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measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 28057件
INTEGRATING SPHERE DEVICE AND LIGHT MEASURING METHOD例文帳に追加
積分球装置及び光測定方法 - 特許庁
OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
光学特性測定装置および該方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING HEMOGLOBIN例文帳に追加
ヘモグロビン測定方法および測定装置 - 特許庁
ADSORPTION/ DESORPTION AMOUNT MEASURING METHOD AND INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加
吸脱着量測定方法及び装置 - 特許庁
MEASURING AND DISCHARGING DEVICE, AND DISCHARGING METHOD例文帳に追加
計量吐出装置および吐出方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING INSULATION RESISTANCE例文帳に追加
絶縁抵抗測定方法および装置 - 特許庁
METHOD OF MEASURING LIPID IN SPECIFIC LIPOPROTEIN例文帳に追加
特定リポ蛋白中の脂質測定法 - 特許庁
ONLINE FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加
オンライン膜厚測定方法とその装置 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING MEASURING CONTAINER FOR DIALYSIS例文帳に追加
透析用計量容器の製造方法 - 特許庁
DISPLAY TIME MEASURING SYSTEM, DISPLAY TIME MEASURING METHOD, RETRIEVAL SYSTEM, AND RETRIEVAL METHOD例文帳に追加
表示時間測定システム、表示時間測定方法、検索システムおよび検索方法 - 特許庁
WAVE MOTION PROPAGATION SPEED MEASURING METHOD OF TROLLEY WIRE, AND TENSION MEASURING METHOD OF TROLLEY WIRE例文帳に追加
トロリ線の波動伝播速度測定方法及びトロリ線の張力測定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING PROTON CONDUCTIVITY例文帳に追加
プロトン伝導度測定方法および装置 - 特許庁
CONDUCTIVITY MEASURING METHOD OF ELECTROLYTE MEMBRANE例文帳に追加
電解質膜の導電率測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING DOUBLE REFRACTION LIQUID CRYSTAL AND METHOD OF MEASURING CELL GAP OF LIQUID CRYSTAL CELL例文帳に追加
液晶の複屈折測定方法および液晶セルのセルギャップ測定方法 - 特許庁
INTERFEROMETERS, AND METHOD OF MEASURING SHAPE例文帳に追加
干渉計、及び形状の測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF GOLD COLLOID AGGLUTINATION REACTION例文帳に追加
金コロイド凝集反応の測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING FLATNESS OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエハーの平坦度測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING CONCENTRATION OF RESIDUAL DISPERSANT例文帳に追加
残留分散剤の濃度測定方法 - 特許庁
OPTICAL ISOMER SENSOR AND MEASURING METHOD例文帳に追加
光学異性体センサー及び測定方法 - 特許庁
CO SENSOR AND CO CONCENTRATION MEASURING METHOD例文帳に追加
ＣＯセンサ及びＣＯ濃度測定方法 - 特許庁
TOMOGRAPHY APPARATUS AND TOMOGRAPHY MEASURING METHOD例文帳に追加
トモグラフィ装置及びトモグラフィ計測方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
半導体装置およびその測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING NEUTRALIZATION DEGREE OF IONOMER RESIN例文帳に追加
アイオノマー樹脂の中和度測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DISPLACEMENT USING LASER LIGHT例文帳に追加
レーザー光を用いた変位測定方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF HEMOGLOBIN CONCENTRATION IN BLOOD例文帳に追加
血液中のヘモグロビン濃度測定方法 - 特許庁
DETECTION METHOD, MEMBRANE THICKNESS MEASURING METHOD, DETECTING DEVICE, MEMBRANE THICKNESS MEASURING DEVICE AND POLISHING DEVICE例文帳に追加
検知方法、膜厚計測方法、検知装置、膜厚計測装置、及び研磨装置 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING TOTAL PHOSPHORUS例文帳に追加
全リンの測定方法及び測定装置 - 特許庁
PRECISION MANAGEMENT METHOD FOR MOISTURE MEASURING DEVICE例文帳に追加
水分測定装置の精度管理方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF INPUT ENERGY OF EQUIPMENT APPARATUS, AND MEASURING METHOD OF STEAM FLOW RATE例文帳に追加
設備機器の入力エネルギーの計測方法及び蒸気流量の計測方法 - 特許庁
FREQUENCY SELECTING METHOD AND QUENCH DEPTH MEASURING METHOD IN MEASURING EDDY CURRENT例文帳に追加
渦流測定における周波数選定方法および焼き入れ深さ測定方法 - 特許庁
ABERRATION MEASURING METHOD, FOCUS MEASURING METHOD, AND MASK FOR TEST OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
投影光学系の収差測定方法とフォーカス測定方法及びテスト用マスク - 特許庁
RIM SLIP AMOUNT MEASURING METHOD, AND RIM SLIP AMOUNT MEASURING DEVICE USING METHOD例文帳に追加
リム滑り量の測定方法およびそれを用いられるリム滑り量測定装置 - 特許庁
GROOVE WALL MEASURING METHOD FOR UNDERGROUND CONTINUOUS WALL例文帳に追加
地中連続壁の溝壁測定方法 - 特許庁
ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE WAVE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加
電磁妨害波測定装置及び方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING STATE OF LASER ANNEALING APPARATUS例文帳に追加
レーザアニール装置の状態測定方法 - 特許庁
CIRCUIT INSPECTION DEVICE, CIRCUIT INSPECTION METHOD, RESISTANCE MEASURING INSTRUMENT, AND RESISTANCE MEASURING METHOD例文帳に追加
回路検査装置、回路検査方法、抵抗測定装置および抵抗測定方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING NMR SPECTRUM OF RESIN例文帳に追加
樹脂のＮＭＲスペクトルの測定方法 - 特許庁
RESIDUAL STRESS MEASURING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
残留応力測定装置及び方法 - 特許庁
RESIDUAL STRESS MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
残留応力測定方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING PROPAGATION DELAY TIME OF ULTRASONIC WAVE例文帳に追加
超音波の伝播時間測定方法 - 特許庁
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