例文 (999件) |
測微法の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1478件
液体混合デバイス、液体混合方法及び微量検体測定方法例文帳に追加
LIQUID MIXING DEVICE, LIQUID MIXING METHOD, AND MEASURING METHOD OF VERY SMALL AMOUNT OF SPECIMEN - 特許庁
排ガス浄化装置、排ガス浄化方法、および微粒子測定方法例文帳に追加
EXHAUST EMISSION CONTROL DEVICE, EXHAUST EMISSION CONTROL METHOD, AND PARTICULATE MEASUREMENT METHOD - 特許庁
動的超音波散乱法測定装置および微粒子の解析方法例文帳に追加
DYNAMIC ULTRASONIC SCATTERING METHOD MEASURING DEVICE AND ANALYSIS METHOD OF PARTICLES - 特許庁
基板位置測定方法、および微小構造体の製造方法例文帳に追加
SUBSTRATE POSITION MEASURING METHOD AND PRODUCTION METHOD FOR MICROSTRUCTURE - 特許庁
半導体測定装置及び半導体測定方法、サンプル作製方法、並びに走査型容量顕微鏡例文帳に追加
SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE - 特許庁
微生物熱量計を用いた菌数の測定方法及び該測定方法に用いる寒天培地例文帳に追加
METHOD FOR DETERMINING THE NUMBER OF FUNGI USING MICROORGANISM COLORIMETER, AND AGAR MEDIUM USED FOR THE METHOD - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MEASURING ORDER DETERMINATION METHOD, AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁
半導体ウェハの微細パターンの寸法及び3次元形状測定方法とその測定装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL SHAPE AND DIMENSION OF FINE PATTERN IN SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁
探針の形状計測方法、試料の形状計測方法、及びプローブ顕微鏡例文帳に追加
METHODS OF MEASURING PROBE SHAPE AND SAMPLE SHAPE, AND PROBE MICROSCOPE - 特許庁
走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡例文帳に追加
MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
X線回折顕微鏡装置およびX線回折顕微鏡装置によるX線回折測定方法例文帳に追加
X-RAY DIFFRACTION MICROSCOPE APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD BY THE SAME - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法例文帳に追加
PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE - 特許庁
微生物の高感度検出法、微生物検出のための発光測定用試薬キット及びシステム例文帳に追加
METHOD FOR DETECTING MICROORGANISM IN HIGH SENSITIVITY, AND REAGENT KIT AND SYSTEM FOR ASSAYING LUMINESCENCE FOR THE DETECTION - 特許庁
電子顕微鏡における測定対象物の位置決定方法および電子顕微鏡例文帳に追加
POSITION DETERMINATION METHOD OF MEASURING OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
顕微鏡および顕微鏡用標本作成方法および試料観測管理システム例文帳に追加
MICROSCOPE, SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM - 特許庁
原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法例文帳に追加
CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE - 特許庁
顕微赤外分光測定用試料台、及び顕微赤外分光分析用試料作製方法例文帳に追加
SAMPLE BASE FOR INFRARED MICROSPECTROMETRY AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR INFRARED MICROSPECTROSCOPIC ANALYSIS - 特許庁
顕微鏡的微粒子を定量および定性測定用に素早く検出して同定する方法および装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR QUICKLY DETECTING AND IDENTIFYING MICROSCOPIC FINE PARTICLE FOR QUANTITATIVE AND QUALITATIVE MEASUREMENT - 特許庁
微細弾性管及びその製造方法並びに微細弾性管を用いた粒子測定装置例文帳に追加
FINE ELASTIC TUBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND GRAIN MEASURING DEVICE USING FINE ELASTIC TUBE - 特許庁
微量液滴の体積の測定方法およびそれに用いる微量液滴採取用基板例文帳に追加
VOLUME MEASURING METHOD FOR INFINITESIMAL DROPLET AND SUBSTRATE FOR INFINITESIMAL DROPLET COLLECTION USED THEREFOR - 特許庁
微量試料用撹拌装置、及びそれを用いた微量試料の特性測定方法、並びにその装置。例文帳に追加
AGITATION DEVICE FOR TRACE SAMPLE, CHARACTERISTIC MEASURING METHOD OF TRACE SAMPLE USING IT, AND DEVICE THEREFOR - 特許庁
超純水中の微粒子捕捉システム及び微粒子濃度測定方法例文帳に追加
SYSTEM FOR TRAPPING FINE PARTICLE IN ULTRA-PURE WATER, AND METHOD FOR MEASURING FINE PARTICLE CONCENTRATION - 特許庁
本発明の測定法は、測定対象物の微生物を常温又は低温にて保存すること或いは冷凍保存することにより、微生物数を変化せた試料を調製し、標準平板菌数測定法で微生物数を測定する。例文帳に追加
The measuring method involves preparing samples having different numbers of microorganisms by preserving the microorganisms of a measuring object at normal or lower temperature, or freezing the microorganisms, and counting the number of the microorganisms by a standard plate count method. - 特許庁
ペデスタル基板、電子顕微鏡用測定治具、測定試料組み立て体、測定試料の作製方法及び測定方法例文帳に追加
PEDESTAL BASE PLATE, MEASURING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, MEASURING SAMPLE ASSEMBLY, METHOD FOR PRODUCING MEASURING SAMPLE AND MEASURING METHOD - 特許庁
微細構造体パターンのボトム部の裾引きをCD−SEMを用いて、微細構造体パターンのボトム部の裾引きを精度良く測定することができる微細パターン測定方法及び微細パターン測定装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a minute pattern measuring method which precisely measures trails of the bottom part of a minute structure pattern by using a CD-SEM; and to provide a minute pattern measuring device. - 特許庁
微粒子捕捉用濾過膜の製造方法、微粒子捕捉用濾過膜および超純水中の微粒子測定方法例文帳に追加
METHOD FOR PRODUCING FILTERING MEMBRANE FOR CAPTURING PARTICULATE, FILTERING MEMBRANE FOR CAPTURING PARTICULATE, AND METHOD FOR MEASURING PARTICULATE IN ULTRAPURE WATER - 特許庁
多点微小電極、生体電位計測用デバイス、多点微小電極の作製方法、及び生体電位計測用デバイスの作製方法例文帳に追加
MULTIPOINT MICROELECTRODE, BIOPOTENTIAL MEASURING DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF MULTIPOINT MICROELECTRODE, AND MANUFACTURING METHOD OF BIOPOTENTIAL MEASURING DEVICE - 特許庁
透過型電子顕微鏡の情報伝達限界測定法およびこの測定法が適用された透過型電子顕微鏡例文帳に追加
INFORMATION TRANSMISSION LIMIT MEASURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH THE MEASURING METHOD APPLIED - 特許庁
微生物ATPの測定法において添加使用されるATP消去前処理剤および同処理剤を用いる微生物ATPの高感度測定法例文帳に追加
ATP EXTINCTION PRETREATMENT AGENT ADDED AND USED IN MICROORGANISM ATP ASSAY, AND HIGH-SENSITIVITY ASSAY OF MICROORGANISM ATP USING THE SAME AGENT - 特許庁
超音波顕微鏡を使用した音速測定方法、その音速測定装置、超音波顕微鏡を使用した画像診断方法およびその画像診断装置例文帳に追加
SONIC SPEED MEASURING METHOD USING ULTRASONIC MICROSCOPE, ITS SONIC SPEED MEASURING DEVICE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE - 特許庁
プローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡例文帳に追加
METHOD OF MEASURING SURFACE SHAPE OF SOFT MATERIAL BY PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE USED FOR MEASURING METHOD - 特許庁
1MPa以上の高圧流体中の微粒子測定に際し、測定部分への流路の清浄化と維持が適切に行え、かつ直検法により微粒子自体を測定できる微粒子測定システム、ならびに微粒子測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a particulate-measuring system, capable of properly performing the cleaning and maintenance of the flow channel to a measuring part in measuring particulates inside a high-pressure fluid of 1 MPa or higher and capable of measuring the particulates themselves by a direct inspection method, and to provide a particulate-measuring method. - 特許庁
陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法例文帳に追加
POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM - 特許庁
ポリ乳酸成型品およびポリ乳酸の微細構造予測方法例文帳に追加
POLYLACTIC ACID MOLDED ARTICLE AND METHOD FOR PREDICTING MICROSTRUCTURE OF POLYLACTIC ACID - 特許庁
カンチレバー振幅測定方法および非接触原子間力顕微鏡例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁
砒素センサー微生物及びそれを用いた砒素の測定方法例文帳に追加
ARSENIC SENSOR MICROORGANISM AND ARSENIC-MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡(SPM)用プローブの取り付け角度測定方法例文帳に追加
METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM) - 特許庁
試料水中の微粒子の個数濃度測定方法および装置例文帳に追加
NUMBER CONCENTRATION MEASURING METHOD AND DEVICE OF PARTICULATE IN SAMPLE WATER - 特許庁
三次元顕微鏡装置及び同装置を用いた観察・測定法例文帳に追加
THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE, AND OBSERVATION AND MEASURING METHOD USING THREE DIMENSIONAL MICROSCOPE - 特許庁
測定顕微鏡装置、その表示方法、及びその表示プログラム例文帳に追加
MEASURING MICROSCOPE DEVICE, ITS DISPLAY METHOD, AND ITS DISPLAY PROGRAM - 特許庁
測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡例文帳に追加
ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
微量金属カルボニル化合物の測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a measurement method for a trace metal carbonyl compound. - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法例文帳に追加
SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION - 特許庁
複合微生物系における特定菌株の存在量を測定する方法例文帳に追加
MEASUREMENT OF QUANTITY OF SPECIFIC STRAIN IN MULTIPLE- STRAIN MICROORGANISM SYSTEM - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法例文帳に追加
SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD - 特許庁
微量金属カルボニル化合物の測定方法及び捕集装置例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING TRACE METAL CARBONYL COMPOUND, AND APPARATUS FOR COLLECTING SAME - 特許庁
タンタル化合物中の微量アルミニウム含有量の測定方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING CONTENT OF TRACE AMOUNT OF ALUMINUM IN TANTALUM COMPOUND - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY - 特許庁
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