例文 (999件) |
測微法の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1478件
微小粒子固相上に固定化された物質の測定法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING SUBSTANCE FIXED ON MINUTE PARTICLE SOLID PHASE - 特許庁
陽電子消滅によるフリーラジカル超微細結合定数測定法例文帳に追加
METHOD FOR DETERMINING SUPERFINE COUPLING CONSTANT OF FREE RADICAL BY POSITRON ANNIHILATION - 特許庁
散乱媒質中微量成分濃度の無侵襲測定法およびその装置例文帳に追加
NONINVASIVE MEASUREMENT METHOD FOR TRACE COMPONENT DENSITY IN SCATTERED MEDIUM, AND APPARATUS THEREFOR - 特許庁
乾性沈着する水銀等微量金属の捕集装置および測定方法例文帳に追加
APPARATUS FOR COLLECTING TRACE OF DRY-DEPOSITING METAL SUCH AS MERCURY AND MEASURING METHOD - 特許庁
顕微鏡的イメージングにより核酸の物理的特性を測定する方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTIC OF NUCLEIC ACID BY MICROSCOPIC IMAGING - 特許庁
ガス中の微量成分の計測を簡易にしかも感度良く計測することができるガス中の微量元素成分濃度を計測する微量成分計測装置及び方法を提供する。例文帳に追加
To provide an instrument and a method for measuring concentration of a microingredient in gas, capable of measuring easily and sensitively the micro amount of component in the gas. - 特許庁
多数の試料の微量元素測定を可能にし、かつ時間短縮して精度よく測定できるようにしたPIXEによる微量元素測定方法及び微量元素測定装置を提供するものである。例文帳に追加
To provide a trace of element measuring method and a trace of element measuring instrument by a PIXE, capable of measuring trace of elements in a large number of samples, and allowing precise measurement while shortening a time therefor. - 特許庁
走査プローブ顕微鏡を用いた試料測定における測定条件設定方法例文帳に追加
MEASURING CONDITION SETTING METHOD IN MEASUREMENT OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
被測定液に含まれる微生物とその担体の濃度を測定する方法である。例文帳に追加
The method for measuring the concentration of the microorganism or its carrier included in a liquid to be measured is provided. - 特許庁
レジストパターン測定方法、走査電子顕微鏡型測長装置及び半導体装置例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING RESIST PATTERN, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DIMENSION MEASURING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
精度の高い測定を行うことができる走査型電子顕微鏡を用いた測長方法を提供する。例文帳に追加
To provide a length measuring method using a scanning electron microscope capable of highly accurate measurement. - 特許庁
測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測長方法例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTANCE MEASUREMENT FUNCTION AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁
蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム例文帳に追加
FLUORESCENCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF FLUORESCENT LIFETIME, AND MEASURING PROGRAM OF FLUORESCENT LIFETIME - 特許庁
微細パターンの計測方法、計測装置および半導体デバイスの製造管理システム例文帳に追加
FINE PATTERN MEASURING METHOD, MEASURING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING MANAGEMENT SYSTEM - 特許庁
微細透孔を有する金属薄板の透過率測定装置および透過率測定方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING TRANSMITTIVITY OF METAL THIN PLATE HAVING FINE THROUGH-HOLE - 特許庁
SPMの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS - 特許庁
測定時間を短縮することができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide an optical microscope capable of shortening a measurement time, and to provide a spectrum measuring method. - 特許庁
ディスプレイ顕微鏡画像を用いたパターン測定方法及び測定システム例文帳に追加
METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING PATTERN WITH USE OF DISPLAY MICROSCOPE IMAGE - 特許庁
共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法例文帳に追加
CONFOCAL IMAGE MEASURING SYSTEM, CONFOCAL MICROSCOPE, AND CONFOCAL IMAGE MEASURING METHOD - 特許庁
樹脂から放出される微量ホルムアルデヒドの測定方法及び測定装置例文帳に追加
METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING MINUTE AMOUNT OF FORMALDEHYDE RELEASED FROM RESIN - 特許庁
飛翔している微小粒子の形状、飛翔速度、飛翔方向の計測方法、およびその計測装置例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING SHAPE, FLYING SPEED AND FLYING DIRECTION OF FLYING FINE PARTICLE, AND APPARATUS FOR MEASURING THEM - 特許庁
表面状態計測方法、表面状態計測装置、顕微鏡、情報処理装置例文帳に追加
SURFACE STATE MEASURING METHOD AND DEVICE, MICROSCOPE, AND INFORMATION PROCESSOR - 特許庁
微小粒子を正確に測定及び分取可能な光学的測定方法等を提供すること。例文帳に追加
To provide an optical measurement method which enables the measurement and dispensation of fine particles correctly. - 特許庁
走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法例文帳に追加
SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁
統計的干渉計測法の円滑な実施を可能にする微小変位計測装置を提供する。例文帳に追加
To provide a minute displacement measuring apparatus enabling smooth performance of statistical interferometry. - 特許庁
面形状測定装置、面形状測定方法、および顕微鏡対物光学系例文帳に追加
SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE, SURFACE SHAPE MEASURING METHOD, AND MICROSCOPIC OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM - 特許庁
免疫学的微小粒子の凝集反応を用いる検体の測定方法および測定用キット例文帳に追加
METHOD AND KIT FOR MEASURING SPECIMEN USING AGGLUTINATION REACTION OF IMMUNOLOGICAL MICRO PARTICLE - 特許庁
薄膜コート微粉体のコート層膜厚測定方法および膜厚測定装置例文帳に追加
FILM THICKNESS MEASURING DEVICE FOR COAT LAYER OF THIN-FILM COATED FINE POWDER, AND THE FILM THICKNESS MEASURING DEVICE - 特許庁
微細なパターンを正確に測定することができる形状測定方法及びその装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method and device for measuring a form which can measure a fine pattern accurately. - 特許庁
光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第1の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope. - 特許庁
電子顕微鏡で測定する試料を簡易に作製でき試料測定が容易な試料測定方法及び測定用試料基材を提供すること。例文帳に追加
To provide a specimen measurement method for simply manufacturing a specimen measured by using an electron microscope and facilitating specimen measurement, and to provide a specimen base material for measurement. - 特許庁
微生物を検出する方法、及びその計測において、微生物を正確に検出できる微生物検出方法と微生物計測装置を提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a method for detecting microorganisms capable of accurately detecting the microorganisms and a device for metering the microorganisms in the methods for detecting and metering the microorganisms. - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE - 特許庁
本発明の浮遊微粒子分析方法は、微粒子捕集工程と撮像工程と微粒子測定工程とを備えた構成を有する。例文帳に追加
The analytical method of the floating particulates is provided with a process of catching the particulates, an imaging process, and a measuring process of the particulates. - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡例文帳に追加
CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE - 特許庁
超純水中の微粒子を容易に、かつ精度よく測定することが可能な超純水中の微粒子数の測定方法及び装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method and an apparatus for measuring the number of particulates in ultrapure water, capable of easily and precisely measuring particulates in ultrapure water. - 特許庁
試料の高さ測定方法及び共焦点顕微鏡及び共焦点顕微鏡の高さ測定プログラムを記録した記録媒体およびそのプログラム例文帳に追加
SAMPLE HEIGHT MEASUREMENT METHOD, CONFOCAL MICROSCOPE, AND RECORD MEDIUM WITH HEIGHT MEASUREMENT PROGRAM OF THE CONFOCAL MICROSCOPE RECORDED THEREON, AND THE PROGRAM - 特許庁
表面に多糖を有する微生物を免疫学的測定方法により測定するに際して、予め、該微生物をグリカナーゼ処理する。例文帳に追加
When a microbe having polysaccharide on the surface is to be measured by an immunological measuring method, the microbe is subjected to glycanaze treatment in advance. - 特許庁
ATP法を用いて不特定の微生物を計測し、管理することのできる微生物計測システムを提供する。例文帳に追加
To provide a microorganism-measuring system capable of measuring unspecified microorganisms by using an ATP method and managing them. - 特許庁
微小伝導領域のインピーダンス測定回路、ならびに微小伝導領域のインピーダンス測定方法例文帳に追加
IMPEDANCE MEASURING CIRCUIT OF FINE CONDUCTIVE REGION AND IMPEDANCE MEASURING METHOD OF FINE CONDUCTIVE REGION - 特許庁
試料表面の微細な周期的構造を非破壊で計測できる微細表面周期構造の計測装置および方法を提供する。例文帳に追加
To provide an instrument and method for measuring a minute surface periodic structure for nondestructively measuring a minute periodic structure of a specimen surface. - 特許庁
超純水中の微細でかつ含有量がごく少ない微粒子の測定を可能にする新しい測定方法を提供する例文帳に追加
To provide a new measuring method, which can measure fine particles in ultrapure water containing extremely few fine particles. - 特許庁
微小粒子濃度分布の予測方法、解析装置、微小粒子濃度分布の予測プログラム、その予測方法を用いて設計された建築物および微小粒子拡散装置例文帳に追加
METHOD OF PREDICTING FINE PARTICLE CONCENTRATION DISTRIBUTION, ANALYZER, PROGRAM FOR PREDICTING FINE PARTICLE CONCENTRATION DISTRIBUTION, BUILDING DESIGNED USING THE PREDICTION METHOD, AND FINE PARTICLE DIFFUSER - 特許庁
微量微細粒子の測定方法及び測定装置に関し、大容量の純粋流体中に微量に存在する直径数十nm程度の極微小な微細粒子の状態を大視野で正確且つ迅速に測定することを可能にする。例文帳に追加
To accurately and rapidly measure the state of an extremely small, fine particle whose diameter is approximately several tens of nm existing in a large-capacity pure fluid by a small amount in a large visual field using a method and device for measuring a small amount of fine particles. - 特許庁
また、微生物の計測方法が、微生物を蛍光標識する工程と、微生物を含むサンプル液をマイクロフローとして流す工程と、マイクロフロー中の微生物を蛍光顕微鏡を介してカラー撮影する工程と、撮影された画像から微生物の数を計測する工程とを含む。例文帳に追加
The measuring method for microorganism contains a step to label the microorganism with fluorescent light, a step to pass the sample liquid containing the microorganism as a micro-flow, a step to photograph the microorganism in the micro-flow with a fluorescent microscope by color photography, and a step to count the number of microorganisms from the photographed image. - 特許庁
本発明は、散乱極微弱光の測定に好適な微弱光測定装置および微弱光測定方法に関し、同一の波長領域の背景光成分に埋もれてしまうほどの微弱な信号光であっても、その信号光の測定を可能にする。例文帳に追加
To provide a faint light measurement device and a faint light measurement method suitable for measurement of extreamly faint scattered light capable of measuring even the faint signal light such as buried in a background light component in the same wavelength range. - 特許庁
微細周期性溝の溝間隔を高精度に観測及び加工観測できる微細周期性溝の観測方法と装置及び加工観測方法と装置を提供するものである。例文帳に追加
To provide a microperiodic groove observation method and a device and a machining observation method and a device, capable of accurately measuring and machining-measuring a groove gap between microperiodic grooves. - 特許庁
零分散に近いに近い微小な分散値も精度よく測定する波長分散測定方法および波長分散測定装置を実現する。例文帳に追加
To provide a wavelength dispersion measuring method and a wavelength dispersion measuring device capable of measuring even a minute dispersion value close to zero dispersion. - 特許庁
簡単な測定方法で、LSI上の高速かつ微弱で範囲の広い電圧波形を高精度に測定することができる測定回路を提供する。例文帳に追加
To provide a measuring circuit capable of highly accurately measuring a high speed, feeble, and wide range voltage waveform on an LSI by a simple measuring method. - 特許庁
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