例文 (999件) |
測微法の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1478件
生体内微量エストラジオールの新規測定法例文帳に追加
NEW MEASUREMENT METHOD OF VERY SMALL AMOUNT OF ESTRADIOL IN LIVING BODY - 特許庁
微細繊維状物の含水率の測定方法とその装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING WATER CONTENT OF FINE FIBROUS MATERIAL - 特許庁
走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法例文帳に追加
METHOD FOR DETERMINING MEASUREMENT PARAMETER OF SCANNING TYPE MICROSCOPE - 特許庁
微小サイズの温度感知素子を用いる温度計測方法例文帳に追加
THERMOMETRIC METHOD USING MICRO-SIZED TEMPERATURE SENSING ELEMENT - 特許庁
常時微動計測に基づく建物の健全性診断法例文帳に追加
BUILDING SOUNDNESS DIAGNOSING METHOD BASED ON CONTINUOUS MICROMOTION MEASUREMENT - 特許庁
微細試料の体積弾性率測定方法例文帳に追加
BULK MODULUS MEASUREMENT METHOD FOR MINUTE SPECIMEN - 特許庁
高分解能顕微鏡、及び位相緩和時間測定法例文帳に追加
HIGH RESOLVING POWER MICROSCOPE AND PHASE RELAXING TIME MEASURING METHOD - 特許庁
微小ピッチ測定方法及びその装置例文帳に追加
MICROPITCH MEASURING METHOD AND ITS APPARATUS - 特許庁
プローブ顕微鏡及び物性測定方法例文帳に追加
PROBE MICROSCOPE AND PHYSICAL PROPERTY MEASURING METHOD - 特許庁
プロフィル測定装置および圧延機微調整方法例文帳に追加
PROFILE MEASURING APPARATUS AND FINE-TUNING METHOD FOR ROLLING MILL - 特許庁
微小表面温度分布計測法およびそのための装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING MINUTE SURFACE TEMPERATURE DISTRIBUTION - 特許庁
顕微鏡合焦位置高精度計測法例文帳に追加
HIGHLY PRECISE MEASUREMENT METHOD OF MICROSCOPE FOCUSING POSITION - 特許庁
微生物の迅速測定方法及び捕捉装置例文帳に追加
METHOD FOR QUICKLY DETERMINING MICROORGANISM AND CAPTURING DEVICE - 特許庁
微小粒子測定装置及び光軸補正方法例文帳に追加
FINE PARTICLE MEASURING INSTRUMENT AND OPTICAL AXIS CORRECTION METHOD - 特許庁
液中微粒子測定装置およびその校正方法例文帳に追加
APPARATUS FOR MEASURING SUBMERGED FINE PARTICLE AND ITS CALIBRATION METHOD - 特許庁
溶液測定用微小電極、電気化学測定用装置、電極の製造方法、及び溶液測定方法例文帳に追加
SOLUTION MEASURING MICRO ELECTRODE, ELECTROCHEMICAL MEASURING APPARATUS, ELECTRODE MANUFACTURING METHOD, AND SOLUTION MEASURING METHOD - 特許庁
バイオセンサ計測システム、粘性率測定方法、および微量質量測定方法例文帳に追加
BIOSENSOR MEASURING SYSTEM, VISCOSITY MEASURING METHOD, AND MICROMASS MEASURING METHOD - 特許庁
透過電子顕微鏡観測用下地試料、透過電子顕微鏡測定方法、および透過電子顕微鏡装置例文帳に追加
BEDDING SPECIMEN FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASURING METHOD, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE - 特許庁
純水中の微粒子測定に要する時間を短縮できる、微粒子濾過装置及び微粒子測定方法を目的とする。例文帳に追加
To provide a fine particle filtering apparatus and a fine particle measuring method capable of shortening the time required for measuring fine particles in pure water. - 特許庁
本発明は、微生物の測定を実施する者が予め要求する測定感度および測定時間を満たすような測定方法を指定でき、目的に則した微生物数測定を実現する微生物数測定装置および微生物数測定方法を提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a microorganism number measurement apparatus with which a person for measuring microorganisms can specify such a measurement method as satisfying preliminarily requiring measurement sensitivity and measurement time and which realizes microorganism number measurement fit to an object, and to provide a microorganism number measurement method. - 特許庁
カー効果顕微鏡、磁化方向測定方法、及びカー効果顕微鏡校正方法例文帳に追加
KERR EFFECT MICROSCOPE, MAGNETIZATION DIRECTION MEASURING METHOD, AND KERR EFFECT MICROSCOPE CALIBRATION METHOD - 特許庁
細菌抽出用担体、微生物抽出方法および微生物群測定方法例文帳に追加
CARRIER FOR EXTRACTING BACTERIUM, EXTRACTION OF MICROORGANISM AND MEASUREMENT OF MICROORGANISM GROUP - 特許庁
試料中の微量元素を測定する方法、微量元素とフッ化物との共沈を抑制する方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING TRACE ELEMENT IN SAMPLE AND METHOD FOR INHIBITING COPRECIPITATION OF TRACE ELEMENT AND FLUORIDE - 特許庁
基板及び微小構造物並びに基準スケールの作製方法及び微小構造物の測長方法例文帳に追加
SUBSTRATE, MINUTE STRUCTURE, REFERENCE SCALE MANUFACTURING METHOD, AND MINUTE STRUCTURE LENGTH MEASURING METHOD - 特許庁
パターン抽出方法、パターン抽出装置、微小異物形状測定方法、微小異物形状測定装置、ホール中央部の穴径測定方法、ホール中央部の穴径測定装置、ホール段差測定方法及びホール段差測定装置例文帳に追加
PATTERN EXTRACTION METHOD AND DEVICE, MINUTE FOREIGN OBJECT SHAPE MEASUREMENT METHOD AND DEVICE, METHOD AND DEVICE FOR MEASURING HOLE DIAMETER AT HOLE CENTER PART, AND METHOD HOLE STEP MEASUREMENT METHOD AND HOLE STEP MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
分散液中の微粒子の分離方法、微粒子の分級方法及び微粒子の吸着力測定方法、並びにそれらの方法の実施のための装置例文帳に追加
SEPARATION OF FINE PARTICLE IN DISPERSION, CLASSIFICATION OF FINE PARTICLE, MEASURING OF ADSORPTION FORCE OF FINE PARTICLE, AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING THEM - 特許庁
電子顕微鏡を用いたパターン寸法計測方法、パターン寸法計測システム並びに電子顕微鏡装置の経時変化のモニタ方法例文帳に追加
PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN DIMENSION MEASUREMENT SYSTEM AND MONITORING METHOD OF SECULAR CHANGE OF ELECTRON MICROSCOPE DEVICE - 特許庁
顕微分光計測、特に、顕微ラマン計測を用いた応力(歪み)計測過程をシミュレートする方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method to simulate a stress (strain) measurement process using a microscopic spectroscopic measurement, particularly a microscopic Raman measurement. - 特許庁
流路中において微小粒子の測定をするにあたり、正確な測定が可能である微小粒子の測定方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a measuring method of a microparticle making measurement accurately, when measuring the microparticle in a channel. - 特許庁
検体試料からターゲットの微生物を正確に検出し、計測できる微生物の計測装置及び計測方法を提供する。例文帳に追加
To provide a measuring instrument and a measuring method for microorganisms capable of accurately detecting and measuring target microorganisms from a specimen. - 特許庁
微粒子のブレイクダウン閾値測定方法とその測定装置、およびこれを用いた液中微粒子測定装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF BREAKDOWN THRESHOLD VALUE OF FINE PARTICLES AS WELL AS MEASURING APPARATUS FOR FINE PARTICLES IN LIQUID BY USING THEM - 特許庁
走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法例文帳に追加
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD - 特許庁
電子顕微鏡システム及びそれを用いたパターン寸法計測方法例文帳に追加
ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD USING IT - 特許庁
走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁
微生物の増殖および活性の測定方法及び感受性試験方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING PROLIFERATION AND ACTIVITY OF MICROORGANISM AND METHOD FOR TESTING SUSCEPTIBILITY - 特許庁
パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡例文帳に追加
PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE - 特許庁
検量線作成方法及び微生物数測定方法並びにプログラム例文帳に追加
METHOD FOR PREPARING CALIBRATION CURVE AND METHOD FOR MEASURING NUMBER OF MICROORGANISM AND PROGRAM - 特許庁
微生物の増殖及び活性の測定方法並びに感受性試験法例文帳に追加
METHOD FOR ASSAYING PROLIFERATION AND ACTIVITY OF MICROORGANISM, AND METHOD FOR TESTING SENSITIVITY - 特許庁
帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡例文帳に追加
ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
排ガス浄化装置、排ガス浄化方法、および微粒子測定方法例文帳に追加
EXHAUST GAS PURIFYING APPARATUS, EXHAUST GAS PURIFYING METHOD, AND PARTICULATE MEASURING METHOD - 特許庁
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