| 意味 | 例文 |
Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
MEASURING METHOD, METHOD AND APPARATUS FOR HOLDING SUBSTRATE, AND ALIGNER例文帳に追加
計測方法、基板保持方法、基板保持装置及び露光装置 - 特許庁
OBJECT DETECTION METHOD AND LIDAR DEVICE, AND ENVIRONMENT MEASURING METHOD例文帳に追加
対象物検出方法及びライダー装置、環境測定方法 - 特許庁
OPTICAL DEVICE AND MEASURING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
光学装置及び測定方法、半導体デバイスの製造方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF TREAD SHAPE OF LARGE-SIZED TIRE AND ITS MOLDING METHOD例文帳に追加
大型タイヤのトレッド形状測定方法及び成型方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING FILM THICKNESS AND FILM THICKNESS METER USING THE METHOD例文帳に追加
膜厚測定方法ならびにその方法を用いた膜厚計 - 特許庁
MEASURING METHOD AND APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加
測定方法及び装置、露光装置、並びに、デバイス製造方法 - 特許庁
ENGINE INSPECTION METHOD AND METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CRANK ANGLE WIDTH例文帳に追加
エンジンの検査方法及びクランク角幅の計測方法と装置 - 特許庁
PROCESSING TEMPERATURE MEASURING METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
処理温度測定方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
CHARACTERISTIC IMPEDANCE MEASURING METHOD AND TERMINATION RESISTOR SETTING METHOD例文帳に追加
特性インピーダンス測定方法および終端抵抗設定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING NITRIFICATION ACTIVITY BY T-RFLP METHOD例文帳に追加
T−RFLP法による硝化活性能力の測定方法 - 特許庁
DETERIORATION DIAGNOSIS METHOD OF CV CABLE BY RESIDUAL CHARGE MEASURING METHOD例文帳に追加
残留電荷測定法によるCVケーブルの劣化診断法 - 特許庁
METHOD FOR LABELING POLYNUCLEOTIDE AND METHOD FOR MEASURING TEST SUBSTANCE例文帳に追加
ポリヌクレオチドの標識方法及び被検物質の測定方法 - 特許庁
TRANSMISSION APPARATUS, S PARAMETER MEASURING METHOD AND GAIN CONTROL METHOD例文帳に追加
伝送装置、Sパラメータ測定方法、およびゲイン調整方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING THICKNESS OF FILM AND METHOD OF MANUFACTURING GLASS OPTICAL ELEMENT例文帳に追加
膜厚測定方法およびガラス光学素子の製造方法 - 特許庁
CONTROL METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL MEASURING MACHINE AND SHAPE VERIFICATION METHOD例文帳に追加
三次元測定機の制御方法および形状検証方法 - 特許庁
MEASURING METHOD AND DEVICE, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
測定方法及び装置、露光装置、並びに、デバイス製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING INTERVAL BETWEEN MASK AND WAFER AND METHOD FOR SETTING MASK AND WAFER例文帳に追加
マスクとウエハとの間隔の測定方法及び設置方法 - 特許庁
CAVITY DEPTH MEASURING METHOD AND DRILLING DEVICE USED THE METHOD FOR例文帳に追加
空洞深さ計測方法およびそれに用いる削孔装置 - 特許庁
METHOD FOR MANAGING TEMPERATURE OF HEAT TREATMENT FURNACE AND METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE例文帳に追加
熱処理炉の温度管理方法および温度測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING PRETILT ANGLE, AND METHOD OF MANUFACTURING LIQUID CRYSTAL DEVICE例文帳に追加
プレチルト角の測定方法、及び液晶装置の製造方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING GLASS STRIP AND METHOD OF MANUFACTURING GLASS STRIP例文帳に追加
ガラス条の反り測定方法およびガラス条の製造方法 - 特許庁
PATTERN SIZE MEASURING METHOD AND ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING METHOD例文帳に追加
パターン寸法測定方法及び荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁
IMPEDANCE MEASURING METHOD AND DIAGNOSTIC METHOD FOR PIPING CORRODED CONDITION例文帳に追加
インピーダンス測定方法および配管腐食状態診断方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR SYNCHRONOUS DETECTION, AND METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETISM例文帳に追加
同期検波方法および装置、磁気計測方法および装置 - 特許庁
TEMPERATURE MEASURING METHOD AND DEVICE, AND EXPOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
温度計測方法及び装置、並びに露光方法及び装置 - 特許庁
EXPOSURE MASK, METHOD FOR MEASURING FOCUS, AND METHOD FOR CONTROLLING EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
露光マスク、フォーカス測定方法及び露光装置管理方法 - 特許庁
TEMPERATURE MEASURING METHOD AND TEMPERATURE MANAGEMENT METHOD FOR THERMAL TREATMENT DEVICE例文帳に追加
温度測定方法および熱処理装置の温度管理方法 - 特許庁
LENS THICKNESS MEASURING METHOD, OUTER PERIPHERY PROCESSING METHOD AND CENTERING MACHINE例文帳に追加
レンズの厚さ測定方法・外周加工方法及び芯取機 - 特許庁
FLUORESCENCE MEASURING METHOD DUE TO WAVEGUIDE METHOD HAVING PROBE SUBSTANCE PLACED THEREON例文帳に追加
プローブ物質を載せた導波路法による蛍光測定方法 - 特許庁
COAL COKE STRENGTH MEASURING METHOD AND COKE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
石炭のコークス強度の測定方法及びコークスの製造方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF COKE CAKE WIDTH AND OPERATION METHOD OF COKE OVEN例文帳に追加
コークスケーキ幅の測定方法およびコークス炉の操業方法 - 特許庁
CONCENTRATION MEASURING METHOD, EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE FOR PLASTICIZER例文帳に追加
可塑剤の濃度測定方法,評価方法及び評価装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DISCARDED TATAMI AND METHOD OF MANUFACTURING SOLID FUEL例文帳に追加
廃畳の計量方法および固体燃料の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MONITORING THIN-FILM THICKNESS AND METHOD FOR MEASURING SUBSTRATE TEMPERATURE例文帳に追加
薄膜の膜厚モニタリング方法及び基板温度測定方法 - 特許庁
FORMING METHOD FOR PAINT FILM AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD FOR PAINT FILM例文帳に追加
塗膜の形成方法および塗膜の膜厚測定方法 - 特許庁
LIQUID OBJECT FLOW MEASURING METHOD AND FLOW CONTROL METHOD例文帳に追加
液状物の流量測定方法および流量制御方法 - 特許庁
FOCUSING POSITION DETECTING METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND INTERVAL MEASURING METHOD例文帳に追加
合焦位置検出方法、露光装置及び間隔測定方法 - 特許庁
SUBSTRATE POSITION MEASURING METHOD AND PRODUCTION METHOD FOR MICROSTRUCTURE例文帳に追加
基板位置測定方法、および微小構造体の製造方法 - 特許庁
ZERO POINT SETTING METHOD IN LATERAL FORCE MEASUREMENT AND LATERAL FORCE MEASURING METHOD例文帳に追加
横圧測定時の0点設定方法及び横圧測定方法 - 特許庁
COUNTING DEVICE, DISTANCE METER, COUNTING METHOD AND DISTANCE MEASURING METHOD例文帳に追加
計数装置、距離計、計数方法および距離計測方法 - 特許庁
MEASURING METHOD AND INSTRUMENT, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
測定方法及び装置、露光装置、並びに、デバイス製造方法 - 特許庁
CHEMICAL ANALYTIC DEVICE, NUCLEIC ACID CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND NUCLEIC ACID CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加
化学分析装置、核酸濃度測定装置及び核酸濃度測定方法 - 特許庁
MEASURING INSTRUMENT, AZIMUTH MEASURING INSTRUMENT, CALIBRATION PROGRAM AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加
計測装置、方位角計測装置及びキャリブレーションプログラム、並びにキャリブレーション方法 - 特許庁
MEASURING DEVICE FOR QUANTITY OF MERCURY IN LAMP AND MEASURING METHOD FOR QUANTITY OF MERCURY IN LAMP例文帳に追加
ランプ内水銀量測定装置およびランプ内水銀量測定方法 - 特許庁
WAFER-TYPE TEMPERATURE SENSOR, TEMPERATURE MEASURING DEVICE, THERMAL TREATMENT APPARATUS AND TEMPERATURE MEASURING METHOD例文帳に追加
ウェハ型温度センサ、温度測定装置、熱処理装置および温度測定方法 - 特許庁
LINE WIDTH MEASURING DEVICE AND SETTING METHOD OF ILLUMINATION LEVEL OF LINE WIDTH MEASURING DEVICE例文帳に追加
線幅測定装置および線幅測定装置の照明レベル設定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING RADIATION TEMPERATURE, PART FOR MEASURING RADIATION TEMPERATURE, AND PROCESS DEVICE例文帳に追加
放射温度計測方法および装置、放射温度計測用部品、プロセス機器 - 特許庁
MEASURING APPARATUS OF CIRCUMFERENTIAL SURFACE OF TIRE SHAPING MOLD AND MEASURING METHOD OF ITS CIRCUMFERENTIAL SURFACE例文帳に追加
タイヤ成形用型の周面測定装置及びその周面測定方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|