「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(63ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR MEASURING IMPURITY IN SILICON例文帳に追加

シリコン中の不純物の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING IMPURITY IN QUARTZ例文帳に追加

石英中の不純物の測定方法 - 特許庁

COMPONENT CONCENTRATION MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

成分濃度測定方法および装置 - 特許庁

FLAW DEPTH MEASURING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥深さ測定方法および装置 - 特許庁

OBJECT SURFACE GLOSSINESS MEASURING METHOD例文帳に追加

物体表面の光沢度測定方法 - 特許庁

LIGHT STORAGE LUMINANCE MEASURING INSTRUMENT AND METHOD例文帳に追加

蓄光輝度測定器および測定方法 - 特許庁

TOTAL PHOSPHORUS MEASURING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

全りん測定方法およびその装置 - 特許庁

BEAM PROFILE MEASURING DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

ビームプロファイル測定装置および方法 - 特許庁

OPTICAL FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

光学膜厚計測方法及び装置 - 特許庁

MEASURING APPARATUS AND SCROLL DISPLAY METHOD例文帳に追加

測定装置およびスクロール表示方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハの抵抗測定方法 - 特許庁

DIMENSIONAL DIFFERENCE MEASURING METHOD AND ITS INSTRUMENT例文帳に追加

寸法差測定方法、及びその装置 - 特許庁

SAMPLE MEASURING METHOD USING PHOTOMETER例文帳に追加

光度計を用いた試料測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR INDOOR AIR POLLUTION SOURCE例文帳に追加

室内空気汚染源の測定方法 - 特許庁

BALL SLOT MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

ボール溝測定方法及び測定装置 - 特許庁

INTERNAL IMPEDANCE MEASURING METHOD FOR BATTERY例文帳に追加

蓄電池の内部インピーダンス測定方法 - 特許庁

MEASURING INSTRUMENT DIAL AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

計器文字板及びその製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD MEASURING ABSORBANCE例文帳に追加

吸光度測定装置、吸光度測定方法 - 特許庁

DELAY PROFILE MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

遅延プロファイル測定方法および装置 - 特許庁

SHAPE MEASURING METHOD AND APPARATUS FOR HOLE例文帳に追加

穴の形状測定方法及び装置 - 特許庁

SHAPE MEASURING METHOD AND ITS SYSTEM例文帳に追加

形状計測方法およびそのシステム - 特許庁

WHEEL ALIGNMENT MEASURING METHOD OF AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車の車輪アライメント測定方法 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン寸法測定装置および方法 - 特許庁

SPACE TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

空間温度計測装置および方法 - 特許庁

COMMUNICATION QUALITY MEASURING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

通信品質計測方法およびシステム - 特許庁

DIMENSION MEASURING PATTERN, FORMATION METHOD THEREFOR, AND DIMENSION MEASURING METHOD例文帳に追加

寸法測定パターン、寸法測定パターンの形成方法および寸法測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF ROAD FACE LONGITUDINAL PROFILE例文帳に追加

路面縦断プロファイルの測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CONDUCTIVITY OF METAL LAYER例文帳に追加

金属層の導電率測定方法 - 特許庁

EMBEDDED DEPTH MEASURING METHOD FOR METAL FILM例文帳に追加

金属膜の埋設深さ測定方法 - 特許庁

ABERRATION MEASURING DEVICE, EXPOSURE DEVICE, MANUFACTURING METHOD FOR DEVICE, AND METHOD FOR MEASURING ABERRATION例文帳に追加

収差計測装置、露光装置、デバイス製造方法、および収差計測方法 - 特許庁

DISPLACEMENT MEASURING SYSTEM, LITHOGRAPHY EQUIPMENT, DISPLACEMENT MEASURING METHOD, AND DEVICE FABRICATION METHOD例文帳に追加

変位測定システム、リソグラフィ装置、変位測定方法およびデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING DISPLACEMENT OF GROUND, BEDROCK, ETC.例文帳に追加

地盤，岩盤等の変位計測方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL HEIGHT MEASURING METHOD FOR OBJECT例文帳に追加

物体の三次元高さ計測方法 - 特許庁

CONTACT-PRESSURE MEASURING METHOD OF AIR FILLING TYPE例文帳に追加

空気封入式接触圧計測法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品の測定方法及び装置 - 特許庁

OPTICAL RESONATOR MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

光共振器測定装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR SEPARATING OR MEASURING DIOXINS例文帳に追加

ダイオキシン類の分離又は測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING QUALITY OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハの品質測定方法 - 特許庁

CAPACITANCE MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

静電容量測定方法及び装置 - 特許庁

OBLIQUE ANGLE MEASURING DEVICE AND OBLIQUE ANGLE MEASURING METHOD FOR BATTER PILE, AND PENETRATION METHOD FOR PILE例文帳に追加

斜杭の斜角測定装置、斜角測定方法及び杭の貫入方法 - 特許庁

INTERFEROMETER AND METHOD FOR MEASURING INTERFERENCE例文帳に追加

干渉計および干渉測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING GEL FRACTION IN RESIN例文帳に追加

樹脂中のゲル分率の測定方法 - 特許庁

LIQUID MEASURING APPARATUS AND USAGE METHOD例文帳に追加

液体測定装置および使用方法 - 特許庁

ELECTRIC MEASURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子の電気的測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF LONGITUDINAL SECTION PROFILE OF ROAD FACE AND MEASURING METHOD OF ROAD FACE PROFILE例文帳に追加

路面縦断プロファイルの測定方法及び路面プロファイルの測定方法 - 特許庁