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「測微法」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 測微法に関連した英語例文

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測微法の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1478



例文

液体混合デバイス、液体混合方及び量検体定方例文帳に追加

LIQUID MIXING DEVICE, LIQUID MIXING METHOD, AND MEASURING METHOD OF VERY SMALL AMOUNT OF SPECIMEN - 特許庁

排ガス浄化装置、排ガス浄化方、および粒子定方例文帳に追加

EXHAUST EMISSION CONTROL DEVICE, EXHAUST EMISSION CONTROL METHOD, AND PARTICULATE MEASUREMENT METHOD - 特許庁

動的超音波散乱定装置および粒子の解析方例文帳に追加

DYNAMIC ULTRASONIC SCATTERING METHOD MEASURING DEVICE AND ANALYSIS METHOD OF PARTICLES - 特許庁

基板位置定方、および小構造体の製造方例文帳に追加

SUBSTRATE POSITION MEASURING METHOD AND PRODUCTION METHOD FOR MICROSTRUCTURE - 特許庁

例文

半導体定装置及び半導体定方、サンプル作製方、並びに走査型容量顕例文帳に追加

SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE - 特許庁


例文

生物熱量計を用いた菌数の定方及び該定方に用いる寒天培地例文帳に追加

METHOD FOR DETERMINING THE NUMBER OF FUNGI USING MICROORGANISM COLORIMETER, AND AGAR MEDIUM USED FOR THE METHOD - 特許庁

走査型プローブ顕鏡、その定順序決定方、およびその定方例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MEASURING ORDER DETERMINATION METHOD, AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁

半導体ウェハの細パターンの寸及び3次元形状定方とその定装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL SHAPE AND DIMENSION OF FINE PATTERN IN SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

探針の形状計、試料の形状計、及びプローブ顕例文帳に追加

METHODS OF MEASURING PROBE SHAPE AND SAMPLE SHAPE, AND PROBE MICROSCOPE - 特許庁

例文

粒子を用いた定対象物質の定量・検出方及びその方に用いる定装置例文帳に追加

METHOD OF QUANTIFYING/DETECTING MEASURING OBJECTIVE SUBSTANCE USING FINE PARTICLES AND MEASURING DEVICE USED FOR THE METHOD - 特許庁

例文

走査プローブ顕鏡を用いた物性情報の定方、カンチレバー及び走査プローブ顕例文帳に追加

MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

X線回折顕鏡装置およびX線回折顕鏡装置によるX線回折定方例文帳に追加

X-RAY DIFFRACTION MICROSCOPE APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD BY THE SAME - 特許庁

走査型プローブ顕鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕鏡を用いた定方例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

探針、片持ち梁、走査型プローブ顕鏡、及び走査型トンネル顕鏡の定方例文帳に追加

PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE - 特許庁

生物の高感度検出生物検出のための発光定用試薬キット及びシステム例文帳に追加

METHOD FOR DETECTING MICROORGANISM IN HIGH SENSITIVITY, AND REAGENT KIT AND SYSTEM FOR ASSAYING LUMINESCENCE FOR THE DETECTION - 特許庁

電子顕鏡における定対象物の位置決定方および電子顕例文帳に追加

POSITION DETERMINATION METHOD OF MEASURING OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

鏡および顕鏡用標本作成方および試料観管理システム例文帳に追加

MICROSCOPE, SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM - 特許庁

原子間力顕鏡用のカンチレバー、原子間力顕鏡、および、原子間力の定方例文帳に追加

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE - 特許庁

赤外分光定用試料台、及び顕赤外分光分析用試料作製方例文帳に追加

SAMPLE BASE FOR INFRARED MICROSPECTROMETRY AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR INFRARED MICROSPECTROSCOPIC ANALYSIS - 特許庁

鏡的粒子を定量および定性定用に素早く検出して同定する方および装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR QUICKLY DETECTING AND IDENTIFYING MICROSCOPIC FINE PARTICLE FOR QUANTITATIVE AND QUALITATIVE MEASUREMENT - 特許庁

細弾性管及びその製造方並びに細弾性管を用いた粒子定装置例文帳に追加

FINE ELASTIC TUBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND GRAIN MEASURING DEVICE USING FINE ELASTIC TUBE - 特許庁

量液滴の体積の定方およびそれに用いる量液滴採取用基板例文帳に追加

VOLUME MEASURING METHOD FOR INFINITESIMAL DROPLET AND SUBSTRATE FOR INFINITESIMAL DROPLET COLLECTION USED THEREFOR - 特許庁

量試料用撹拌装置、及びそれを用いた量試料の特性定方、並びにその装置。例文帳に追加

AGITATION DEVICE FOR TRACE SAMPLE, CHARACTERISTIC MEASURING METHOD OF TRACE SAMPLE USING IT, AND DEVICE THEREFOR - 特許庁

超純水中の粒子捕捉システム及び粒子濃度定方例文帳に追加

SYSTEM FOR TRAPPING FINE PARTICLE IN ULTRA-PURE WATER, AND METHOD FOR MEASURING FINE PARTICLE CONCENTRATION - 特許庁

本発明のは、定対象物の生物を常温又は低温にて保存すること或いは冷凍保存することにより、生物数を変化せた試料を調製し、標準平板菌数生物数を定する。例文帳に追加

The measuring method involves preparing samples having different numbers of microorganisms by preserving the microorganisms of a measuring object at normal or lower temperature, or freezing the microorganisms, and counting the number of the microorganisms by a standard plate count method. - 特許庁

ペデスタル基板、電子顕鏡用定治具、定試料組み立て体、定試料の作製方及び定方例文帳に追加

PEDESTAL BASE PLATE, MEASURING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, MEASURING SAMPLE ASSEMBLY, METHOD FOR PRODUCING MEASURING SAMPLE AND MEASURING METHOD - 特許庁

細構造体パターンのボトム部の裾引きをCD−SEMを用いて、細構造体パターンのボトム部の裾引きを精度良く定することができる細パターン定方及び細パターン定装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a minute pattern measuring method which precisely measures trails of the bottom part of a minute structure pattern by using a CD-SEM; and to provide a minute pattern measuring device. - 特許庁

粒子捕捉用濾過膜の製造方粒子捕捉用濾過膜および超純水中の粒子定方例文帳に追加

METHOD FOR PRODUCING FILTERING MEMBRANE FOR CAPTURING PARTICULATE, FILTERING MEMBRANE FOR CAPTURING PARTICULATE, AND METHOD FOR MEASURING PARTICULATE IN ULTRAPURE WATER - 特許庁

多点小電極、生体電位計用デバイス、多点小電極の作製方、及び生体電位計用デバイスの作製方例文帳に追加

MULTIPOINT MICROELECTRODE, BIOPOTENTIAL MEASURING DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF MULTIPOINT MICROELECTRODE, AND MANUFACTURING METHOD OF BIOPOTENTIAL MEASURING DEVICE - 特許庁

透過型電子顕鏡の情報伝達限界およびこのが適用された透過型電子顕例文帳に追加

INFORMATION TRANSMISSION LIMIT MEASURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH THE MEASURING METHOD APPLIED - 特許庁

生物ATPのにおいて添加使用されるATP消去前処理剤および同処理剤を用いる生物ATPの高感度例文帳に追加

ATP EXTINCTION PRETREATMENT AGENT ADDED AND USED IN MICROORGANISM ATP ASSAY, AND HIGH-SENSITIVITY ASSAY OF MICROORGANISM ATP USING THE SAME AGENT - 特許庁

超音波顕鏡を使用した音速定方、その音速定装置、超音波顕鏡を使用した画像診断方およびその画像診断装置例文帳に追加

SONIC SPEED MEASURING METHOD USING ULTRASONIC MICROSCOPE, ITS SONIC SPEED MEASURING DEVICE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE - 特許庁

プローブ顕鏡による軟質物の表面形状定方、該定方に用いるプローブ顕例文帳に追加

METHOD OF MEASURING SURFACE SHAPE OF SOFT MATERIAL BY PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE USED FOR MEASURING METHOD - 特許庁

1MPa以上の高圧流体中の粒子定に際し、定部分への流路の清浄化と維持が適切に行え、かつ直検により粒子自体を定できる粒子定システム、ならびに粒子定方を提供する。例文帳に追加

To provide a particulate-measuring system, capable of properly performing the cleaning and maintenance of the flow channel to a measuring part in measuring particulates inside a high-pressure fluid of 1 MPa or higher and capable of measuring the particulates themselves by a direct inspection method, and to provide a particulate-measuring method. - 特許庁

陽電子分析顕鏡および陽電子ビームを用いた定方例文帳に追加

POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM - 特許庁

ポリ乳酸成型品およびポリ乳酸の細構造予例文帳に追加

POLYLACTIC ACID MOLDED ARTICLE AND METHOD FOR PREDICTING MICROSTRUCTURE OF POLYLACTIC ACID - 特許庁

カンチレバー振幅定方および非接触原子間力顕例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

砒素センサー生物及びそれを用いた砒素の定方例文帳に追加

ARSENIC SENSOR MICROORGANISM AND ARSENIC-MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁

走査型プローブ顕鏡(SPM)用プローブの取り付け角度定方例文帳に追加

METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM) - 特許庁

試料水中の粒子の個数濃度定方および装置例文帳に追加

NUMBER CONCENTRATION MEASURING METHOD AND DEVICE OF PARTICULATE IN SAMPLE WATER - 特許庁

三次元顕鏡装置及び同装置を用いた観察・例文帳に追加

THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE, AND OBSERVATION AND MEASURING METHOD USING THREE DIMENSIONAL MICROSCOPE - 特許庁

定顕鏡装置、その表示方、及びその表示プログラム例文帳に追加

MEASURING MICROSCOPE DEVICE, ITS DISPLAY METHOD, AND ITS DISPLAY PROGRAM - 特許庁

定位置合わせ方、カンチレバ及び走査形プローブ顕例文帳に追加

ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

量金属カルボニル化合物の定方を提供する。例文帳に追加

To provide a measurement method for a trace metal carbonyl compound. - 特許庁

走査型プローブ顕鏡及びその探針相対位置定方例文帳に追加

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION - 特許庁

複合生物系における特定菌株の存在量を定する方例文帳に追加

MEASUREMENT OF QUANTITY OF SPECIFIC STRAIN IN MULTIPLE- STRAIN MICROORGANISM SYSTEM - 特許庁

走査型プローブ顕鏡の試料ホルダ、および試料の定方例文帳に追加

SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD - 特許庁

量金属カルボニル化合物の定方及び捕集装置例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING TRACE METAL CARBONYL COMPOUND, AND APPARATUS FOR COLLECTING SAME - 特許庁

タンタル化合物中の量アルミニウム含有量の定方例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING CONTENT OF TRACE AMOUNT OF ALUMINUM IN TANTALUM COMPOUND - 特許庁

例文

走査型プローブ顕鏡および漏洩物理量の計例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY - 特許庁

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