「reference test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

A pigment whose contrast ratio measured by a contrast ratio test paper method stipulated by a JIS K5101 is 10-15% is incorporated as a colorant in addition to a binder resin, and ≥50 capacity % by taking the total amount of the pigment as a reference is occupied by pigment particles whose Feret's circle equivalent diameter is ≥0.3 μm.例文帳に追加

バインダ樹脂に追加して、ＪＩＳ Ｋ５１０１に規定される隠蔽率試験紙法によって測定される隠蔽度が１０〜５０％である顔料を着色剤として含有するとともに、顔料の全量を基準にして５０容量％以上を、フェレ円相当径が０．３μｍ以上の顔料粒子が占有しているように構成する。 - 特許庁

The method for predicting powder fluidity relates in advance a maximum self-supporting height per unit area by a self-support test and a measured flow function (FF) about a plurality of given powders, and estimates the flow function of a certain powder from the maximum self-supporting height of the powder, in reference to the relations, to predict the fluidity of the powder.例文帳に追加

粉体の流動性を予測する方法であって、複数の所定の粉体について、自立試験における単位面積当りの自立最高高さと、実測したフローファンクション（ＦＦ）とを前もって関連づけ、ある粉体の自立最高高さからその粉体のフローファンクションを、その関連づけに基いて推定することにより、その粉体の流動性を予測する。 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization to be verified on a testing disk obtained by generating a well- known physical deficiency on an empty testing disk and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization to be verified to provide the test result.例文帳に追加

空テストディスク上に周知の物理的な欠陥を生成することによって得られるテストディスク上に検証する初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証する初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

To provide an address generating circuit which can generate plural kinds of address for a reference address, an address generating device which can generate simultaneously and easily different addresses by using plural stages of this address generating circuit, and an address generating method, with respect to an address generating circuit and the like generating an address for a test device of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験装置に対するアドレスを発生するアドレス発生回路等に関して、基準アドレスに対して、複数種類のアドレスを発生することができるアドレス発生回路、および、このアドレス発生回路を複数段使用することにより、異なるアドレスを同時に、かつ容易に発生させることができるアドレス発生装置、およびアドレス発生方法を提供することである。 - 特許庁