例文 (199件) |
device handlerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 199件
SEMICONDUCTOR ELEMENT TRANSFERRING DEVICE FOR HANDLER例文帳に追加
ハンドラの半導体素子移送装置 - 特許庁
MEASURING HANDLER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置用測定ハンドラ - 特許庁
CLASSIFICATION SHOOT DEVICE OF IC HANDLER例文帳に追加
ICハンドラの分類シュート装置 - 特許庁
HANDLER DEVICE FOR HORIZONTALLY CONVEYING TRAY例文帳に追加
トレー水平搬送式ハンドラ装置 - 特許庁
CARRIER AND PUSHER FOR HANDLER DEVICE AND HANDLER DEVICE例文帳に追加
ハンドラー装置用キャリア,ハンドラー装置用プッシャー及びハンドラー装置 - 特許庁
HANDLER AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE HANDLER例文帳に追加
ハンドラとこのハンドラを使用した半導体デバイスの検査方法 - 特許庁
TRANSFERRING DEVICE OF TEST TRAY FOR TEST HANDLER, TRANSFERRING METHOD OF TEST HANDLER AND TEST TRAY FOR TEST HANDLER例文帳に追加
テストハンドラ用テストトレイ移送装置、テストハンドラ、及びテストハンドラ用テストトレイ移送方法 - 特許庁
TEMPERATURE CONTROL DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, IC HANDLER, AND ATTACHMENT OF IC HANDLER例文帳に追加
電子部品の温度制御装置、ICハンドラ及びICハンドラのアタッチメント - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE LOADING DEVICE FOR TEST HANDLER例文帳に追加
テストハンドラの半導体デバイスローディング装置 - 特許庁
PRESS DEVICE, IC HANDLER AND IC INSPECTION DEVICE例文帳に追加
押圧装置、ICハンドラ及びIC検査装置 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE HANDLER AND ELECTRONIC DEVICE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
電子デバイスハンドラ及び電子デバイス検査装置 - 特許庁
DEVICE TESTING MECHANISM, HANDLER, AND TESTING METHOD OF DEVICE例文帳に追加
デバイス試験機構、ハンドラおよびデバイスの試験方法 - 特許庁
PRESSING METHOD, PRESSING DEVICE, IC HANDLER, AND IC INSPECTION DEVICE例文帳に追加
押圧方法、押圧装置、ICハンドラ及びIC検査装置 - 特許庁
TEMPERATURE CONTROL DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND HANDLER DEVICE例文帳に追加
電子部品の温度制御装置およびハンドラ装置 - 特許庁
DEVICE FOR LOADING AUTOMATICALLY DEVICE SLEEVE OF HANDLER例文帳に追加
ハンドラのデバイススリーブ自動ローディング装置 - 特許庁
CONVEYANCE DEVICE, HANDLER, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
搬送装置、ハンドラおよび試験装置 - 特許庁
WORK HANDLER TO LASER PROCESSING DEVICE例文帳に追加
レーザー加工装置へのワークハンドラー - 特許庁
IC HANDLER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS例文帳に追加
半導体試験装置のICハンドラ装置 - 特許庁
SUCTION HOLDER AND HANDLER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスの吸着ホルダおよびハンドラ - 特許庁
HANDLER SYSTEM FOR CUTTING SEMICONDUCTOR PACKAGE DEVICE例文帳に追加
半導体パッケージ装置切断用ハンドラ・システム - 特許庁
DEVICE PRESS PART FOR IC HANDLER例文帳に追加
ICハンドラ用デバイスプレス部品 - 特許庁
TEMPERATURE CONTROL DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND IC HANDLER例文帳に追加
電子部品の温度制御装置及びICハンドラ - 特許庁
COOLING DEVICE, AND ELECTRONIC COMPONENT HANDLER PROVIDED THEREWITH例文帳に追加
冷却装置及びそれを備えた電子部品ハンドラ - 特許庁
HEAT GENERATION COMPENSATING DEVICE FOR MODULE IC TEST HANDLER例文帳に追加
モジュールICのテストハンドラ用発熱補償装置 - 特許庁
HANDLER, AND TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
ハンドラおよび電子部品試験装置 - 特許庁
LOW-TEMPERATURE CONDITION TESTING DEVICE AND METHOD FOR HANDLER例文帳に追加
ハンドラの低温条件試験装置及びその方法 - 特許庁
DEVICE TEST HANDLER AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加
デバイステストハンドラ及びその作動方法 - 特許庁
ROTATION-SENSING DEVICE FOR FAN DEVICE APPLIED TO CHAMBER OF HANDLER例文帳に追加
ハンドラのチェンバーに適用されたファン装置の回転感知装置 - 特許庁
INDEX DEVICE OF HANDLER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加
半導体素子テスト用ハンドラのインデックス装置及びその動作方法 - 特許庁
例文 (199件) |
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |