「circuit testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING METHOD OF AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路のテスト方法および装置 - 特許庁

TESTING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TESTING CIRCUIT BUILT IN, AND TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路、そのテスト回路を内蔵した半導体集積回路装置、及びそのテスト方法 - 特許庁

STRESS-TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND STRESS-TESTING METHOD USING THE STRESS-TESTING CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のストレス試験回路、及びこの回路を用いたストレス試験方法 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT TESTING DEVICE AND INTERFACE CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

インターフェース回路テスト装置およびインターフェース回路テスト方法 - 特許庁

HIGH-VOLTAGE GROUND FAULT RELAY TESTING CIRCUIT WITH BUILT-IN GROUND FAULT TESTING CIRCUIT例文帳に追加

地絡試験回路内蔵高圧地絡継電器試験回路 - 特許庁

DELAY CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

遅延回路、及び試験装置 - 特許庁

SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING DEVICE, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING SYSTEM, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING METHOD AND SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラム - 特許庁

LOW-POWER-CONSUMPTION TESTING CIRCUIT例文帳に追加

低消費電力テスト回路 - 特許庁

PARALLEL TESTING FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の並列試験 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路の試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加

半導体装置のテスト回路 - 特許庁

DRIVER CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

ドライバ回路および試験装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路板の検査装置 - 特許庁

AMPLIFIER CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

増幅回路、及び試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路のテスト方法 - 特許庁

ELECTRIC CIRCUIT, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

電気回路および試験装置 - 特許庁

ELECTRONIC CIRCUIT ASSEMBLY TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

電子回路アセンブリ試験装置 - 特許庁

OSCILLATION CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

発振回路、及び試験装置 - 特許庁

MEASURING CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

測定回路及び試験装置 - 特許庁

A second testing circuit 25 and a third testing circuit 26A also perform testing operation similarly to the first testing circuit 24 and the third testing circuit 26B.例文帳に追加

さらに、第２テスト回路２５と第３テスト回路２６Ａも、第２テスト回路２４と第３テスト回路２６Ｂと同様にテスト動作を行う。 - 特許庁

CIRCUIT TESTER AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

回路試験装置および回路試験方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路、集積回路及びテスト方法 - 特許庁

LAYER SHORT CIRCUIT TESTING METHOD FOR COIL例文帳に追加

コイルのレアーショート試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路板の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路板の試験方法 - 特許庁

TESTING FACILITATION CIRCUIT AND TESTER例文帳に追加

試験容易化回路およびテスタ - 特許庁

TESTING DEVICE AND POWER SUPPLY CIRCUIT例文帳に追加

試験装置、及び電源回路 - 特許庁

POWER SUPPLY CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

電源回路、及び試験装置 - 特許庁

POWER SUPPLY CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加

電源回路及び試験装置 - 特許庁

INCORPORATED SELF-TESTING CIRCUIT FOR MEMORY例文帳に追加

メモリ用内蔵自己テスト回路 - 特許庁

POWER SUPPLY CIRCUIT AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

電源回路及び試験装置 - 特許庁

To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加

カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体回路と試験方法 - 特許庁

END NIPPER FOR TESTING CONDUCTION (CIRCUIT)例文帳に追加

導通（回路）試験用エンドニッパ - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR PRODUCTS例文帳に追加

半導体製品の試験回路 - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR NON-VOLATILE MEMORY例文帳に追加

不揮発性メモリの検査回路 - 特許庁

DC TESTING CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

ＤＣテスト回路及び集積回路装置 - 特許庁

METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND CIRCUIT ARRANGEMENT例文帳に追加

集積回路のテスト方法と回路配置 - 特許庁

PATTERN MEMORY CIRCUIT FOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

集積回路試験装置のパターンメモリ回路 - 特許庁

CIRCUIT DESIGN PATTERN FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路のテスト用設計回路パタン - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING AUXILIARY MACHINERY DRIVE CIRCUIT例文帳に追加

補機駆動回路の試験装置 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TESTING JIG FOR CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路板の耐電圧試験治具 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

集積回路およびテスト方法 - 特許庁

LOGIC CIRCUIT HAVING TESTING FUNCTION例文帳に追加

テスト機能を有する論理回路 - 特許庁

ELECTRONIC CIRCUIT FOR AUTOMATIC TESTING APPARATUS例文帳に追加

自動試験装置の電子回路 - 特許庁