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memory methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14053件
FERROELECTRIC MEMORY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
強誘電体メモリ装置及びその製造方法 - 特許庁
METHOD OF ERASING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置の消去方法 - 特許庁
MEMORY CARD WITH PROTECTION FUNCTION, AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加
保護機能付きメモリカードおよびその制御方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置の製造方法 - 特許庁
NONVOLATILE MEMORY AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加
不揮発性メモリの製造方法と不揮発性メモリ - 特許庁
ACCESSING METHOD FOR SHARED MEMORY AND DATA PROCESSOR例文帳に追加
共有メモリのアクセス方法及びデータ処理装置 - 特許庁
MEMORY CELL, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DIODE例文帳に追加
メモリセルおよび半導体ダイオ−ドの製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置、およびそのデータ処理方法 - 特許庁
TRANSISTOR, MEMORY CELL ARRAY AND METHOD OF MANUFACTURING TRANSISTOR例文帳に追加
トランジスタ、メモリセルアレイ、及びトランジスタの製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND DATA-BUS CONTROL METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置及びデ—タバス制御方法 - 特許庁
CONTROL UNIT, STORAGE SYSTEM, AND MEMORY CONTROL METHOD例文帳に追加
制御装置,ストレージシステム,及びメモリ制御方法 - 特許庁
DATA MANAGING METHOD FOR ASYNCHRONOUS I/O CACHE MEMORY例文帳に追加
非同期I/Oキャッシュメモリ内のデ—タ管理方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, TEST SYSTEM AND TEST METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置、テストシステム及びテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路およびメモリのテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS WAFER TESTING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置およびそのウェハーテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加
半導体メモリ装置及びそのデータ処理方法 - 特許庁
METHOD FOR SUPPORTING MULTIPLE WIDTH MEMORY SUBSYSTEM例文帳に追加
マルチ幅のメモリ・サブシステムをサポートするための方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE WITH CAPACITOR例文帳に追加
キャパシタを含む半導体メモリ素子製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TIMING CONTROL METHOD例文帳に追加
半導体メモリ装置とそのタイミング制御方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS DATA MASKING METHOD例文帳に追加
半導体メモリ装置及びそのデータマスキング方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND DATA BUS RESET METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置及びデータバスのリセット方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS READ ACCESS METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置及びそのリードアクセス方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS READ-OUT METHOD例文帳に追加
半導体メモリ装置及びそれの読み出し方法 - 特許庁
INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, PROGRAM AND MEMORY MEDIUM例文帳に追加
検査装置、検査方法、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME例文帳に追加
半導体記憶装置およびその製造方法 - 特許庁
MEMORY SYSTEM AND METHOD FOR PROVIDING PERFORMANCE MONITORING例文帳に追加
パフォーマンス・モニタリングを提供するメモリ・システム・方法 - 特許庁
PRODUCTION METHOD OF NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置の製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING MEMORY ACCESS例文帳に追加
メモリアクセスを制御するための方法および装置 - 特許庁
DATA PROCESSOR AND SHARED MEMORY ACCESSING METHOD例文帳に追加
データ処理装置及び共有メモリのアクセス方法 - 特許庁
TEST ARRAY AND METHOD FOR TESTING MEMORY ARRAY例文帳に追加
メモリアレイをテストするためのテストアレイおよび方法 - 特許庁
FERROELECTRIC MEMORY ELEMENT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加
強誘電体メモリ素子及びその製造方法 - 特許庁
CACHE MANAGEMENT DEVICE AND CACHE MEMORY MANAGEMENT METHOD例文帳に追加
キャッシュ管理装置およびキャッシュメモリ管理方法 - 特許庁
RESISTANCE VARIABLE MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME例文帳に追加
可変抵抗メモリー素子及びその製造方法 - 特許庁
METHOD FOR DRIVING MEMORY DISPLAY OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT例文帳に追加
液晶表示素子のメモリー表示駆動方法 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING SAME例文帳に追加
不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND DATA READ-OUT METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置およびデータ読み出し方法 - 特許庁
CACHE MEMORY TEST SYSTEM, TEST METHOD AND TEST PROGRAM例文帳に追加
キャッシュメモリ試験システム、試験方法、試験プログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD RELATING IT例文帳に追加
半導体メモリ装置及びそれに関連する方法 - 特許庁
PROGRAMMING METHOD FOR NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置のプログラム方法 - 特許庁
In the present invention which provides the memory and the operation method, memory banks of the memory are divided into a plurality of memory groups, and each memory group has an independent driving electric power for providing an operating voltage to the corresponding memory bank out of the memory groups.例文帳に追加
この発明は、メモリーのメモリーバンクを複数のメモリーグループに分け、そのうち、各メモリーグループがメモリーグループ中の対応するメモリーバンクに対して操作電圧を提供するための独立した駆動電力を有する。 - 特許庁
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