「measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(79ページ目) - Weblio英語例文検索

FILM THICKNESS GAGE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS例文帳に追加

膜厚計及び膜厚の測定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING PLATE THICKNESS例文帳に追加

板厚測定装置および測定方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING LIGHT TRANSMITTANCE, AND SYSTEM例文帳に追加

光透過率測定方法および装置 - 特許庁

PLANAR SHAPE MEASURING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

平面形状測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING VENTILATION AMOUNT IN INDOOR SPACE例文帳に追加

室内空間の換気量測定方法 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL IMAGE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

三次元画像計測装置及び方法 - 特許庁

DETECTION AND MEASURING METHOD, AND DEVICE例文帳に追加

検出及び測定方法並びに装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING KINETIC SHAPE例文帳に追加

動的形状測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BURST BIT RATE例文帳に追加

バースト・ビット・レート測定方法及び装置 - 特許庁

BODY TRUNK FAT MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

体幹部脂肪測定方法及び装置 - 特許庁

CAPACITY SENSOR AND CAPACITY MEASURING METHOD例文帳に追加

容量センサー及び容量測定方法 - 特許庁

RESIDUAL STRESS MEASURING METHOD AND INSTRUMENT例文帳に追加

残留応力測定方法及び装置 - 特許庁

RESOLUTION MEASURING METHOD, APPARATUS, AND PROGRAM例文帳に追加

解像度測定方法、装置及びプログラム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品の測定システムおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CONCENTRATION OF Cu IN SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウェーハのＣｕ濃度測定方法 - 特許庁

LAUGH MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

笑い測定方法及び笑い測定装置 - 特許庁

PORE SIZE MEASURING METHOD FOR POROUS FILTER例文帳に追加

多孔質濾過体の細孔径測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DRIVING MEASURING TERMINAL例文帳に追加

測定端子の駆動方法および装置 - 特許庁

STRAIN DISTRIBUTION MEASURING METHOD OF GROUND/BASE ROCK例文帳に追加

地盤・岩盤の歪み分布計測方法 - 特許庁

POSITRON LIFE-MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

陽電子寿命測定方法及び装置 - 特許庁

STANDING WAVE RADAR AND DISTANCE MEASURING METHOD例文帳に追加

定在波レーダおよび距離測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PHYSICAL PROPERTY OF SAMPLE例文帳に追加

試料の物理的性質の測定方法 - 特許庁

OPTICAL AMPLIFYING DEVICE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

光増幅装置及びその測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING RESIDUAL STRESS例文帳に追加

残留応力測定方法及び装置 - 特許庁

SHAPE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

形状測定装置，形状測定方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING COORDINATE例文帳に追加

座標計測装置と座標計測方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MINUTE INSIDE DIAMETER例文帳に追加

微小内径測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CHARACTERISTIC VALUE例文帳に追加

特性値計測方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING NETWORK DELAY例文帳に追加

網遅延測定方法およびそのシステム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING GLUCOSE例文帳に追加

グルコースの測定方法及び測定装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING IMPURITY CONCENTRATION PROFILE AND METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF THIN FILM MATERIAL例文帳に追加

不純物濃度プロファイル測定方法および薄膜試料の膜厚測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING VOLUME OF CELL ON GRAVURE PLATE例文帳に追加

グラビア版のセルの容積測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING PITCH CIRCLE DIAMETER例文帳に追加

ピッチ円径測定方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND KIT FOR MEASURING SALIVA SUGAR例文帳に追加

唾液糖測定方法および測定キット - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL COORDINATE MEASURING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

三次元座標測定装置及び方法 - 特許庁

MEASURING CELL AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

測定用セルおよびその製造方法 - 特許庁

DISTANCE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

距離測定装置、及び距離測定方法 - 特許庁

DEFOCUSING AMOUNT MEASURING METHOD OF TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)例文帳に追加

ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 - 特許庁

METHOD FOR FIXING MAGNET OF POSITION MEASURING DEVICE例文帳に追加

位置測定装置の磁石固定方法 - 特許庁

PATTERN MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン計測装置及びパターン計測方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING LIQUID DENSITY例文帳に追加

液体密度の測定方法及び装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING POSITION/DIRECTION USING MAGNETIC MARKER, AND POSITION/DIRECTION MEASURING METHOD SYSTEM例文帳に追加

磁気マーカを用いた位置・方向計測方法および位置・方向計測方法システム - 特許庁

ANGULAR VELOCITY SENSOR, AND ANGULAR VELOCITY MEASURING METHOD例文帳に追加

角速度センサと角速度計測方法 - 特許庁

VISION FUNCTION MEASURING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

視機能測定装置および測定方法 - 特許庁

LEVEL MEASURING AUXILIARY EQUIPMENT AND ITS METHOD例文帳に追加

水平測定補助器具及びその方法 - 特許庁