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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > polarizing interferometerに関連した英語例文

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polarizing interferometerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 8



例文

These optical surfaces permit attachment of rhomboid assemblies directly to optical elements such as a polarizing beam-splitter (PBS) in a multi-axis interferometer.例文帳に追加

これらの光学表面により、偏菱形アセンブリを、多軸干渉計の偏光ビームスプリッタ(PBS)のような光学部品に直接取り付けることができる。 - 特許庁

To provide a system equipped with an interferometer including a main assembly which has polarizing beam splitter interfaces displaced in two lateral directions.例文帳に追加

2つの横方向に変位している偏光ビーム・スプリッタ界面を有する主アセンブリを含む干渉計を備えた装置を提供すること。 - 特許庁

Since the interferometer is so configured that the reference beam f_1 and the measuring beam f_2 pass through the paths of the same length in the interferometer 45, they are influenced equally by the thermal expansion of the polarizing beam splitter that results from temperature changes, their influence can be cancelled.例文帳に追加

基準ビームf_1、測定ビームf_2は、干渉計45内において同じ長さの経路を通るように構成されており、温度変化に伴う偏光ビームスプリッタの熱膨張の影響を等しく受けるので、その影響を相殺できる。 - 特許庁

To determine the amplitude and the phase spectral of an optical device without performing the adjustment to make the reference light of an interferometer be agreed with a polarizing condition of the signal light.例文帳に追加

干渉計の参照光と信号光の偏光状態を一致させるための調整を行うことなく、光デバイスの振幅及び位相スペクトルを求める。 - 特許庁

例文

To easily provide a result of shape measurement that is not affected by an error of phase shift occurring when phase shift in an interferometer is performed optically using a plurality of polarizing plates.例文帳に追加

干渉計における位相シフトを複数の偏光板を用いて光学的に行う場合に生じる位相シフトの誤差の影響を受けない形状測定の結果を簡易に得る。 - 特許庁


例文

Generally in one mode, this is the system equipped with the interferometer including the main assembly which has polarizing beam splitter interfaces displaced in two lateral directions.例文帳に追加

一般的に、一態様においては、本発明は、2つの横方向に変位している偏光ビーム・スプリッタ界面を有する主アセンブリを含む干渉計を備える装置を特徴とする。 - 特許庁

In the interferometer, a phase shift imaging device 3000 is provided with a multiphase shift generation mechanism 1400 containing high density phase shift array elements 410, 420, a beam splitter 310, and two polarizing elements 510a, 510b.例文帳に追加

移相撮像素子3000は、多重移相発生機構1400を備え、多重移相発生機構1400は、高密度移相アレイ素子410,420、ビームスプリッタ310および2つの偏光素子510a,510bを含む。 - 特許庁

例文

By carrying out combined measurement of an interferometer and a polarization meter for an objective device under test, the uncertainty of relative phase in property solution of device performed only by a polarization meter or a polarizing analyzer is eliminated.例文帳に追加

被測定対象デバイスについて干渉計及び偏光計の組み合わせ測定を行うことにより、偏光計のみまたは偏光分析器のみによって実施されるデバイスの特性解明における相対的な位相の不確実性が除去される。 - 特許庁

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