| 例文 |
beam methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 10479件
BEAM-INSPECTING DEVICE AND BEAM ADJUSTMENT METHOD FOR LIGHT-SCANNING UNIT例文帳に追加
光走査ユニットのビーム検査装置およびビーム調整方法 - 特許庁
JOINT STRUCTURE BETWEEN COLUMN AND BEAM AND JOINT METHOD BETWEEN COLUMN AND BEAM例文帳に追加
柱と梁の接合構造および柱と梁の接合方法 - 特許庁
AXIS ALIGNMENT METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子線の軸合わせ方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム露光方法及び荷電粒子ビーム露光装置 - 特許庁
To provide an electron beam irradiation method preventing the deterioration of an object by electron beam irradiation.例文帳に追加
電子線照射による対象物の変質を防止する。 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM PICTURE FORMATION METHOD例文帳に追加
荷電粒子線装置及び荷電粒子線画像生成方法 - 特許庁
PROFILE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD OF ELECTRON BEAM AND LASER BEAM例文帳に追加
電子ビーム及びレーザービームのプロファイル測定装置及び方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING PRECAST BEAM AND JIG FOR PRODUCING PRECAST BEAM例文帳に追加
プレキャスト梁の製造方法及びプレキャスト梁の製造用治具 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MEASURING ION BEAM, AND ION BEAM IRRADIATION DEVICE例文帳に追加
イオンビーム測定装置、測定方法およびイオンビーム照射装置 - 特許庁
MASK FOR LASER BEAM MACHINING AND LASER BEAM MACHINING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
レーザー加工用マスクおよびそれを用いたレーザー加工方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM DRAWING APPARATUS AND METHOD FOR COMPENSATING DEVIATION OF ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子ビーム描画装置及び電子ビームのずれ補償方法 - 特許庁
LASER BEAM WELDING METHOD AND LASER BEAM WELDING SYSTEM FOR SURFACE TREATED STEEL SHEET例文帳に追加
表面処理鋼板のレーザ溶接方法とレーザ溶接システム - 特許庁
LASER BEAM MACHINING APPARATUS AND ORIGIN CORRECTION METHOD FOR LASER BEAM MACHINING APPARATUS例文帳に追加
レーザ加工装置及びレーザ加工装置の原点補正方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM EXPOSURE SYSTEM, DEFLECTOR, AND ELECTRON BEAM EXPOSURE METHOD例文帳に追加
電子ビーム露光装置、偏向装置、及び電子ビーム露光方法 - 特許庁
CARRYING VESSEL FOR ELECTRON BEAM STERILIZATION AND METHOD FOR ELECTRON BEAM STERILIZATION例文帳に追加
電子線滅菌用搬送容器および電子線滅菌方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE AND CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD例文帳に追加
荷電粒子線顕微鏡および荷電粒子線顕微方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM AND METHOD OF DRAWING USING ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線描画装置および電子線を用いた描画方法 - 特許庁
MASK FOR LASER BEAM MACHINING AND MANUFACTURING METHOD OF MASK FOR LASER BEAM MACHINING例文帳に追加
レーザ加工用マスク及び該レーザ加工用マスクの製造方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM PROXIMITY ALIGNER AND ELECTRON BEAM PROXIMITY EXPOSURE METHOD例文帳に追加
電子ビーム近接露光装置及び電子ビーム近接露光方法 - 特許庁
ELECTRON GUN, ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM, AND ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY METHOD例文帳に追加
電子銃、電子ビーム描画装置、及び電子ビーム描画方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC BEAM DEFLECTION SCANNING DEVICE AND BEAM DEFLECTION SCANNING METHOD例文帳に追加
静電式ビーム偏向走査装置及びビーム偏向走査方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY METHOD AND MASK FOR ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY例文帳に追加
電子線ビーム描画方法および電子線ビーム描画用マスク - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR LASER BEAM PROCESSING, AND LASER BEAM OSCILLATOR例文帳に追加
レーザ加工装置及びレーザ加工方法、並びにレーザ発振器 - 特許庁
ELECTRON BEAM DEVICE AND CALIBRATION METHOD OF INCIDENT ANGLE OF ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線装置および電子ビームの入射角度較正方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY EQUIPMENT AND METHOD FOR WRITING USING ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子ビーム描画装置および電子ビームを用いた描画方法 - 特許庁
LASER BEAM EXPOSURE DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR MODULATING WAVELENGTH OF LASER BEAM例文帳に追加
レーザビーム露光装置、レーザビーム波長変調方法及び装置 - 特許庁
FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD FOR IRRADIATING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加
集束イオン・ビーム装置及び集束イオン・ビーム照射方法 - 特許庁
LASER BEAM MACHINING METHOD, LASER BEAM MACHINING APPARATUS AND MULTILAYER PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
レーザ加工方法、レーザ加工装置及び多層プリント配線板 - 特許庁
ELECTRODE FOR BEAM SOURCE AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRODE FOR BEAM SOURCE例文帳に追加
ビーム源用電極及びビーム源用電極の製造方法 - 特許庁
PROJECTION EXPOSURE SYSTEM, BEAM DELIVERY SYSTEM AND METHOD OF GENERATING BEAM OF LIGHT例文帳に追加
投影露光系、ビーム伝送系及び光ビームの生成方法 - 特許庁
ENERGY BEAM MACHINING APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD OF ARTICLE MACHINED BY ENERGY BEAM例文帳に追加
エネルギービーム加工装置及びエネルギービーム加工物製造方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM IMAGE GENERATION METHOD例文帳に追加
荷電粒子線装置および荷電粒子線像生成方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DRAWER AND CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING METHOD例文帳に追加
荷電粒子線描画装置および荷電粒子線描画方法 - 特許庁
BEAM STRUCTURE, BUILDING UNIT, BUILDING, AND CONSTRUCTION METHOD FOR BEAM STRUCTURE例文帳に追加
梁構造、建物ユニット、建物及び梁構造の施工方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD, AND METHOD OF CORRECTING ASTIGMATISM OF CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビームの非点補正方法 - 特許庁
REINFORCEMENT CONNECTING METHOD, REINFORCEMENT CONNECTING STRUCTURE, BEAM UNIT, CONCRETE FOOTING BEAM, AND CONCRETE FOOTING BEAM ASSEMBLING METHOD例文帳に追加
鉄筋接続方法、鉄筋接続構造、梁ユニット、コンクリート基礎梁及びコンクリート基礎梁組立方法 - 特許庁
LASER BEAM MACHINING APPARATUS, LASER BEAM OPTICAL SYSTEM,LASER BEAM MACHING METHOD, AND METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE例文帳に追加
レーザ加工装置、レーザ光学系、レーザ加工方法及びアクティブマトリクス基板の欠陥修正方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM EXPOSURE SYSTEM, ELECTRONIC BEAM DEFOCUS CORRECTION METHOD, AND MEASURING METHOD OF ELECTRON BEAM DEFOCUS例文帳に追加
電子ビーム描画装置、電子ビームの焦点ずれ補正方法及び電子ビームの焦点ずれ測定方法 - 特許庁
POLARIZED BEAM CONVERSION ELEMENT, POLARIZED BEAM CONVERSION METHOD, ELECTRON GUN, BEAM MEASUREMENT DEVICE, AND ELECTRON GENERATION METHOD例文帳に追加
偏光ビーム変換素子、偏光ビーム変換方法、電子銃、ビーム測定装置、及び電子発生方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM APPARATUS, METHOD FOR MEASURING DISTORTION IN DEFLECTION POSITION OF ELECTRON BEAM, METHOD FOR CORRECTING DEFLECTION POSITION OF ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線装置、電子ビームの偏向位置歪み測定方法、電子ビームの偏向位置補正方法 - 特許庁
LASER BEAM MACHINING DEVICE, LASER BEAM MACHINING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING ARTICLE HAVING WORKPIECE SUBJECTED TO LASER BEAM MACHINING例文帳に追加
レーザ加工装置、レーザ加工方法、およびレーザ加工された被加工物を有する物品の製造方法 - 特許庁
CHARGED BEAM DRAWING DATA CREATING METHOD, CHARGED BEAM DRAWING METHOD, AND PROGRAM OF CREATING CHARGED BEAM DRAWING DATA例文帳に追加
荷電ビーム描画データ作成方法と荷電ビーム描画方法及び荷電ビーム描画データ作成用プログラム - 特許庁
ELECTRON BEAM RECORDING APPARATUS, ELECTRON BEAM IRRADIATION POSITION DETECTING METHOD AND ELECTRON BEAM IRRADIATION POSITION CONTROL METHOD例文帳に追加
電子線記録装置と電子線照射位置検出方法及び電子線照射位置制御方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM APPARATUS, METHOD FOR DETECTING DISPLACEMENT OF AXIS OF ELECTRON BEAM AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE USING ELECTRON BEAM APPARATUS例文帳に追加
電子ビーム装置、電子ビームの軸ずれ検出方法、及び電子ビーム装置を用いたデバイス製造方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM FORMING MASK, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DEVICE, AND METHOD OF INSPECTING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
荷電粒子線成形マスク、荷電粒子線露光装置および荷電粒子検査方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND METHOD OF IRRADIATING SAMPLE WITH CHARGED PARTICLE BEAM BY USING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線装置及びそれを用いた試料への荷電粒子照射方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEFLECTION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEFLECTION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線偏向装置、荷電粒子線の偏向方法および荷電粒子線装置 - 特許庁
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