「"試験信号"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

よって、試験信号が多数あっても、試験信号を出力する試験信号出力回路１２０のサイズは大きくならない。例文帳に追加

Thus, even if there are a large number of test signals, the size of the test signal output circuit 120 for outputting the test signals does not become large. - 特許庁

試験信号レシーバ２１ａ〜２１ｄは、掩蔽物に反射される試験信号を検出する。例文帳に追加

The test signal reflected by the shield is detected by the test signal receivers 21a and 21d. - 特許庁

試験信号発生回路６０は、交流の試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを生成する。例文帳に追加

A test signal generating circuit 60 generates an AC test signal S_TEST. - 特許庁

試験信号発生部１２は、周期的な試験信号によりスピーカ２２を駆動する。例文帳に追加

A test signal generating section 12 drives the speaker 22 based on a cyclic test signal. - 特許庁

再生ヘッド６は、記録した試験信号を再生する。例文帳に追加

The reproducing head 6 reproduces the recorded testing signal. - 特許庁

クランプ回路および試験信号発生装置例文帳に追加

CLAMP CIRCUIT AND TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁

ＡＴＭ用導通試験信号送出装置例文帳に追加

TRANSMISSION DEVICE FOR ATM CONTINUITY TEST SIGNAL - 特許庁

記録ヘッド５は、試験信号を記録する。例文帳に追加

The recording head 5 records a testing signal. - 特許庁

ＣＣＳＤＳ準拠ＡＯＳ試験信号発生回路例文帳に追加

CIRCUIT FOR GENERATING AOS TEST SIGNAL CONFORMING TO CCSDS - 特許庁

トラッキング発生器及び試験信号発生方法例文帳に追加

TRACKING GENERATOR AND TEST SIGNAL GENERATION METHOD - 特許庁

光試験信号発生装置および試験装置例文帳に追加

OPTICAL TEST SIGNAL GENERATION DEVICE AND TESTING DEVICE - 特許庁

適切な試験信号をメンブレインと半導体ウエハに印加し、試験信号に対する半導体ウエハの応答を測定する。例文帳に追加

A suitable test signal is applied to the membrane and the semiconductor wafer, and the response of the semiconductor wafer to the test signal is measured. - 特許庁

波形生成ブロックは、このデジタル・データを受けて、試験信号の選択されたセグメントに振幅ノイズのある試験信号出力を生成する。例文帳に追加

A waveform generation block generates a test signal output having the amplitude noises in the selected segment of the test signal in response to the digital data. - 特許庁

移動局１からの試験信号を受信した基地局は移動局２に対して試験信号を送出する。例文帳に追加

The base station which receives the test signals from the mobile station 1 transmits the test signals to the mobile station 2. - 特許庁

会議室Ａの試験信号発生器４ａから送信された試験信号を音声信号と多重して会議室Ｂに送信する。例文帳に追加

A test signal from a test signal generator 4a in a conference room A is multiplexed on a voice signal and the multiplexed signal is transmitted to a conference room B. - 特許庁

その後、試験信号出力部２０、２８はインターホン親機１６あるいはインターホン子機１７より試験信号を送信する。例文帳に追加

The test signal output units 20, 28 then transmit test signals to the main phone 16 or the sub-phone 17. - 特許庁

これらの試験スイッチ４、…、４は試験信号線２により試験信号制御回路１に接続されている。例文帳に追加

Each test switch 4, etc., is connected to a test signal control circuit 1 by a test signal wire 2. - 特許庁

第１の試験信号と第１の周波数の２倍周波数にある第２の試験信号とを有する合成信号を生成しディジタル化される。例文帳に追加

A composite signal having the first test signal and a second test signal at a frequency that is twice the first frequency is generated and digitized. - 特許庁

入力信号が、音声信号または定格試験信号ではなく、異常試験信号であることを判別する。例文帳に追加

To discriminate an input signal as being an abnormal test signal which is not a sound signal or a rated test signal. - 特許庁

試験信号送信部２０５は、少なくとも２つの周波数の試験信号をカプラ２０３を介して無線受信部２０７へ出力する。例文帳に追加

A test signal transmitter 205 sends a test signal having at least two frequencies to a radio receiver 207 through a coupler 203. - 特許庁

被試験信号CH1〜CH4をＡ／Ｄ変換器531-534及びトリガ回路520に供給する。例文帳に追加

Signals to be tested CH1-CH4 are supplied to A/D converters 531-534 and a trigger circuit 520. - 特許庁

遠隔ユニット34が能動ユニットとなって試験信号を供給する。例文帳に追加

The remote unit 34 becomes the active unit and supplies test signals. - 特許庁

２つの直交する試験信号のオフセットを補償する装置例文帳に追加

COMPENSATING DEVICE FOR OFFSET OF TWO ORTHOGONAL TEST SIGNALS - 特許庁

両試験信号からクロスカラー補正ファクターが導出される。例文帳に追加

A cross-color correction factor is derived from both the test signals. - 特許庁

試験信号発生器６は、既知のデジタル・データ信号Ｄを発生する。例文帳に追加

A test signal generator 6 generates known digital data signals D. - 特許庁

ＥＭＣ試験用アンテナ装置、試験信号発生装置及び送信装置例文帳に追加

ANTENNA SYSTEM FOR EMC TEST, TEST SIGNAL GENERATION APPARATUS AND TRANSMISSION APPARATUS - 特許庁

試験信号に振幅ノイズを加える方法及び信号生成装置例文帳に追加

METHOD FOR ADDING AMPLITUDE NOISE TO TEST SIGNAL AND SIGNAL GENERATION DEVICE - 特許庁

デジタル多重信号からアナログ試験信号を生成する。例文帳に追加

To generate an analog test signal from a digital multiplex signal. - 特許庁

選択されたセグメントに振幅ノイズのある試験信号を生成する。例文帳に追加

To generate a test signal having amplitude noises in a selected segment. - 特許庁

バースト状の変調試験信号に含まれる情報の欠落を防止する。例文帳に追加

To prevent the omission of information included in a burst-shaped modulation test signal. - 特許庁

試験信号供給源１０からの第１試験信号を周波数分析装置２０に供給して第１測定データを測定すると共に、第１試験信号を既知の周波数だけシフトした第２試験信号を周波数分析装置２０に供給して第２測定データを測定する。例文帳に追加

A first measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a first test signal from the test signal source 10, and a second measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a second test signal obtained by shifting the first test signal by a known frequency value. - 特許庁

無線装置では制御試験信号受信手段が制御試験信号を受信すると、応答信号送信手段が応答信号を制御回線により通信装置へ送信し、音声試験信号返送手段が音声試験信号を音声回線により通信装置へ返送する。例文帳に追加

When the control test signal is received by a control test signal receiving means, a response signal is transmitted to the communication equipment by the control line by a response signal transmitting means and the sound test signal is returned to the communication equipment by the sound line by a sound test signal returning means at the radio equipment. - 特許庁

ＬＴＥ１の試験信号送信部１２から光による試験信号が送信され，送信された試験信号は新規ルートに沿って光伝送ネットワークシステムのノードＮ１等により中継伝送され，ＬＴＥ２の試験信号受信部２２に受信される。例文帳に追加

A test signal transmission section 12 of LTE 1 transmits an optical test signal, the transmitted test signal is relayed and transmitted by a node N1 or the like of the optical transmission network system along the new route and received by a test signal reception section 22 of LTE 2. - 特許庁

被試験デバイスのレイテンシに応じて、試験信号を遅延させる。例文帳に追加

To delay a test signal according to the latency of a tested device. - 特許庁

被試験信号を複数の観点から正確に測定できるようにする。例文帳に追加

To accurately measure a signal to be tested from a plurality of viewpoints. - 特許庁

ドライバ１は、被測定デバイス２にＩＣ試験信号を出力する。例文帳に追加

A driver 1 outputs an IC test signal to a measured device 2. - 特許庁

好ましくはアナログ試験信号をＡ／Ｄコンバータ５へも直接入力し、直接入力の試験信号のＡ／Ｄコンバータ５によるディジタル変換試験信号と前記分離後の試験信号との比較に基づき入力回路の異常を判定する。例文帳に追加

Preferably, the analog test signals are directly inputted to the A/D converter 5 as well and the abnormality of the input circuit is judged based on the comparison of digital conversion test signals by the A/D converter 5 of the directly inputted test signals and the test signals after the separation. - 特許庁

試験信号発生部１２および試験信号切換部１３は、複数のスピーカを２個のスピーカの組に分け、各組における２個のスピーカに対し、正逆２相の試験信号を供給する。例文帳に追加

A test signal generating section 12 and a test signal switching section 13 divides a plurality of speakers into two groups of speakers, and supply test signals having two phase signals, i. e. positive and negative to two speakers in each group. - 特許庁

試験装置５０は、トルクセンサ５の出力信号を模擬したサインスィープ波形の試験信号を発生する試験信号発生器５１と、この試験信号発生器５１が発生する試験信号に応じた駆動信号を発生して電動モータＭに供給するマスタコントローラ１０Ｍと、試験信号およびトルク信号をモニタするデータロガ５２とを含む。例文帳に追加

This tester 50 comprises a test signal generator 51 generating a test signal of a sine sweep waveform imitating an output signal of the torque sensor 5, a master controller 10M generating a drive signal corresponding to the test signal generated by the signal generator 51 to supply it to the electric motor M, and a data logger 52 for monitoring the test signal and a torque signal. - 特許庁

半導体デバイスへ試験信号を与えることのできる第１端子を有するソケットと、試験信号を第１端子へ出力するドライバとを有する半導体試験装置における試験信号の出力タイミングをキャリブレーションすること。例文帳に追加

To calibrate the output timing of test signal in a semiconductor test device, having a socket which has a first terminal capable of giving test signals to a semiconductor device and a driver outputting the test signal to the first terminal. - 特許庁

入口ノード１０は、パス設定プロトコルに従って、パスを設定し、パスの設定が行われた後に、設定されたパスを指定して、試験信号を出口ノードに送信するし、出口ノードによって折り返し送信された試験信号を受信して、試験信号を解析して正常であるか判定する。例文帳に追加

An inlet node 10 sets a path according to path setting protocol, specifies the set path after the path setting completes to send a test signal to an outlet node, receives the test signal sent back by the outlet node and analyze the test signal to determine whether it is normal or not. - 特許庁

通信装置２、８では試験信号送信手段がユーザからの指示に応じて制御試験信号を制御回線１５により列車１２、１４の無線装置１１、１３へ送信し、音声試験信号を音声回線１６により無線装置へ送信する。例文帳に追加

A control test signal is transmitted to pieces of radio equipment 11, 13 of trains 12, 14 by a control line 15 and a sound test signal is transmitted to the radio equipment by a sound line 16 according to an instruction from the user by a test signal transmitting means at pieces of communication equipment 2, 8. - 特許庁

パラメータ算出手段２２は指定された位相雑音特性Ｒの試験信号を生成するために必要なパラメータを算出して、試験信号生成手段２３からそのパラメータに基づいて生成された位相雑音特性の試験信号Ｓｔを出力させる。例文帳に追加

A parameter calculating means 22 calculates parameters necessary for generating a test signal of designated phase noise characteristics R, and outputs a test signal St of the phase noise characteristics generated, based on its parameter from a test signal generating means 23. - 特許庁

会議室Ａは、受信信号から反転試験信号を抽出して、試験信号を送信してから反転試験信号を受信するまでの遅延時間を遅延時間測定器８ａで算出してディレイメモリ３ａの遅延時間を制御する。例文帳に追加

A demultiplexer 7a of the conference room A demultiplexes the inverted test signal from the received signal, a delay time measurement device 8a calculates a delay time that is a time from the transmission of the test signal to reception of the inverted test signal and the delay time is used to control a delay time in a delay memory 3a. - 特許庁

移動局２は、光信号９として試験信号を送信し、光スイッチ５は、試験信号を受信している基地局３をＯＮ状態とするとともに、基地局３が切換わる際に、試験信号を同時に受信している隣接する２つの基地局３をＯＮ状態とする。例文帳に追加

The mobile station 2 transmits a test signal as the optical signal 9, and the optical switch 5 brings the base station 3 receiving the test signal into an on-state, and brings the two adjacent base stations 3 simultaneously receiving the test signals into on-states when the base station 3 is switched. - 特許庁