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evaluation methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 7848件
EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, EVALUATION DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエーハの評価方法及び評価装置並びに半導体ウエーハの製造方法 - 特許庁
SHEET RESISTANCE EVALUATION METHOD OF EPITAXIAL SUBSTRATE例文帳に追加
エピタキシャル基板のシート抵抗評価方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR LIGHTING ENVIRONMENT EVALUATION例文帳に追加
光環境評価方法及びその装置 - 特許庁
ERROR EVALUATION METHOD FOR STRESS INTENSITY FACTOR例文帳に追加
応力拡大係数の誤差評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR GEOTHERMAL FLUID CIRCULATION SYSTEM例文帳に追加
地熱流体循環システムの評価方法 - 特許庁
EVALUATION SUPPORTING METHOD OF VEHICLE DETECTION PROCESSING例文帳に追加
車両検出処理の評価支援方法 - 特許庁
QUANTITATIVE EVALUATION METHOD OF CARDIAC MUSCLE VIABILITY例文帳に追加
心筋生存度の定量評価方法等 - 特許庁
BATTERY EVALUATION METHOD AND BATTERY EVALUATING DEVICE例文帳に追加
電池評価方法及び電池評価装置 - 特許庁
NAVIGATION DEVICE AND EVALUATION VALUE SETTING METHOD例文帳に追加
ナビゲーション装置及び評価値設定方法 - 特許庁
STRENGTH EVALUATION METHOD OF JUNCTION TYPE VALVE SEAT例文帳に追加
接合型バルブシートの強度評価方法 - 特許庁
SPECIMEN EVALUATING DEVICE, SPECIMEN EVALUATION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF THE SPECIMEN EVALUATION DEVICE例文帳に追加
被検体評価装置、被検体評価方法および被検体評価装置の製造方法 - 特許庁
OPTICAL WAVEFORM EVALUATION APPARATUS, OPTICAL WAVEFORM EVALUATION METHOD, OPTICAL WAVEFORM EVALUATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM HAVING OPTICAL WAVEFORM EVALUATION PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加
光波形評価装置、光波形評価方法、光波形評価プログラムおよび光波形評価プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
SOUNDNESS EVALUATION DEVICE, SOUNDNESS REMOTE EVALUATION SYSTEM, SOUNDNESS EVALUATION METHOD AND SOUNDNESS EVALUATION PROGRAM FOR ANTICORROSION-OBJECTIVE PIPELINE例文帳に追加
防食対象パイプラインの健全性評価装置、健全性遠隔評価システム、健全性評価方法、健全性評価プログラム - 特許庁
MEASURING METHOD OF MAGNETIC LEAKAGE FIELD AND EVALUATION METHOD OF ELEMENT例文帳に追加
漏洩磁場の測定方法及び素子評価方法 - 特許庁
SCREENING METHOD OF BLOOD PRESSURE REGULATOR, AND EVALUATION METHOD例文帳に追加
血圧調節剤のスクリーニング方法及び評価方法 - 特許庁
ADJUSTMENT METHOD AND EVALUATION METHOD FOR IMAGING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
結像光学系の調整方法および評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SILICON EPITAXIAL WAFER例文帳に追加
シリコンエピタキシャルウェーハの評価方法及び製造方法 - 特許庁
FLATNESS EVALUATION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加
平坦度評価方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁
CERAMIC FILTER, AND ITS MANUFACTURING METHOD AND EVALUATION METHOD例文帳に追加
セラミックフィルタ、その製造方法、及びその評価方法 - 特許庁
VOID DETECTOR, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND EVALUATION METHOD例文帳に追加
ボイド検出装置、その製造方法及び評価方法 - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD, PATTERN ALIGNMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パターン評価方法、パターン位置合わせ方法およびプログラム - 特許庁
TEST PIECE PREPARATION METHOD AND CORROSION RESISTANCE EVALUATION METHOD例文帳に追加
試験片の作製方法および耐食性評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF RESIST SENSITIVITY, AND METHOD OF MANUFACTURING RESIST例文帳に追加
レジスト感度の評価方法及びレジストの製造方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND TESTING METHOD FOR ION MIGRATION OF CONNECTOR例文帳に追加
コネクタのイオンマイグレーション評価方法及び試験方法 - 特許庁
METHOD OF EVALUATION OF WAFER, AND METHOD OF MANUFACTURING EPITAXIAL WAFER例文帳に追加
ウェーハ評価方法及びエピタキシャルウェーハ製造方法 - 特許庁
SILICON WAFER, QUALITY EVALUATION METHOD AND CONTROL METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
シリコンウェーハ及びその品質評価及び管理方法 - 特許庁
DISPLACEMENT MEASURING METHOD OF WEARING ARTICLE, DISPLAY METHOD OF DISPLACEMENT, FOLLOWABILITY EVALUATION METHOD, AND WEARING COMFORT EVALUATION METHOD例文帳に追加
着用物の変位測定方法、変位の表示方法、追従性評価方法およびはき心地評価方法 - 特許庁
OPTICAL CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD OF OPTICAL SYSTEM, OPTICAL CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD OF PROJECTOR, OPTICAL CHARACTERISTIC EVALUATION DEVICE, AND SCREEN例文帳に追加
光学系の光学特性評価方法、プロジェクタの光学特性評価方法、光学特性評価装置、およびスクリーン - 特許庁
EVALUATION METHOD AND CONTAINER FOR EVALUATION OF MATERIAL FOR SEMICONDUCTOR WAFER STORAGE CONTAINER, AND EVALUATION METHOD OF RESIN MATERIAL例文帳に追加
半導体ウェーハ収納容器用材料の評価方法および評価用容器ならびに樹脂材料の評価方法 - 特許庁
EVALUATION COLLECTING SYSTEM, ELECTRONIC SETTLEMENT DEVICE, MOBILE TERMINAL, METHOD FOR COLLECTING EVALUATION, METHOD FOR PROVIDING RIGHT, AND METHOD AND PROGRAM FOR PROVIDING EVALUATION例文帳に追加
評価収集システム、電子決済装置、携帯端末、評価収集方法、権利付与方法、評価提供方法およびプログラム - 特許庁
GEAR EVALUATION METHOD AND STORAGE MEDIUM MEMORIZING ANALYTICAL PROGRAM OF GEAR EVALUATION AND GEAR EVALUATION DEVICE例文帳に追加
歯車評価方法と歯車評価の解析プログラムを記憶した記憶媒体及び歯車評価装置 - 特許庁
EVALUATION VALUE CALCULATING METHOD, EVALUATION VALUE CALCULATING DEVICE, CONTROL DEVICE OF CONTROL OBJECT AND EVALUATION VALUE CALCULATING PROGRAM例文帳に追加
評価値算出方法、評価値算出装置、制御対象の制御装置及び評価値算出プログラム - 特許庁
EVALUATION INFORMATION COLLECTING DEVICE, EVALUATION INFORMATION COLLECTING SYSTEM, EVALUATION INFORMATION COLLECTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
評価情報収集装置、評価情報収集システム、評価情報収集方法、及びプログラム - 特許庁
SAFETY EVALUATION METHOD FOR RETAINING WALL, SAFETY EVALUATION PROGRAM FOR RETAINING WALL, AND SAFETY EVALUATION SYSTEM FOR RETAINING WALL例文帳に追加
擁壁の安全性評価方法、擁壁の安全性評価プログラム及び擁壁の安全性評価システム - 特許庁
EVALUATION METHOD, EVALUATION DEVICE, AND EVALUATION PROGRAM FOR ULTRAVIOLET LIGHT PREVENTION EFFECT, AND RECORDING MEDIUM WITH THE RECORDED PROGRAM例文帳に追加
紫外線防御効果の評価方法、評価装置、評価プログラム、及び該プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁
JOB OPERATION CONDITION EVALUATION SYSTEM, JOB OPERATION CONDITION EVALUATION METHOD, AND JOB OPERATION CONDITION EVALUATION PROGRAM例文帳に追加
ジョブ稼動状況評価システム、ジョブ稼動状況評価方法及びジョブ稼動状況評価プログラム - 特許庁
To provide an image quality evaluation device, an image quality evaluation method and a program for them, capable of actualizing highly precise image quality evaluation.例文帳に追加
高精度な画質評価を実現する画質評価装置、方法およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁
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