「試験信号」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

伝送回路、差動信号伝送回路、および試験装置例文帳に追加

TRANSMISSION CIRCUIT, DIFFERENTIAL SIGNAL TRANSMISSION CIRCUIT, AND TEST APPARATUS - 特許庁

シリアル信号生成装置及びデバイス試験装置例文帳に追加

SERIAL SIGNAL GENERATING APPARATUS AND DEVICE-TESTING APPARATUS - 特許庁

エッジ信号生成装置及び半導体試験装置例文帳に追加

EDGE SIGNAL GENERATING SYSTEM AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS - 特許庁

信号測定装置及び半導体試験装置例文帳に追加

SIGNAL MEASURING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁

信号変換回路及び試験システム例文帳に追加

SIGNAL CONVERTER CIRCUIT AND TEST SYSTEM - 特許庁

クランプ回路および試験信号発生装置例文帳に追加

CLAMP CIRCUIT AND TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁

移動端末試験システム及び信号の補正方法例文帳に追加

MOBILE TERMINAL TEST SYSTEM AND CORRECTION METHOD OF SIGNAL - 特許庁

ＡＴＭ用導通試験信号送出装置例文帳に追加

TRANSMISSION DEVICE FOR ATM CONTINUITY TEST SIGNAL - 特許庁

光信号伝送試験方法および光伝送路模擬装置例文帳に追加

OPTICAL SIGNAL TRANSMISSION TESTING METHOD AND OPTICAL TRANSMISSION LINE SIMULATOR - 特許庁

電気信号及び電源供給試験基板例文帳に追加

ELECTRIC SIGNAL AND POWER SOURCE SUPPLY TESTING SUBSTRATE - 特許庁

信号入出力装置、試験装置および電子デバイス例文帳に追加

SIGNAL INPUT AND OUTPUT DEVICE, TESTING DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE - 特許庁

高周波信号出力試験方法および半導体装置例文帳に追加

HIGH-FREQUENCY SIGNAL OUTPUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

記録ヘッド５は、試験信号を記録する。例文帳に追加

The recording head 5 records a testing signal. - 特許庁

試験測定装置及び信号デジタル化方法例文帳に追加

TEST MEASURING APPARATUS AND SIGNAL DIGITIZATION METHOD - 特許庁

信号選択装置及び半導体試験装置例文帳に追加

SIGNAL SELECTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING-DEVICE - 特許庁

遅延信号生成装置および半導体試験装置例文帳に追加

DELAY SIGNAL GENERATING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE - 特許庁

差動信号伝送装置および試験装置例文帳に追加

DIFFERENTIAL SIGNAL TRANSMITTER AND TEST DEVICE - 特許庁

疲労試験機および駆動信号生成装置例文帳に追加

FATIGUE TESTING MACHINE AND DRIVING SIGNAL GENERATING DEVICE - 特許庁

ＣＣＳＤＳ準拠ＡＯＳ試験信号発生回路例文帳に追加

CIRCUIT FOR GENERATING AOS TEST SIGNAL CONFORMING TO CCSDS - 特許庁

信号処理装置及び半導体集積回路試験装置例文帳に追加

SIGNAL PROCESS DEVICE AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

インバータ用試験装置及び回転角信号発生装置例文帳に追加

INVERTER TESTING APPARATUS AND GENERATOR OF ROTATION ANGLE SIGNAL - 特許庁

差動信号測定をともなう試験システム例文帳に追加

TESTING SYSTEM INVOLVING DIFFERENTIAL SIGNAL MEASUREMENT - 特許庁

ＲＦ信号自動試験装置のアーキテクチャ例文帳に追加

ARCHITECTURE FOR RF SIGNAL AUTOMATIC TESTER - 特許庁

半導体試験装置の信号発生回路例文帳に追加

SIGNAL-GENERATING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁

試験システム、信号発生装置および記録媒体例文帳に追加

TESTING SYSTEM, SIGNAL GENERATOR AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

半導体デバイス試験装置および信号出力装置例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, AND SIGNAL OUTPUT DEVICE - 特許庁

スイッチ回路、信号出力装置および試験装置例文帳に追加

SWITCH CIRCUIT, SIGNAL OUTPUT UNIT, AND TESTING DEVICE - 特許庁

トレー方式の電気信号及び電源供給試験基板。例文帳に追加

TRAY-SYSTEM ELECTRIC SIGNAL AND POWER SUPPLY TEST BOARD - 特許庁

信号折返装置及び通信回線試験方法例文帳に追加

SIGNAL LOOPBACK DEVICE AND COMMUNICATION CHANNEL TEST METHOD - 特許庁

トラッキング発生器及び試験信号発生方法例文帳に追加

TRACKING GENERATOR AND TEST SIGNAL GENERATION METHOD - 特許庁

試験及び測定機器並びに信号データ識別方法例文帳に追加

TESTING AND MEASURING INSTRUMENT, AND METHOD FOR IDENTIFYING SIGNAL DATA - 特許庁

磁気転写信号試験方法および装置ならびに磁気媒体例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC TRANSFER SIGNAL - 特許庁

入力信号が、音声信号または定格試験信号ではなく、異常試験信号であることを判別する。例文帳に追加

To discriminate an input signal as being an abnormal test signal which is not a sound signal or a rated test signal. - 特許庁

信号処理回路、電子装置、および信号処理回路の試験方法例文帳に追加

SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE, AND TEST METHOD OF SIGNAL PROCESSING CIRCUIT - 特許庁

信号測定装置、信号測定システムおよび半導体試験装置例文帳に追加

SIGNAL MEASUREMENT APPARATUS, SIGNAL MEASUREMENT SYSTEM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁

試験信号発生器６は、既知のデジタル・データ信号Ｄを発生する。例文帳に追加

A test signal generator 6 generates known digital data signals D. - 特許庁

試験信号に振幅ノイズを加える方法及び信号生成装置例文帳に追加

METHOD FOR ADDING AMPLITUDE NOISE TO TEST SIGNAL AND SIGNAL GENERATION DEVICE - 特許庁

デジタル多重信号からアナログ試験信号を生成する。例文帳に追加

To generate an analog test signal from a digital multiplex signal. - 特許庁

信号生成装置、試験装置、信号生成方法、及びプログラム例文帳に追加

SIGNAL GENERATING APPARATUS, TESTING INSTRUMENT, SIGNAL GENERATING METHOD, AND PROGRAM - 特許庁

光信号出力装置、電気信号出力装置、および試験装置例文帳に追加

OPTICAL SIGNAL OUTPUT DEVICE, ELECTRIC SIGNAL OUTPUT DEVICE, AND TESTING DEVICE - 特許庁

信号発生器、信号発生方法、試験装置および半導体チップ例文帳に追加

SIGNAL GENERATOR, METHOD OF GENERATING SIGNAL, TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP - 特許庁

信号測定装置、信号測定方法、記録媒体、および試験装置例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SIGNAL, RECORDING MEDIUM, AND TESTING APPARATUS - 特許庁

これによって試験時に信号の反射が起こらず、試験波形に歪みが発生しない。例文帳に追加

Consequently, no reflection occurs in signals and no distortion occurs in test waveforms. - 特許庁

広帯域低損失カプラおよび該カプラを用いた試験治具、ならびに、無線信号の試験方法例文帳に追加

BROADBAND LOW LOSS COUPLER, TEST TOOL USING THE COUPLER, AND TEST METHOD OF RADIO SIGNAL - 特許庁

通信装置、通信装置試験システム、信号処理装置、試験方法、コンピュータプログラム例文帳に追加

COMMUNICATION APPARATUS, COMMUNICATION APPARATUS TESTING SYSTEM, SIGNAL PROCESSOR, TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM - 特許庁