偏光顕鏡等の第1の顕鏡で観察した定対象物の位置情報等から電子顕鏡観察における定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方を提供する。例文帳に追加

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope. - 特許庁

電子顕鏡で定する試料を簡易に作製でき試料定が容易な試料定方及び定用試料基材を提供すること。例文帳に追加

To provide a specimen measurement method for simply manufacturing a specimen measured by using an electron microscope and facilitating specimen measurement, and to provide a specimen base material for measurement. - 特許庁

生物を検出する方、及びその計において、生物を正確に検出できる生物検出方生物計装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a method for detecting microorganisms capable of accurately detecting the microorganisms and a device for metering the microorganisms in the methods for detecting and metering the microorganisms. - 特許庁

走査型プローブ顕鏡を用いた定方およびその走査型プローブ顕鏡、並びに、ケルビンフォース顕例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE - 特許庁

本発明の浮遊粒子分析方は、粒子捕集工程と撮像工程と粒子定工程とを備えた構成を有する。例文帳に追加

The analytical method of the floating particulates is provided with a process of catching the particulates, an imaging process, and a measuring process of the particulates. - 特許庁

走査型プローブ顕鏡用カンチレバー及びその製造方、並びに走査型プローブ顕鏡及び表面電荷定顕例文帳に追加

CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE - 特許庁

超純水中の粒子を容易に、かつ精度よく定することが可能な超純水中の粒子数の定方及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for measuring the number of particulates in ultrapure water, capable of easily and precisely measuring particulates in ultrapure water. - 特許庁

試料の高さ定方及び共焦点顕鏡及び共焦点顕鏡の高さ定プログラムを記録した記録媒体およびそのプログラム例文帳に追加

SAMPLE HEIGHT MEASUREMENT METHOD, CONFOCAL MICROSCOPE, AND RECORD MEDIUM WITH HEIGHT MEASUREMENT PROGRAM OF THE CONFOCAL MICROSCOPE RECORDED THEREON, AND THE PROGRAM - 特許庁

表面に多糖を有する生物を免疫学的定方により定するに際して、予め、該生物をグリカナーゼ処理する。例文帳に追加

When a microbe having polysaccharide on the surface is to be measured by an immunological measuring method, the microbe is subjected to glycanaze treatment in advance. - 特許庁

ATPを用いて不特定の生物を計し、管理することのできる生物計システムを提供する。例文帳に追加

To provide a microorganism-measuring system capable of measuring unspecified microorganisms by using an ATP method and managing them. - 特許庁

小伝導領域のインピーダンス定回路、ならびに小伝導領域のインピーダンス定方例文帳に追加

IMPEDANCE MEASURING CIRCUIT OF FINE CONDUCTIVE REGION AND IMPEDANCE MEASURING METHOD OF FINE CONDUCTIVE REGION - 特許庁

試料表面の細な周期的構造を非破壊で計できる細表面周期構造の計装置および方を提供する。例文帳に追加

To provide an instrument and method for measuring a minute surface periodic structure for nondestructively measuring a minute periodic structure of a specimen surface. - 特許庁

超純水中の細でかつ含有量がごく少ない粒子の定を可能にする新しい定方を提供する例文帳に追加

To provide a new measuring method, which can measure fine particles in ultrapure water containing extremely few fine particles. - 特許庁

小粒子濃度分布の予、解析装置、小粒子濃度分布の予プログラム、その予を用いて設計された建築物および小粒子拡散装置例文帳に追加

METHOD OF PREDICTING FINE PARTICLE CONCENTRATION DISTRIBUTION, ANALYZER, PROGRAM FOR PREDICTING FINE PARTICLE CONCENTRATION DISTRIBUTION, BUILDING DESIGNED USING THE PREDICTION METHOD, AND FINE PARTICLE DIFFUSER - 特許庁

細粒子の定方及び定装置に関し、大容量の純粋流体中に量に存在する直径数十nm程度の極小な細粒子の状態を大視野で正確且つ迅速に定することを可能にする。例文帳に追加

To accurately and rapidly measure the state of an extremely small, fine particle whose diameter is approximately several tens of nm existing in a large-capacity pure fluid by a small amount in a large visual field using a method and device for measuring a small amount of fine particles. - 特許庁

また、生物の計が、生物を蛍光標識する工程と、生物を含むサンプル液をマイクロフローとして流す工程と、マイクロフロー中の生物を蛍光顕鏡を介してカラー撮影する工程と、撮影された画像から生物の数を計する工程とを含む。例文帳に追加

The measuring method for microorganism contains a step to label the microorganism with fluorescent light, a step to pass the sample liquid containing the microorganism as a micro-flow, a step to photograph the microorganism in the micro-flow with a fluorescent microscope by color photography, and a step to count the number of microorganisms from the photographed image. - 特許庁

本発明は、散乱極弱光の定に好適な弱光定装置および弱光定方に関し、同一の波長領域の背景光成分に埋もれてしまうほどの弱な信号光であっても、その信号光の定を可能にする。例文帳に追加

To provide a faint light measurement device and a faint light measurement method suitable for measurement of extreamly faint scattered light capable of measuring even the faint signal light such as buried in a background light component in the same wavelength range. - 特許庁

細周期性溝の溝間隔を高精度に観及び加工観できる細周期性溝の観と装置及び加工観と装置を提供するものである。例文帳に追加

To provide a microperiodic groove observation method and a device and a machining observation method and a device, capable of accurately measuring and machining-measuring a groove gap between microperiodic grooves. - 特許庁

零分散に近いに近い小な分散値も精度よく定する波長分散定方および波長分散定装置を実現する。例文帳に追加

To provide a wavelength dispersion measuring method and a wavelength dispersion measuring device capable of measuring even a minute dispersion value close to zero dispersion. - 特許庁

簡単な定方で、LSI上の高速かつ弱で範囲の広い電圧波形を高精度に定することができる定回路を提供する。例文帳に追加

To provide a measuring circuit capable of highly accurately measuring a high speed, feeble, and wide range voltage waveform on an LSI by a simple measuring method. - 特許庁

例文

複合金属化合物が含有する量の陰イオン量を定する効率的な定方及び定装置を提供する。例文帳に追加

To provide an efficient measuring method for measuring a very small amount of anions contained in a composite metal compound, and a measuring instrument. - 特許庁

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