「試験信号」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

主信号負荷試験装置及び試験方法例文帳に追加

MAIN SIGNAL LOAD TESTING DEVICE AND TESTING METHOD - 特許庁

信号保安システムの試験装置および試験方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF SIGNAL SECURITY SYSTEM - 特許庁

光試験信号発生装置および試験装置例文帳に追加

OPTICAL TEST SIGNAL GENERATION DEVICE AND TESTING DEVICE - 特許庁

ＭＴＩＥ試験信号発生装置例文帳に追加

MTIE TEST SIGNAL GENERATING APPARATUS - 特許庁

ＯＦＤＭ試験信号発生装置例文帳に追加

OFDM TEST SIGNAL GENERATING APPARATUS - 特許庁

信号発生回路および試験装置例文帳に追加

SIGNAL GENERATING CIRCUIT AND TESTING DEVICE - 特許庁

信号保安システムの試験装置例文帳に追加

TEST DEVICE OF SIGNAL SECURITY SYSTEM - 特許庁

信号発生装置および試験装置例文帳に追加

SIGNAL GENERATION DEVICE AND TESTING APPARATUS - 特許庁

ＣＤＭＡ試験信号発生装置例文帳に追加

CDMA TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁

信号処理装置および試験装置例文帳に追加

SIGNAL PROCESSOR AND TESTING APPARATUS - 特許庁

試験装置および信号発生装置例文帳に追加

TEST APPARATUS AND SIGNAL GENERATING APPARATUS - 特許庁

信号読出装置及び試験装置例文帳に追加

SIGNAL READOUT DEVICE AND TEST DEVICE - 特許庁

放送信号受信機試験装置例文帳に追加

BROADCAST SIGNAL RECEIVER TESTER - 特許庁

信号保安システムの試験装置例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR SIGNAL PROTECTION SYSTEM - 特許庁

移動体試験用信号発生装置例文帳に追加

MOBILE OBJECT TESTING SIGNAL GENERATING DEVICE - 特許庁

信号保安システムの試験装置例文帳に追加

TEST APPARATUS FOR SIGNAL MAINTENANCE SYSTEM - 特許庁

信号源１が試験用周波数で試験パワーを有し、かつ試験周波数成分の２次高調波成分を除去した試験信号を出力する。例文帳に追加

A signal source 1 has test power at a test frequency, and outputs a test signal obtained by removing a secondary harmonic component of a test frequency component. - 特許庁

複数の信号を効率的に試験する試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing apparatus for efficiently testing a plurality of signals. - 特許庁

ＥＭＣ試験用アンテナ装置、試験信号発生装置及び送信装置例文帳に追加

ANTENNA SYSTEM FOR EMC TEST, TEST SIGNAL GENERATION APPARATUS AND TRANSMISSION APPARATUS - 特許庁

被試験デバイスから出力されるクロック信号を取得して試験する。例文帳に追加

To execute testing upon acquiring a clock signal output from a device under test. - 特許庁

高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device which can test a high-speed multivalued signal. - 特許庁

被試験デバイスのレイテンシに応じて、試験信号を遅延させる。例文帳に追加

To delay a test signal according to the latency of a tested device. - 特許庁

信号発生装置、信号発生方法、及び試験装置例文帳に追加

SIGNAL GENERATOR, SIGNAL GENERATING METHOD AND TESTING EQUIPMENT - 特許庁

信号発生装置、信号発生方法及び試験方法例文帳に追加

SIGNAL GENERATOR, SIGNAL GENERATION METHOD AND TESTING METHOD - 特許庁

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。例文帳に追加

The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules. - 特許庁

よって、試験信号が多数あっても、試験信号を出力する試験信号出力回路１２０のサイズは大きくならない。例文帳に追加

Thus, even if there are a large number of test signals, the size of the test signal output circuit 120 for outputting the test signals does not become large. - 特許庁

ＩＣ試験システム１０において、ＩＣ試験装置１５０は、被試験ＩＣに試験パターン信号を印加する。例文帳に追加

In this IC testing system, an IC testing device 150 impresses a test pattern signal to a tested IC. - 特許庁

試験信号レシーバ２１ａ〜２１ｄは、掩蔽物に反射される試験信号を検出する。例文帳に追加

The test signal reflected by the shield is detected by the test signal receivers 21a and 21d. - 特許庁

被試験素子の端子に印加される試験信号の信号波形を改善する。例文帳に追加

To improve a signal waveform of a test signal applied to a terminal of an element to be tested. - 特許庁

試験信号発生回路６０は、交流の試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを生成する。例文帳に追加

A test signal generating circuit 60 generates an AC test signal S_TEST. - 特許庁

試験信号発生部１２は、周期的な試験信号によりスピーカ２２を駆動する。例文帳に追加

A test signal generating section 12 drives the speaker 22 based on a cyclic test signal. - 特許庁

第２のスイッチ（５５）は被試験光学装置からの信号を試験信号出力ポート（２６）に導く。例文帳に追加

A second switch (55) routes a signal from the optical device to be tested to a test signal output port (26). - 特許庁

試験信号の試験シーケンス及びパラメータ設定方法及び信号生成装置例文帳に追加

METHOD FOR SETTING TEST SEQUENCE AND PARAMETER OF TEST SIGNAL, AND SIGNAL GENERATION DEVICE - 特許庁

これらの試験スイッチ４、…、４は試験信号線２により試験信号制御回路１に接続されている。例文帳に追加

Each test switch 4, etc., is connected to a test signal control circuit 1 by a test signal wire 2. - 特許庁

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。例文帳に追加

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system. - 特許庁

試験パタン信号を生成する試験パタン信号生成手段４と、試験パタン信号生成手段が生成した試験パタン信号を検出する試験パタン信号検出手段５と、試験パタン信号の受信を認識して装置内部の回線試験設定を行う回線試験設定手段６とを備える伝送装置。例文帳に追加

The transmission apparatus includes a test pattern signal generating means 4 for generating a test pattern signal, a test pattern signal detecting means 5 for detecting a test pattern signal generated by the test pattern signal generating means, and a line test setting means 6 for performing line test setting inside the apparatus by recognizing the reception of the test pattern signal. - 特許庁

電子回路等の被試験装置に試験信号を印加して被試験装置を監視することにより、被試験装置の１つ又は複数の電気特性を試験する試験回路及びシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a test circuit and system that test one or more electric characteristics of a device to be tested by monitoring the device to be tested by applying a test signal to the device to be tested of an electric circuit, or the like. - 特許庁

被試験装置の第１の端子及び第２の端子の両方に試験信号を入力して試験を行うことができ、複数の被試験装置の出力信号の周波数成分が混合されることを防ぎ、複数の被試験装置を正しく試験することができる試験装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide test equipment which can input test signal to both first and second terminals of a device under test, further can prevent mixing of frequency component in signals output from plural devices under test so as to properly test these plural devices under test. - 特許庁

一部の実施形態では、装置は、埋め込み試験特性を有する試験パターン信号を搬送する導体と、試験パターン信号を受信して試験特性を抽出しかつ抽出試験特性が予想試験特性に適合するか否かを判断する受信機試験回路と、を含む。例文帳に追加

Also in one embodiment, the device comprises the conductor which conveys the test pattern which has the embedded test characteristics, and a receiver test circuit which judges whether the test pattern signal is received, and test characteristics are extracted, and extracted test characteristics adapt a predetermined test characteristics. - 特許庁

半導体試験装置１は、ＤＵＴ４０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０によって行われた試験で得られた信号の波形を表示する信号波形表示装置２０とを備える。例文帳に追加

The semiconductor testing device 1 includes a testing device body 10 for testing a DUT 40, and a signal waveform display device 20 for displaying a signal waveform acquired by a test performed by the testing device body 10. - 特許庁

試験用入出力装置３０は選択された試験信号を被試験器に対して出力し、パソコン４０は被試験器からの入力信号に基づいて被試験器の良否を判断する。例文帳に追加

A testing input/output device 30 outputs the selected test signals to the devices to be tested, and the personal computer 40 checks the quality of each device to be tested based on input signals from the devices to be tested. - 特許庁

半導体試験装置のタイミング信号発生回路例文帳に追加

TIMING SIGNAL GENERATING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE - 特許庁

再生ヘッド６は、記録した試験信号を再生する。例文帳に追加

The reproducing head 6 reproduces the recorded testing signal. - 特許庁

混成信号集積回路用半導体試験システム例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM OF MIXED SIGNAL INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

信号選択回路および半導体試験装置例文帳に追加

SIGNAL SELECTION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁