「method of characteristics」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SIMULATION METHOD OF CHARACTERISTICS DEGRADATION FOR PMOS TRANSISTOR例文帳に追加

ＰＭＯＳトランジスタの特性劣化シミュレーション方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING CHARACTERISTICS THEREOF例文帳に追加

半導体素子及びその特性検査方法 - 特許庁

MEASUREMENT EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR SURFACE LAYER CHARACTERISTICS例文帳に追加

半導体表面層特性の測定評価方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR STRESS RELAXATION RESISTANCE CHARACTERISTICS OF COPPER ALLOY MATERIALS例文帳に追加

銅合金材の耐応力緩和特性評価方法 - 特許庁

POSITIVE CHARACTERISTICS THERMISTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

正特性サーミスタ装置及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING CHARACTERISTICS OF OFDM SIGNAL例文帳に追加

ＯＦＤＭ信号特性の推定方法 - 特許庁

SHIELD CHARACTERISTICS MEASURING METHOD OF ANTENNA SHIELDED LINE例文帳に追加

アンテナシールド線のシールド特性測定方法 - 特許庁

TREATMENT METHOD TO IMPROVE LOW TEMPERATURE CHARACTERISTICS OF LITHIUM SECONDARY CELL例文帳に追加

リチウム二次電池の低温特性改善処理方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING MAGNETIC CHARACTERISTICS OF PERMANENT MAGNET例文帳に追加

永久磁石の磁気特性評価方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PREDICTING FIBER ORIENTATION CHARACTERISTICS OF PAPER例文帳に追加

紙の繊維配向特性を予測する方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板の電気的特性の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING TEMPERATURE CHARACTERISTICS OF CRYSTAL OSCILLATOR例文帳に追加

水晶発振器の温度特性補正方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT OF DISCHARGING CHARACTERISTICS例文帳に追加

放電特性測定装置および放電特性測定方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の特性測定装置および特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR CHANGING CHARACTERISTICS OF VEGETABLE FIBER例文帳に追加

植物繊維の特性を変える方法 - 特許庁

EVALUATING METHOD FOR PRESS FORMING CHARACTERISTICS OF STEEL SHEET例文帳に追加

鋼板のプレス成形性の評価方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING CHARACTERISTICS OF MULTILAYER OPTICAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加

多層光記録媒体の特性評価方法 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR INSPECTING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカードおよび半導体装置の特性検査方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING DENSITY CHARACTERISTICS OF IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

画像形成装置の濃度特性試験方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SHAFT WITH HOLE EXCELLENT IN FATIGUE CHARACTERISTICS例文帳に追加

疲労特性に優れた穴付きシャフトの製造方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING ORGANIC MATERIAL CHARACTERISTICS, AND APPARATUS例文帳に追加

有機材料特性の解析方法および装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の特性測定装置およびその測定方法 - 特許庁

METHOD FOR CHARACTERISTICS INSPECTION OF PLASMA DISPLAY PANEL例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの特性検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF RADIO FREQUENCY ENERGY例文帳に追加

無線周波エネルギー特性測定装置及び方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR CHARACTERISTICS OF NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリの特性検査方法 - 特許庁

POSITIONAL RESOLVING AND EVALUATION METHOD OF SURFACE CHARACTERISTICS AND ITS APPARATUS例文帳に追加

表面特性の位置分解評価方法とその装置 - 特許庁

METHOD FOR EXTRACTING CHARACTERISTICS OF VIDEO SEQUENCE例文帳に追加

ビデオシ—ケンスの特徴抽出方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING VI CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハのＶＩ特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MODIFYING MECHANICAL CHARACTERISTICS OF POLYMER PARTICLES例文帳に追加

ポリマー粒子の機械的特性の改良方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DROPPING CHARACTERISTICS OF SPOTTING DEVICE例文帳に追加

スポッティング装置の滴下特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR IMPARTING CURLING CHARACTERISTICS TO LID OF LIDDED CONTAINER例文帳に追加

蓋体付き容器の蓋体へのカール特性付与方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATION COMPACTION CHARACTERISTICS OF STIFF CONCRETE例文帳に追加

硬練りコンクリートにおける締固め特性の評価方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DECISION OF BATTERY CHARACTERISTICS例文帳に追加

電池特性判断方法及び電池特性判断装置 - 特許庁

DETECTING METHOD AND DEVICE OF BATTERY CHARACTERISTICS例文帳に追加

電池特性の検出方法及び検出装置 - 特許庁

FREQUENCY CHARACTERISTICS DETERMINATION METHOD OF DIP FILTER例文帳に追加

ディップフィルタの周波数特性決定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF CERAMIC HEATER OR GLOW PLUG例文帳に追加

セラミックヒータ又はグロープラグの特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハの電気的特性の測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF COMPOUND PIEZOELECTRIC COMPONENTS例文帳に追加

複合圧電部品の特性測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING FATIGUE CHARACTERISTICS OF FERROELECTRIC SUBSTANCE AND DEVICE例文帳に追加

強誘電体の疲労特性測定方法及び装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING OPTICAL CHARACTERISTICS OF OBJECTS例文帳に追加

物体の光学特性を測定するための装置および方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF ESTIMATING PROPAGATION CHARACTERISTICS例文帳に追加

伝搬特性推定方法、及び伝搬特性推定装置 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR SIMULATING RECEPTION CHARACTERISTICS OF RADIO WAVES例文帳に追加

電波の受信特性をシミュレートする装置および方法 - 特許庁

EVALUATING METHOD FOR CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の特性評価方法 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの特性制御方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT OF POLARIZATION CHARACTERISTICS例文帳に追加

偏光特性測定装置及び偏光特性測定方法 - 特許庁