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multitestを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
To provide a test system for a semiconductor integrated circuit which can respond to a single test or a multitest of a DUT regardless of its pin number, and can reduce a time loss at the multitest by maximally improving utilization efficiency of tester resources.例文帳に追加
ピン数に拘わらずＤＵＴの単一或いはマルチテストに対応可能で、テスタリソースの利用効率を最大限に高めてマルチテスト時の時間ロスを低減可能な半導体集積回路テストシステムを提供する。 - 特許庁
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