「measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(81ページ目) - Weblio英語例文検索

SINGLE SIDE BAND NOISE INDEX MEASURING METHOD例文帳に追加

単側波帯雑音指数測定方法 - 特許庁

MEASUREMENT SYSTEM, RECEIVER, AND MEASURING METHOD例文帳に追加

計測システム、受信器および計測方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SHEET MATERIAL THICKNESS例文帳に追加

シート材厚み計測方法及び装置 - 特許庁

ALUMINUM MEASURING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

アルミニウム測定方法および測定装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING JITTER例文帳に追加

ジッタ測定装置及びその測定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING THICKNESS例文帳に追加

厚さ測定装置及びその測定方法 - 特許庁

LASER APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING LENGTH例文帳に追加

レーザ測長器及びレーザ測長方法 - 特許庁

MEASURING TREATMENT METHOD FOR INJECTION MOLDING MACHINE例文帳に追加

射出成形機の計量処理方法 - 特許庁

POWER MEASURING METHOD IN WIRELESS SYSTEM例文帳に追加

無線システムにおける電力測定方法 - 特許庁

SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

表面形状測定装置及び方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FILM THICKNESS例文帳に追加

膜厚測定方法、膜厚測定装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING BENDING ANGLE例文帳に追加

曲げ角度測定装置及びその方法 - 特許庁

SURFACE STATE MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

表面状態測定方法及び装置 - 特許庁

GAS TEMPERATURE DISTRIBUTION MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

ガス温度分布測定装置および方法 - 特許庁

FLOW RATE MEASURING METHOD AND FLOWMETER例文帳に追加

流量測定方法及び流量計 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING HERPES SIMPLEX VIRUS ANTIBODY例文帳に追加

単純ヘルプスウイルス抗体の測定方法 - 特許庁

TIME INTERVAL ANALYZER AND MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加

タイムインターバルアナライザ及びその測定方法 - 特許庁

SHAPE MEASURING METHOD, APPEARANCE INSPECTION METHOD, SHAPE MEASURING DEVICE, AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR CHARACTERISTICS OF INFRARED MODULE例文帳に追加

赤外線モジュールの特性測定方法 - 特許庁

DISTANCE MEASURING METHOD USING OBSERVATION RIVET例文帳に追加

観測鋲を用いた距離測定方法 - 特許庁

WHITE INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

白色干渉計測装置及び方法 - 特許庁

GAP THICKNESS MEASURING DEVICE, METHOD FOR MEASURING GAP THICKNESS, AND METHOD FOR MANUFACTURING LIQUID CRYSTAL DEVICE例文帳に追加

ギャップ厚測定装置、ギャップ厚測定方法および液晶装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING INTRACRANIAL PRESSURE AND SYSTEM例文帳に追加

頭蓋内圧の測定方法及びシステム - 特許庁

WIRELESS VIBRATION MEASURING SYSTEM AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

無線型振動計測システム及び方法 - 特許庁

STRESS MEASURING METHOD BY X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

Ｘ線回折による応力測定法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING CORROSION RATE OF METAL MEMBER例文帳に追加

金属部材の腐食率計測方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PITCH OF L/S PATTERN例文帳に追加

Ｌ／Ｓパターンのピッチを測定する方法 - 特許庁

SETTLEMENT MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

沈下測定装置及び沈下測定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING GEOMETRY ACCELERATION例文帳に追加

形状加速度計測装置及び方法 - 特許庁

CONTACTING RESISTANCE MEASURING METHOD FOR GROUNDING BRUSH例文帳に追加

接地ブラシの接触抵抗測定方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD AND APPARATUS FOR LONG MATERIAL例文帳に追加

長尺材の測長方法及び装置 - 特許庁

ACIDITY MEASURING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

酸度測定装置及び酸度測定方法 - 特許庁

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE, REFLECTIVITY MEASURING DEVICE, FOREIGN MATTER INSPECTION DEVICE, REFLECTIVITY MEASURING METHOD AND FOREIGN MATTER INSPECTION METHOD例文帳に追加

膜厚測定装置、反射率測定装置、異物検査装置、反射率測定方法および異物検査方法 - 特許庁

FILM THICKNESS MEASURING METHOD, FILM THICKNESS MEASURING SYSTEM, MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND CONTROL PROGRAM FOR THE THICKNESS MEASURING SYSTEM例文帳に追加

膜厚測定方法、膜厚測定システム、半導体装置の製造方法及び膜厚測定システム制御プログラム - 特許庁

MEASURING PROBE FOR POTENTIOMETRY, METHOD FOR MONITORING OF AGING STATE OF MEASURING PROBE, AND USAGE METHOD FOR THE MEASURING PROBE例文帳に追加

電位差測定用測定プローブ、測定プローブの老化状態を監視する方法及び測定プローブの使用法 - 特許庁

POLARIZATION CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS, POLARIZATION CHARACTERISTIC MEASURING METHOD, EXPOSURE APPARATUS, MEASURING MEMBER, AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

偏光特性計測装置、偏光特性計測方法、露光装置、計測用部材、およびデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD FOR SELECTING DIMENSION MEASURING POSITION OF LSI PATTERN, METHOD FOR PREPARING DIMENSION MEASURING INFORMATION, AND METHOD FOR DECIDING DIMENSION MEASURING ORDER例文帳に追加

ＬＳＩパターンの寸法測定箇所選定方法、寸法測定情報作成手法および寸法測定順番決定方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING OPTICAL PATH LENGTH, DEVICE AND METHOD FOR MEASURING THICKNESS, AND DEVICE AND METHOD FOR MEASURING INCLINED COMPONENT OF REFRACTIVE INDEX DISTRIBUTION例文帳に追加

光路長測定装置及び方法、厚さ測定装置及び方法、屈折率分布傾斜成分測定装置及び方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING LEVEL DIFFERENCE, AND ETCHING METHOD例文帳に追加

段差測定方法とその装置およびエッチング方法 - 特許庁

ABERRATION MEASURING METHOD, EXPOSURE EQUIPMENT, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

収差計測方法、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

SURFACE FORM MEASURING METHOD AND PROGRAM OF ITS METHOD例文帳に追加

表面形状計測方法及びその方法のプログラム - 特許庁

EXPOSURE MASK, FOCUS MEASURING METHOD, AND PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加

露光マスク、フォーカス測定方法及びパターン形成方法 - 特許庁

DISTANCE MEASURING APPARATUS AND METHOD, AND IMAGING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

測距装置、測距方法および撮像装置、撮像方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND APPARATUS, AND EXPOSURE METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

計測方法及び装置、並びに露光方法及び装置 - 特許庁

PARALLELISM-MEASURING DEVICE AND METHOD AND ADJUSTMENT METHOD例文帳に追加

平行度測定装置、測定方法、及び調整方法 - 特許庁