Self Loadingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 53件
Article 151-12 The employer shall, when using a loading plate, fills, etc., in the case where a vehicle type material handling machine, etc., is loaded to a truck, etc., or is unloaded from a truck, etc., by self-propelling or towing for transferring the said machine, comply with the following provisions in order to prevent dangers due to overturning, falling, etc. of the said machine: 例文帳に追加
第百五十一条の十二 事業者は、車両系荷役運搬機械等を移送するため自走又はけん引により貨物自動車に積卸しを行う場合において、道板、盛土等を使用するときは、当該車両系荷役運搬機械等の転倒、転落等による危険を防止するため、次に定めるところによらなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To obtain a flow rate response type reactor shutdown and drive element capable of quicker operation than a magnetic self actuated shutdown mechanism (SASS) which makes control rods fall by holding the control rods by magnet, takes advantage of that coolant becomes high temperature in the case of core coolant performance degradation accidents and lowers holding force of the magnet, and a reactor structure loading the element.例文帳に追加
制御棒を磁石で保持し、炉心冷却性能低下事故時等に冷却材が高温になることを利用して、磁石による保持力を低下させ制御棒を落下させる磁石式受動的炉停止機構(SASS)よりも、敏速な作動が可能な流量応答型炉停止駆動要素及びこれを装架した原子炉構造を得る。 - 特許庁
To provide a semiconductor device configured by loading an ECC (Error Correcting Code) circuit and a BIST (Built In Self Test) circuit on a memory configured to surely correct an error by the ECC circuit in an activated state of the ECC circuit and the BIST circuit at a test, and conducting sufficient screening for the ECC circuit and the critical path of the memory.例文帳に追加
メモリにECC回路とBIST回路とを搭載して構成された半導体装置において、テスト時に、ECC回路とBIST回路とが活性化された状態で、ECC回路によるエラー訂正が必ず行われるように構成され、ECC回路やメモリのクリティカルパスなどの十分なスクリーニングを行うことができる、半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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