「device handler」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The yarn approaching lever 31 is driven by a thread handler lever drive motor 42 being an exclusive drive means arranged separately from the bobbin supply device drive motor 41 and the bobbin support drive motor 43.例文帳に追加

そして、糸寄せレバー３１は、ボビン供給装置駆動モータ４１及びボビン支持部駆動モータ４３とは別に設けられた専用の駆動手段である糸寄せレバー駆動モータ４２によって駆動される。 - 特許庁

If parts run out at a packing device 23, a host PC 4 that manages the packaging line 2 sends a report for parts replenishment to a mobile terminal 1 carried by the handler of the packaging line 2.例文帳に追加

実装装置２３で部品切れが発生した場合、実装ライン２を管理するホストＰＣ４は、実装ライン２の取扱者が携帯している携帯端末１に対して部品の補充通知を送信する。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus by which various correlative measurements with a required absolute accuracy of about several tens of mm are performed with high expandability and at low costs without improving a handler whenever a device is added.例文帳に追加

数十ミリ秒程度の絶対精度が要求される種々の相関的な計測を、機器が追加される度にハンドラの改良を必要とすることなく、高い拡張性かつ廉価に行う。 - 特許庁

This test tray storing an inspection object device and conveyed to the inspection position by a handler has pockets positioned and installed to the tray body, and alignment marks added to the tray body.例文帳に追加

検査対象デバイスが格納され、ハンドラによって検査位置へ搬送されるテストトレイにおいて、トレイ本体に対して位置決めされて取り付けられたポケットと、トレイ本体に付加されたアライメントマークとを有する。 - 特許庁

To provide a low-temperature condition testing device for a handler and its method capable of reducing a maintenance and management cost and a device manufacturing cost by simple constitution, of holding high cooling efficiency, of freely taking and putting a semiconductor device of a tested object out and in from a testing device, and of shortening a testing work time.例文帳に追加

簡単な構成で維持管理コスト及び装置製造コストが低廉であり、しかも高い冷却効率を保持し、さらに、被試験対象の半導体デバイスの装置内からの出し入れを自在に行なえて試験作業時間を短縮し得るハンドラの低温条件試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an interruption control device for improving the performance of a system by making changeable a delay time until interruption mask release for every interruption generation source and eliminating useless start of an interruption handler.例文帳に追加

割り込み発生源毎に割り込みマスク解除までの遅延時間を変更可能にして、無駄な割り込みハンドラの起動をなくし、システムのパフォーマンスを向上することができる割り込み制御装置を提供する。 - 特許庁

In this handler 100 for the TCP, a TCP tape 1 having a plurality of articulated TCPs formed by sticking a device on a film respectively in run, and a reject punch part 30 for punching a defective TCP is provided on a running route.例文帳に追加

ＴＣＰ用ハンドラ１００は、フィルムにデバイスを貼付したＴＣＰが複数連接されたＴＣＰテープ１を走行させ、走行経路中には、不良ＴＣＰを打ち抜くリジェクトパンチ部３０が設けられている。 - 特許庁

A socket resistance evaluating device 50 is provided, which includes a controller 1, a contact resistance evaluating/determining section 2, a handler arm 3, a pressure sensor 4, a socket resistance evaluating jig 5, a socket housing 6, a socket 7 and a reception pin board 8.例文帳に追加

ソケット抵抗評価装置５０には、制御部１、接触抵抗評価判定部２、ハンドラ・アーム３、圧力センサ４、ソケット抵抗評価治具５、ソケットハウジング６、ソケット７、及び受けピンボード８が設けられる。 - 特許庁

An exchange requesting means 8 of a tester 106A outputs a semiconductor device exchange signal 14 to a handler 104A after a test performing means 128 acquires a signal from a CCD 108A and before it processes the signal.例文帳に追加

テスター１０６Ａの交換要求手段８は、試験実行手段１２８がＣＣＤ１０８Ａから信号を取得した後、信号処理を行う前に半導体装置交換信号１４をハンドラー１０４Ａに出力する。 - 特許庁

To provide an IC test handler provided with a clamping device capable of restraining a lateral shift amount of an IC in an IC clamping process, and capable of preventing a terminal contact trouble or the like from occurring even in the IC having a reverse face terminal of a narrow pitch.例文帳に追加

ＩＣクランプ過程でのＩＣの横ずらし量を抑制でき、狭端子ピッチの裏面端子を持つＩＣでも端子接触不具合等の発生を防止できるクランプ装置を備えたＩＣテストハンドラの提供。 - 特許庁

The operation log acquisition function module 223 sets an information acquisition event handler 262 on the basis of the transferred information and sequentially acquires operation logs on the basis of user's operation on a web browser and transmits the logs to a log server device 140.例文帳に追加

操作ログ取得機能モジュール２２３は、転送された情報に基づき、情報取得イベントハンドラ２６２を設定し、ウェブブラウザ上のユーザ操作に基づき順次操作ログを取得し、ログサーバ装置１４０に送信する。 - 特許庁

To provide a heating and cooling device for a semiconductor element test handler capable of surely adjusting a desired temperature condition of high temperature and low temperature, of a semiconductor element with a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成をもって半導体素子を高温及び低温の所望する温度状態に正確に調節することのできる半導体素子テストハンドラの半導体素子加熱及び冷却装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cooling device of simple structure capable of reducing its cost and dimension, stably supplying a cold gas of a desired low temperature and not having influence by temperature variation on a cooled space side, and to provide a cooling method of a chamber space for device test of a handler.例文帳に追加

簡単な構造、低コスト、小型化を達成し、かつ所望の低温度の冷気ガスを安定して供給し、被冷却空間側への温度変動による影響を与えない冷却装置ならびにハンドラのデバイステスト用チャンバ空間の冷却方法を提供する。 - 特許庁

To provide: a position correction apparatus which eliminates the need to replace parts for each kind of device by correcting the posture of a device such as a semiconductor device or an electronic component without making mechanical contact, and which improves positioning accuracy while preventing trouble due to damage by contact to the device or the wear of the subject of correction; and a handler therewith.例文帳に追加

半導体装置又は電子部品等のデバイスの姿勢矯正を、機械的接触なしに行なうことで、デバイスの品種ごとに部品交換を不要とするとともに、デバイスへの接触ダメージや矯正主体の磨耗によるトラブルを防止しつつ、位置決め精度を高めた位置補正装置及びそれを備えたハンドラを提供する。 - 特許庁

The IC handler apparatus is characteristically provided with a hot air blowing means for blowing against the IC device with the hot air, a device guide for moving and setting the IC on a socket and at least one ventilation part provided on the device guide so as to blow against the IC device with the hot air from the hot air blowing means.例文帳に追加

ＩＣデバイスに吹き付ける熱風吹付手段と、移動してソケットにＩＣデバイスを装着するデバイスガイドとを具備するＩＣハンドラー装置において、 前記熱風吹付手段からの熱風が前記ＩＣデバイスに吹き付られる様に前記デバイスガイドに設けられた少なくとも一個の通風部を具備したことを特徴とするＩＣハンドラー装置である。 - 特許庁

To provide a position adjusting method and device of a carrying apparatus, and an IC handler, wherein the constitution of the apparatus is made simple, and the operation of its calibration is also performed simply, and further, the sensing of its positional deviation is made accurately during a short time.例文帳に追加

構成を簡単にでき、キャリブレーション操作も簡単に行え、しかも、精度の高いずれ位置を短い時間で検出できる搬送装置の位置調整方法、搬送装置の位置調整装置及びＩＣハンドラーを提供する。 - 特許庁

This frost formation preventing device B is provided on the connection part 4 between the coolant intake part 2, for taking in a coolant into a thermostatic chamber 1 of an auto-handler A, having a low-temperature function and a coolant supply pipe 3 for supplying the coolant to the intake part 2.例文帳に追加

着霜防止装置Ｂは、低温機能付きオートハンドラＡの恒温槽１に冷媒を取り入れる冷媒取入部２と、冷媒取入部２に冷媒を供給する冷媒供給管３との接続部４に設けられる。 - 特許庁

In this falling-by-dead-weight type handler by which the device is slid down along an inclined chute to be conveyed to a test head, a tube is embedded in a groove formed in a sliding-down face of the chute, and an inflated tube is pressed to the devices to align the devices.例文帳に追加

傾斜したシュートに沿ってデバイスを滑落させ、テストヘッドへ搬送する自重落下式ハンドラにおいて、シュートの滑落面に形成された溝にチューブを埋設し、膨らませたチューブをデバイスに押し付け、デバイスを整列させる。 - 特許庁

To provide a pusher for an automatic handler capable of applying pressure uniformly even to a device under test on which two or more kinds of semiconductor chips different in thickness are mounted, and capable of controlling its load and surface temperature precisely.例文帳に追加

厚さが相違する複数種類の半導体チップが搭載された被測定デバイスに対しても、均一に圧力を印加することができ、またその荷重や表面温度を正確に制御可能なオートハンドラにおけるプッシャを提供する。 - 特許庁

To provide a positioning and locking device having generality without restricted by shapes of components, a high freedom degree relative to change in a retaining force, high safety in working, and high maintenance and facilitating the exchange of a handler.例文帳に追加

対象部品の形状に限定されずに汎用性があり、保持力の変更に関して自由度が高く、作業時の安全性が高く、ハンドラの交換が容易で保守性も高い部品の位置決め固定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sheet handler capable of maintaining a conveying performance by detecting and automatically coping with the state of a part by a device itself even if a measure such as a part (roller) replacement is delayed and easily allowing a maintenance.例文帳に追加

部品（ローラ）交換などの対応が遅れた場合でも装置自身で部品の状態を検知して自動的に対応して搬送性能を維持することが可能でかつ保守管理が容易な紙葉類取扱装置を提供すること。 - 特許庁

The error handler 38 is configured to detect errors in the slave device and, in response to detection of an error and independent of the master processor, configured to select an error recovery operation based on the detected error and to initiate and perform the selected error recovery operation.例文帳に追加

エラーハンドラ３８は、スレーブ装置内部のエラーを検出し、エラーの検出に応じて、マスタープロセッサから独立して検出したエラーに基づきエラー回復操作を選択し、選択したエラー回復操作を開始し実行する。 - 特許庁

To improve the total performance of a system circuit by shortening the time for which a processor is made to wait to read when the protocol handler using a processor converts the system bus of the processor into an access signal to an I/O device, a memory device or the like, and using the time obtained by the shortening for internal processes for operation or the like.例文帳に追加

プロセッサを用いたプロトコルハンドラにおいて、プロセッサのシステムバスをＩ／Ｏデバイス、メモリデバイス等へのアクセス信号へ変換する際、リードでプロセッサが待たされる時間を短縮し、短縮された時間を演算などの内部処理に使用して、システム回路全体の性能向上を行うこと。 - 特許庁

While the device-test-conducting control device is conducting a predetermined test, the board handler section 30 carries, out of the chamber 40, a tester board 12 whose semiconductor devices 11 have been tested, and sets another tester board 12 in a vocant space in the chamber 40.例文帳に追加

ボードハンドラ部３０は、デバイステスト実施制御装置による所定のテストの実施中において、テストが終了した半導体デバイス１１を搭載したテスタボード１２をチャンバ４０から搬出するとともに、チャンバ４０における空き領域に新たなテスタボード１２をセットする。 - 特許庁

This management device accumulates at least one message from a system, decides processing required by the message, constructs at least one general action handler for processing the message by means of at least one director and at least one related builder, and executes at least one action handler for performing a desired action.例文帳に追加

本発明は、システムから少なくとも１つのメッセージを蓄積し（accumulate）、少なくとも１つのメッセージが必要とする処理を決定し、少なくとも１つのディレクタと少なくとも１つの関連付けられたビルダを使用して少なくとも１つのメッセージを処理するための少なくとも１つの一般アクションハンドラを構築し、少なくとも１つのアクションハンドラを実行して所望のアクションを行う管理装置を対象とする。 - 特許庁

The tray transfer device comprises a handler body, the loading part set on one side of the handler body for supplying a semiconductor element to be tested, the unloading part for receiving a tested semiconductor element in a tray transferred from the loading part, and a tray handling device for removing the semiconductor element left in the tray from the tray, while moving the tray from the loading part to the unloading part.例文帳に追加

ハンドラ本体、テストしようとする半導体素子を供給するために前記ハンドラ本体の一側に設置されるローディング部、前記ローディング部から移送されたトレイに、テスト済み半導体素子を受納するためのアンローディング部、及び前記トレイを前記ローディング部から前記アンローディング部に移動させながら、前記トレイに残存する半導体素子を前記トレイから除去するためのトレイハンドリング装置（Ｔｒａｙ ｈａｎｄｌｉｎｇ ｄｅｖｉｃｅ）を備える構成とした。 - 特許庁

To provide an apparatus and method that ensure a response within a fixed time by effectively shortening interrupt latency, which is the time from the generation of a request for interrupt handling by a device to the invocation of a handler for interrupt handling.例文帳に追加

デバイスが割り込み処理の実行要求をしてから割り込み処理のハンドラーが呼び出されるまでの時間である割り込みレイテンシーを効果的に短縮し、一定時間内の応答を保証することができる装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The self-weight dropping type handler composed so as to naturally drop by the self-weight of the device in a passage for conveying the device includes: a plurality of air jetting openings provided along the passage and spraying up the device in the passage to an upstream side; and an air feed part for feeding the air to the air jetting openings in prescribed order.例文帳に追加

デバイス搬送用の通路内をデバイスの自重により自然落下するように構成された自重落下式ハンドラにおいて、前記通路に沿って設けられ、通路内のデバイスを上流側に吹き上げる複数のエアー噴出口と、これらエアー噴出口に所定の順序でエアーを供給するエアー供給部、を備えたことを特徴とするもの。 - 特許庁

The apparatus for inspecting a semiconductor device includes: a chamber 40 for housing a plurality of tester boards 12 having semiconductor devices 11 mounted thereon; a board handler section 30 for performing an operation involved in transferring the tester boards 12; and a device-test-conducting control device for conducting predetermined tests on semiconductor devices 11 mounted by unit of tester board 12 set inside the chamber 40.例文帳に追加

半導体デバイス１１を搭載したテスタボード１２が複数収容可能なチャンバ４０と、テスタボード１２の移送に関する作業を行うボードハンドラ部３０と、チャンバ４０にセットされたテスタボード１２に搭載された半導体デバイス１１に対して１つのテスタボード単位で所定のテストを実施するデバイステスト実施制御装置とを備えている。 - 特許庁

When any fault occurs during printing, a fault handler processing part 34 sends fault information to a fault information server device 18 and the fault information server device 18 sends a printing process program whose fault is corrected to the printing device 10, referring to a fault data base storage part 56 showing the coordination of faults with the printing process program based on the corrected faults.例文帳に追加

印刷中に障害を発生すると障害ハンドラ処理部３４は、障害情報を障害情報サーバ装置１８へ送り、障害情報サーバ装置１８は障害と障害修正された印刷処理プログラムとが対応された障害データベース格納部５６を参照し、障害修復なされた印刷処理プログラムを印刷装置に送信する。 - 特許庁

The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.例文帳に追加

リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁

To provide a handler device for horizontally conveying a tray capable of shortening the conveying time of a single semiconductor device to a measuring system by shortening the time of the conveying system of the semiconductor devices, generalizing the conveying system unaffected by the outer shapes of the semiconductor devices, and measuring electric characteristics on the tray.例文帳に追加

半導体装置の搬送系の時間短縮と半導体装置の外形に影響されない搬送系の汎用化、およびトレー上で電気的特性を測定することによる測定システムへの半導体装置単体の搬送時間を短縮することができるトレー水平搬送式ハンドラ装置を提供する。 - 特許庁

The device includes a grip part 4 constituted by a through-hole penetrating from top to bottom surfaces at a center part of an outer chassis 1 constituting an outer packaging so as to allow a handler to insert a finger(s) 3 of one hand.例文帳に追加

そして、この投写型映像表示装置は、外装を構成する外装筐体１の中央部に、取扱者が片手の指３を挿入することを可能とするように、天面から底面にかけて貫通する貫通孔からなる取っ手部４を備えている。 - 特許庁

The automatic handler for TAB is provided with a tape winding device 12 freely winding the spacer tape 11a fed out with a TAB tape 1 when the TAB tape 1 is fed out from the supply reel 2A and a tape supplying device 13 freely supplying the spacer tape 11b winded up with the TAB tape 1 when it is wound on the housing reel 2B.例文帳に追加

ＴＡＢテープ１が供給リール２Ａから繰り出される際に一緒に繰り出されるスペーサテープ１１ａを巻取り自在なテープ巻取装置１２と、ＴＡＢテープ１が収容リール２Ｂに巻き取られる際に一緒に巻き取るスペーサテープ１１ｂを供給自在なテープ供給装置１３とを備えるＴＡＢ用オートハンドラ。 - 特許庁

In a printer 200 where a rendering engine 203 applies color matching processing to received image data to have its own device color space, when the image data are a geometrical object with a color change, a GRAD handler 201 interpolates a color change in the geometrical object on the device color space based on the color matching result at a control point of the geometrical object.例文帳に追加

入力された画像データに対して、レンダリングエンジン203で自身のデバイス色空間へのカラーマッチング処理を施すプリンタ200において、前記画像データが色の変化を有する幾何オブジェクトである場合には、GRADハンドラ201において、該幾何オブジェクトの制御ポイントにおける前記カラーマッチング結果に基づき、該幾何オブジェクトにおける色の変化値を前記デバイス色空間上で補間する。 - 特許庁

In a control means 4 of the handler 104A, when the semiconductor device exchange signal 14 is received from the tester 106A, an unloading means 114 is activated, the CCD 108A is retrieved from a tester connecting part 110, and a loading means 112 arranges a new CCD in the tester connecting part 110.例文帳に追加

そして、ハンドラー１０４Ａの制御手段４は、テスター１０６Ａからこの半導体装置交換信号１４を受け取ったとき、アンロード手段１１４を起動してＣＣＤ１０８Ａをテスター接続部１１０から取り出させ、そしてロード手段１１２に新たなＣＣＤをテスター接続部１１０に配置させる。 - 特許庁

The IC automatic handler can hold two or more sockets and includes a contact press for electrically connecting one of the holding sockets with a measuring part of an inspection device, a socket buffer part capable of storing the two or more sockets and a socket conveyance mechanism for conveying the sockets between the contact press and the socket buffer part.例文帳に追加

ＩＣオートハンドラは、２以上のソケットを保持することが可能で、保持したソケットの１つを検査装置の測定部に電気的に接触させるコンタクトプレスと、２以上のソケットを収容可能なソケットバッファ部と、コンタクトプレスとソケットバッファ部との間でソケットを搬送するソケット搬送機構とを備える。 - 特許庁

To provide a working position conveying device for an element conveyor of a test handler of a semiconductor element and a working position confirming method, capable of accurately, quickly and automatically confirming and resetting the working position of the element conveyor to a replacement kit used when the kind of the semiconductor element of a test object is changed.例文帳に追加

テスト対象の半導体素子の種類が変化することにより交替される差替キットに対して素子搬送装置の作業位置を正確且つ迅速で、自動的に認識して再設定できるようにした半導体素子のテストハンドラの素子搬送装置の作業位置認識装置及びこれを用いた作業位置認識方法を提供する。 - 特許庁

The handler includes: a pushing pin 132 for releasing the electronic component from the latch by pushing the latch upward from under the test tray 20; a pushing plate 130 on which the pushing pin 132 is formed; and a pushing plate moving device 140 for moving the pushing plate 130 in the vertical direction by converting the power in the horizontal direction into the power in the vertical direction.例文帳に追加

このハンドラーにおいて、テストトレイ２０ノの下からラッチを上方に押して電子部品をラッチから解放させる押しピン１３２；押しピン１３２が形成される押し板１３０；及び水平方向の動力を垂直方向の動力に変換することによって、押し板１３０を垂直方向に移動させる押し板移動装置１４０を含む。 - 特許庁

A client 131 as the trial management device extracts from a trail file print job log data (handler code, certificate type, certificate serial number, certificate necessity management code, certificate file formation date, and certificate ID used as print job log data), and forms and transmits certificate print data based on the certificate file to a printer 141.例文帳に追加

証跡管理装置としてのクライアント１３１は、証跡ファイルから印刷ジョブログデータ（印刷ジョブログデータとして用いられる取扱者コード、証書種別、証書通し番号、証書要否管理コード、証書ファイル作成日時及び証書ＩＤ）を抽出し、該証書ファイルに基づき証書印刷データを作成してプリンタ１４１に送信する。 - 特許庁

In addition, the handler is provided with a communication part, a data storage part, a data processing part, a display device, a key inputting part, and a control part to provide a function which communicates at least with the IC tags, an exchanged data storing and collating function, and an accumulated data and exchanged data-displaying function.例文帳に追加

非接触ＩＣタグを取り付けた被加工品を、作業者が把持し、所定の装置に運搬するためのハンドラーであって、該ハンドラーに交信部、データ記憶部、データ処理部、表示装置、キー入力装置、制御部を設けて、少なくとも該非接触ＩＣタグとの交信機能、交信したデータの記憶・照合機能、該蓄積したデータおよび交信したデータを表示可能とする機能を設けたことを特徴とするハンドラーである。 - 特許庁

The above problem is solved by using; a logic for CPU performance profiling, which is incorporated in an instruction processor in an information processing device and called a hardware monitor; a function which generates interruption when the number of times of measurement events, provided by the logic, over a prescribed shreshold value are generated; and an interruption processing handler for executing performance profiling for an application program.例文帳に追加

本発明では、情報処理装置内の命令プロセッサに組み込まれている、ハードウェアモニタと呼ばれるCPU性能プロファイリングのための論理、およびその論理で提供されるある一定の閾値を超える回数の測定イベントが発生した際に割込みを発生する機能と、アプリケーションプログラムの性能プロファイリングを実施するための割込み処理ハンドラを用いる事で、上述の課題を解決するものである。 - 特許庁

The semiconductor tester is equipped with an HIFIX adapting condition obtaining means having the HIFIX adapting condition for discriminating the individual kind of the mounted HIFIX in HIFIX as encoded set data and capable of reading the same, and the operation condition corresponding to HIFIX is set to the semiconductor tester main body and an IC handler device on the basis of the code value obtained from the HIFIX adapting condition obtaining means.例文帳に追加

装着されるＨＩＦＩＸの個々の種類を識別するＨＩＦＩＸ適用条件を、コード化された設定情報としてＨＩＦＩＸ内に備え、これを読出しできるＨＩＦＩＸ適用条件取得手段を備え、ＨＩＦＩＸ適用条件取得手段から得られたコード値に基づいて、半導体試験装置本体とＩＣハンドラ装置とに対して、ＨＩＦＩＸに対応した動作条件に設定する、半導体試験装置。 - 特許庁

In this semiconductor testing device provided with a docking block, which is to be connected to a performance board and mounted to a handler base plate or the performance board, and a test socket mounted to the docking block, a docking plate for mounting the test socket is arranged, while a plate type docking base having a fitting hole, into which the docking plate is inserted and fitted, is arranged in the docking block.例文帳に追加

パフォマンスボードに接続されハンドラーベースプレートあるいは前記パフォマンスボードに取付けられるドッキングブロックと、このドッキングブロックに取付けられるテストソケットとを具備する半導体テスティング装置において、前記テストソケットが取付けられるドッキングプレートと、このドッキングプレートが挿入嵌め合わされて取り付けられる嵌合孔を有する板状のドッキングベースとを有するドッキングブロックを具備したことを特徴とする半導体テスティング装置である。 - 特許庁